Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах

 

Изобретение касается контроля готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано для раздельного обнаружения кратковременных и постоянных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах. Цель изобретения - расширение функцио нальных возможностей. Устройство содержит генератор 1 напряжений, блок 2 подключения, блок 3 обнаружения пострянных неисправностей, выполненный в виде последовательно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, блок 4 обнаружения кратковременных неисправностей , выполненный в виде фильтра высоких частот, блоки 5 и 6 регистрации , шины 8 и 10, проверяемый диод 9, резисторы 11 и 17, шины 12, 13, 15 и 16 для подключения диодной матрицы 14, переключатель 18. Предложенное выполнение генератора 1 напряжений, блока 3 обиаружения постоянных неисправностей и блока 2 подключения позволяет контролировать как полупроводниковые диоды, так и мостовые диодные матрицы. 1 ил. i (Л Э) ел

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) д1) 4 G 01 R 31/26 (21) 3641128/24-21 (22) 31.08.83 (46) 15.02.86. Бюл. У 6 (72) А.М.Базелянский (53) 621.382.2 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1(673940, кл. G 01 R 31/26, 1978.

Авторское свидетельство СССР

1) 277954, кл . G 01 R 31/26, 1969. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ

КОРОТКИХ ЗАИЫКАНИЙ И ОБРЫВОВ В

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ (57) Изобретение касается контроля готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано для раздельного обнаружения кратковременных и постоянных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах. Цель изобретения - расширение функцио- ° нальных возможностей. Устройство содержит генератор 1 напряжений, блок 2 подключения, блок 3 обнаружения постоянных неисправностей, выполненный в виде последовательно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, блок 4 обнаружения кратковременных неисправностей, выполненный в виде фильтра высоких частот„ блоки 5 и 6 регис трации, шины 8 и 10, проверяемый диод 9, резисторы 11 и 17, шины

12, 13, 15 и 16 для подключения диодной матрицы 14, переключатель

18. Предложенное выполнение гене» ратора 1 напряжений, блока 3 обнаружения постоянных неисправностей и блока 2 подключения позволяет контролировать как полупроводниковые диоды, так и мостовые диодные матрицы. 1 ил .

2S

ЗО

1 12 l 1

Изобретение относится к контролю готовых полупроводниковых приборов и может быть использовано для раздельного обнаружения кратковременных и постоянных коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых диодах и диодных матрицах.

Целью изобретения является рас ширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения контро- 1п ля как полупроводниковых диодов, так и мостовых диодных матриц, На чертеже представлена функциональная схема устройства для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах.

Устройство содержит генератор 1 напряжения, первый, второй, третий и четвертый выходы которого соединены соответственно с первым, вторым, третьим и четвертым входами блока 2 подключения, выход которого соединен с входами блоков 3 и обнаружения соответственно ностоян ных и кратковременных неисправностей выходы которых соединены с входами соответственно первого и второго блоков 5 и 6 регистрации. При этом генератор 1 выполнен в виде сетевого трансформатора 7, выводы первой вторичной обмотки которого соот» ветствуют первому и второму выходам генератора 1, а выводы второй вто ричной обмотки — третьему и четвертому его выходам. Блок 2 подключения выполнен в виде первой шины 8 для подключения проверяемого диода 9, . которая соединена с первым входом блока подключения, второй вход которого соединен с общей шиной устройства и с второй шиной 10 для под ключ ения пр оверяемо го диода через первый резистор 11. Третий и четвертый входы блока подключения соединены соответственно с третьей и четвертой шинами 12 и 13 для подключения диодной матрицы 14, пятая и шестая шины 15 и 16 для подключения диодной матрицы соединены соот ветственно с общей шиной устройства непосредственно и через второй резистор 17. Вторая шина 10 и шестая шина 16 соединены соответственно с первым и вторым входами переключателя 18, выход которого соединен с выходом блока 2 подключения, Блок

3 обнаружения постоянных неисправностей выполнен в виде последова675 2 тельно соединенных фильтра 19 низких частот и триггера 20, а блок 4 обна<4 ружения кратковременных неисправностей выполнен в виде фильтра вы соких частот.

Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах работает следующим образом, Постоянные короткие замыкания и обрывы однаруживаются по интегральному эффекту, возникающему при работе проверяемых диодов или мостовой диодной матрицы в схеме выпрямителя с фильтром низких частот (ФНЧ) . В случае постоянных обрывов и или коротких замыканий постоянное напряжение на выходе ФНЧ меньше номинального значения Оц, которое равно

0,319 О, для диода и 0,638 U для диодной матрицы, где 11< и Oq - амплитуды напряжения соответственно на первой и второй обмотках сетевого трансформатора 7. Эти обмотки выполнены так, чтобы при исправном диоде 9 или диодной матрице 14 напряжения на выходе ФНЧ 19 были одинаковыми . Переключатель 18 позволяет переключать входы блоков

3 и 4 с первого на второй резисторы, что обеспечивает возможность контроля одновременно установленных в блоке проверяемых диода 9 и диодной матрицы 14.

Наличие постоянных кратковременных замыканий или обрывов в диоде приводит к отсутствию напряжения на выходе ФНЧ 19 дпя диода.

При проверке мостовой диодной матрицы 14 с постоянными короткими замыканиями или обрывами напряжение на выходе ФНЧ 19 равно либо О, либо

0,319 U, в зависимости от количества и сочетаний неисправных диодов в мостовой диодной матрице 14. Час тота среза ФНЧ должна быть ниже частоты сети Рс, и эа полосой пропускания его входное сопротивление не должно шунтировать переключаемую цепь и вход фильтра 4.

С выхода ФНЧ 19 постоянное напря жение поступает на триггер, поро говое напряжение которого имеет низкую величину, так что при исправном диоде или диодной матрице .триггер срабатывает и блок регистрации регистрирует исправность прибора.

При наличии постоянных коротких

Составитель В.Карпов

Редактор И.Рыбченко Техред А.Кикемезей Корректор Т.Колб

Заказ 637/50 Тнр аж 730 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, .Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 замыканий или обрывов в проверяемом приборе триггер не переходит в новое состояние и регистрируется несправность прибора, Блок 5 регистрации может быть выполнен, например, в виде лампы накаливания .

Определение кратковременных коротких замыканий и обрывов производится по импульсам, выделяемым на выходе фильтра 4 высоких частот, частота среза которого выбирается из условия F ® 10 F для исключения гармоник выпрямпенного сигнала.

Таким образом, на выходе фильтра появляются только импульс, вызванные напичием кратковременных обрывов или коротких замыкания в проверяемых приборах. Эти импульсы регистрируются в блоке 6, который может быть выполнен в виде счетчика импульсов, например прибора типа 43-36.

Формул а из о бр ет ения,Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах, содержащее первый и второй блоки регистрации, входы которых соединены с выходами соответственно блока обнаружения постоянных неисправностей и блока обнаружения кратковременных неисправностей, входы которых соединены с выходами блока подключения, первый и второй входы которoIo соединены соответственно с.первым и вторым выходами генератора напряжения, блок подключения

Ф выполнен в виде первой шины для подключения. проверяемого прибора, соединенной с первым входом блока подключения, и второй шины для

11675 4 подключения проверяемого прибора, соединенной через первый резистор с вторым входом блока подключения, отличающее ся тем, что, с целью расширения функциональных воэможностей, генератор напряжения выполнен в виде сетевого трансформатора с двумя вторичными обмотками, блок подключения снабжен двумя

1ð дополнительными входами, четырьмя дополнительными шинами для подключения проверяемого прибора, вторым резистором и переключателем, блок обнаружения постоянных неисправностей выполнен в виде последовательно соединенных фильтра низких част.от и триггера, а блок обнаружения кратковременных неисправностей выполнен в виде фильтр тра верхних частот, при этом выводы первой вторичной обмотки сетевого трансформатора .соответствуют первому и второму выходам генератора напряжения, а выводы второй вторичной обмотки - третьему и четвертому его выходам, которые соединены соответственно с третьим и четвертым входами блока подключения, которые соединены с третьей и четвертой шинами для подклЮчения проверяемого прибора, пятая шина для подключения которого соединена с вторым входом блока подключения, первым выводом второго резистора и общей шиной устройства, шестая шина для подключения проверяемого прибора соединена. с вторым выводом второго резистора и первым входом переключателя, второй вход которого соединен с второй шиной для подключения проверяемого прибора, а выход переключателя соединен с выходом блока подкпючения .

Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах Устройство для обнаружения коротких замыканий и обрывов в полупроводниковых приборах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в процессе производительного контроля мощных полупроводниковых приборов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах
Наверх