Способ определения диаграммы направленности антенны
Изобретение относится к технике измерений параметров антенн, Повьшается оперативность при измерении диа граммы направленности (ДН) в цилиндр безэховой камере. Для этого дополнительно измеряют посредством приемных зондов (ПЗ) ближнее поле эталонной антенны с известной ДН, а также матрицу .взаимных сопротивлений ПЗ вне безэховой камеры. ДН исследуемой антенны определяют в соответствии с ньгоажением: F - Ul-1Ф | РЗ (2nn/N - Ф / / f л Л улл Г т /({ Re.U3 (2nn/N). ф } { ф f х(2аП)ке,).Ы-; где Ф, - унитарные матрицы прямого и обратного дискретного преобразования Фурье; .F() - матрица-строка значений эталонной ДН; .иэ() - матрица-строка комплексных сигналов ПЗ; Г() - м атрица-столбец из комплексно сопряженных ДН ПЗ; |..... - диагональная матрица; ,1,...,N-1; N - общее число ПЗ; Не - действительная часть собственных значений матрицы взаимных српротивлений ПЗ вне безэховой камеры. с S (Л to оо со Од 4Sb
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН (51)4 G 01 R 29/10
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
ВСЕГО" . Я Щ
Ц,", 13
БИБЛИОТЕКА
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ антенны с известной ДН, а также матрицу взаимных сопротивлений ПЗ вне безэховой камеры. ДН исследуемой антенны определяют в соответствии с выоажением:
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
IlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2.1) 3813912/24-09 (22) 19.11.84 (46) 23.06.86. Бюл. 1(1 23 (71) Московский ордена Ленина и ордена Октябрьской Революции авиационный институт им. С. Орджоникидзе (72) Е.И, Воронин и Е.Е. Нечаев (53) 621.317:621.396.67(088.8) (56) Радиотехника и электроника, т. 24, 1979, М 12, с. 2381.
Авторское свидетельство СССР
В 1166019, кл. G 01 R 29/10,27.07.84 (54 ) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАГРАММЫ
НАПРАВЛЕННОСТИ АНТЕННЫ (57) Изобретение относится к технике измерений параметров антенн, Повьппается оперативность при измерении диа граммы направленности (ДН) в цилиндр безэховой камере. Для этого дополнительно измеряют посредством приемных зондов (ПЗ) ближнее поле эталонной
„„SU;„, 1239647 A i
F=( /((Кесбз (2(in/N)) (4)g g (Ф1Их ° < + >>)(R51) (э) . ) где (Ф1, 1 Ф) — унитарные матрицы прямого и обратного дискретного преобразования Фурье; (F(2 /N) — матрица-строка значений эталонной ДН; (Оз(3п/N) — матрица-строка комплексных сигналов ПЗ; r (27n/И)) — матрица-столбец из комплексно сопряженных ДН ПЗ; (.....$ — диагональная матрица; n=0,1,...,N-l; N — общее число ПЗ; Re — действительная часть собст венных значений матрицы взаимных cqпротивлений ПЗ вне безэховой камеры. 1239647 < 2 матрица-строка комплексных сигналов приемных зондов; 35 {<Ф(")>— матрица-столбец из комплексно сопряженных диаграмм направленности приемных зондов; диагональная матрица; 40 и= О, 1,...,N-!, N — общее число приемных 45 зондов Re — действительная часть собственных значений матрицы взаимных сопротивлений прием50 ных зондов вне безэховой камеры. Вследствие того, что стенки цилиндрической безэховой камеры и поверхность расположения приемных зондов с комплексными диаграммами f< характеризуются одинаковой кольцевой симметрией, то алгоритм вычисления Изобретение относится к технике измерений параметров антенн, Цель изобретения — повышение опе.ративности при измерении диаграммы направленности в цилиндрической без- 5 эховой камере. Способ определения диаграммы на— правленности антенны заключается в следующем. Перед возбуждением исследуемой антенны подключают к источнику СВЧколебаний эталонную-антенну с извест ной диаграммой направленности ((Гэх 2Гп 1 X()J и по результатам измере ий 2jtq комплексного ближнего поля ((((э(--(-) вычисляют произведение матриц {.Е("х x) Z)=fBg с помощью следующего соотношения В =(Ф) { <) 25 прямого и обратного дискретного преобразования Фурье; 2 ) и 1 (=) (- — )) — матрица-строка знаN чений эталонной диа- З0 граммы направленности; диаграммы направленности антенны можно представить в следующем виде <Г(---)j =Re >).I(F<„R<. (E<) ))(Ф)-, (<) (.1 ) где П и Р „—. собственные значения матриц (Е) и (Д соответственно; п=0,1,...,N-1, N — общее число приемных зондов; Re — реальная часть. Умножая правую и левую части (1) на ) Ф и переходя от собственных значений к спектральной форме записи произв.едения двух матриц (И,() (Z )no-1 лучим, что в случае измерения эталонной антенны (В )::>2(2,) (2 )= (Ф ) {< Р, (- — ") (Ф ))! i((RФ<и, (ф )) (a)). х {(Ф) I F (—.-) >){Ке I)) (Ф). (2) Таким образом, на первоначальном этапе измерений с эталонной антенной 1 с известной диаграммой направленности алгоритм (2) позволяет по измеренным напряжениям .на приемных зондах вычислить матрицу В), которая беэ каких-либо изменений используется при вычислении диаграммы направленности исследуемой антенны, При этом эталонная антенна устанавливается на место исследуемойФ а матрица (В1 определяется в соответствии с соотношением (2). С целью исключения не определенности при вычислении (В в (2) следует выбирать эталонную антенну с такой диаграммой направленности, чтобы собственные значения х матрицы(((не принимали значения, равные нулю. Это же ограничение накладывается на собственные значения матрицы {{. >, Фо рмула из обретения Способ определения диаграммы направленности антенны, основанный на возбуждении исследуемой антенны в безэховой камере источником СВЧ-колебаний, измерении посредством приемных эонцов с известными диаграммами направленности ближнего поля исследуемой антенны, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повьппения оперативности при измерении диаграммы 1239647 2Пп . <Ц (†-)! — матрица-строка комн плексных сигналов приемных зондов; 2Пп (— -) >N матрица-столбец из комплексно сопряженных диаграмм направленности приемных зондов; диагональная матрица; ("}n=0,1,...,N — 1, N общее число приемных зондов; действительная часть собственных значений Re прямого и обратного дискретного преобразования Фурье; 2()n 1 20 Составитель В, Рабинович Техред М.Ходанич Корректор Т. Колб Редактор Н. Рогулич Заказ 3392/46 Тираж 728 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5.Цпоизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 направленности в цилиндрической без- эховой камере, дополнительно измеряют посредством приемных зондов ближнее поле эталонной антенны с известной диаграммой направленности, а также матрицу взаимных сопротивлений приемных зондов вне безэховой камеры, а диаграмму направленности исследуемой антенны определяют в соответствии с выражением fO = ).! Я "<"-"> ()) Ф" " х (— -)) (Ф) ) { (Ф) (е (— -) >) (R Ej„) ê К где Ф, (Ф3 — унитарные матрицы матрицы взаимных сопротивлений приемных зондов вне безэховой камеры; собственное значение матрицы 1Е).
