Фотометр

 

.Изобретение относится к фотометрии , к устройствам анализа свойств отражающих материалов. С целью повышения точности измерений в оптическую приемную систему фотометра дополнительно введены коллективная линза, вспомогательный источник света и поворотное зеркало. 1 ил. N9 СЛ ОС со

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

4 А1 (19) (И) (ю4 G 01 J 1/04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3851854/24-25, (22) 01.02.85 (46) 23.07.86. Бюл. N- 27 (72) В.Л.Шипунов, М.И.Алексеева и А.И.Пахомов (53) 535.242(088.8) (56) Гуревич М.М. Фотометрия, Л.:

Атомиздат, 1983, с. 2 14-222.

Фотометр объективный универсальный

ФОУ, 2850, 075. Т. О, 30 МС, 1979. (54) ФОТОМЕТР (57) Изобретение относится к фотометрии, к устройствам анализа свойств отражающих материалов. С целью повышения точности измерений в оптическую приемную систему фотометра дополнительно введены коллективная линза, вспомогательный источник света и поворотное зеркало. 1 ил.

12458 пи па пс- пО

30 зом.

Изобретение относится к фотометрии, а именно к фотометрическим устройствам анализа отражающих свойств материалов, и может быть использовано для построения фотометрических анализаторов, предназначенных, в частности, для определения сортности анализируемых материалов (бумаги, ткани и т. п.), оцениваемой по коэффициенту яркости.

Цель изобретения — повышение точности измерений °

На чертеже показана принципиальная схема фотометра, Фотометр состоит из источника 1 света, системы оптических элементов, составляющих осветительную ветвь прибора, включающую конденсатор 2, расположенный перед входной диафрагмой

3 (по ходу лучей), зеркало 4, проме— жуточную.(апертурную) диафрагму 5 и входной объектив 6, предметного столика 7 и элементов приемной ветви, состоящей из выходного объектива 8, второй промежуточной (апертурной) диафрагмы 9, зеркала 10, выходной диафрагмы 11, коллективной линзы 12, изображающей апертурную диафрагму 9 в плоскости фотоприемника 13 и размещенной вблизи его, непрозрачного поворотного зеркала-шторки 14, обращенного зеркальной поверхностью в сторону, противоположную фотоприемнику, и вспомогательного источника 15 света.

Ток с фотоприемника после усиления подается на регистрирующий прибор.

Зеркало-шторка 14, являющееся одно-. временно ширмой, может выводиться и вводиться в ход лучей, а вспомогательный источник 15 света имеет автоном- 40 ное отключение от питающей сети.

Фотометр работает следующим обраУстанавливают требуемые для .измерения углы наклона осветительной и приемной ветвей относительно поверхности пробы. В ход лучей приемной ветви вводят зеркало-шторку. В плоскости установки измеряемых проб на предметный столик 7 помещают измерительную пробу, Подключают к электропитанию источник 1 света, На измерительном приборе снимают отсчет n "". .К электропитанию подключают вспомогательный источник 15 света. Наблюдают в плоскости установки проб в свете, отраженном от пробы, световое пятно, размер которого определяется изобра94 2 жением (в обратном ходе лучей) из приемной ветви выходной диафрагмы.

Устанавливают пробу, контролируя, чтобы размер этого светового пятна вписывался в размеры участка пробы, подлежащего измерению. Одновременно наблюдают в плоскости установки проб световое пятно, размер которого определяется изображением (в прямом ходе лучей) входной диафрагмы из осветительной ветви. Световое пятно из осветительной ветви должно с запасом перекрывать световое пятно из перекрывать световое пятно из приемной ветви. Затем вспосогательный источник света выключают и зеркалошторку выводят из пучка приемной ветви. На измерительном приборе снимают отсчет и„.

Заменяют измеряемую пробу на образец сравнения.или контрольный образец.

На измерительном приборе снимают отсчет n . Рассчитывают отношение

Это отношение характеризует коэффициент яркости измеренного участка пробы относительно коэффициента яркости образца сравнения или контрольного образца для установленных углов падения и наблюдения. Для получения абсолютного значения коэффициента яркости измеряемой пробы указанное отношение умножают на коэффициент яркости образца сравнения или контрольного образца.

Формула и з обретения

Фотометр, содержащий источник света, расположенные по ходу излучения оптическую осветительную систему, держатель образца, оптическую приемную систему, включающую объектив, апертурную диафрагму, установленную в фокальной плоскости объектива, выходную диафрагму, фотоприемник и систему ре1гистрации, отличающийся тем, что, с целью упрощения юстировки и настройки прибора, и повышения точности измерений, в оптическую приемную систему дополнительно введены коллективная линза, вспомогательный источник света и поворотное зеркало, причем коллективная линза и поворотное зеркало установлены последовательно по ходу излучения между выходной диз 1? 45894 4 афрагмой и фотоприемником, а вспомо- жение его иэображения, создаваемого гательный источник света расположен поворотным зеркалом и коллективной вне оптической оси приемной оптичес- линзой, совпадает с апертурной диафкой системы таким образом, что поло- рагмой.

Составитель В.Квочка

Редактор А.Козориз Текред О, Сопко . Корректор M.Äåì÷èê

Заказ 3988/32 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,,г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Фотометр Фотометр Фотометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для измерения интенсивности и спектрального состава излучения

Фотометр // 1236323
Изобретение относится к аналитической технике в области анализа технологических жидкостей

Изобретение относится к опти-

Изобретение относится к области измерения оптических свойств различных рассеивакмщ1х сред и может быть использовано в различных отраслях народного хозяйства

Изобретение относится к области неразрушающего технологического контроля материалов и может быть исполь зовано, например, в целлюлозно-бумажной и химической промьшшенности, в материаловедении и технике физического эксперимента

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх