Устройство для контроля полупроводниковой памяти

 

Изобретение относится к области вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля полупроводниковой памяти, и является усовершенствованием изобретения по авт.св. № 1051585. Целью изобретения является повьшение достоверности контроля. Устройство содержит синхронизатор, блок управления, блок задания тестов , счетчики адресов, коммутаторы, формирователь тестовых сигналов, блок сопряжения уровней напряжения, регистр адреса ошибки блок сравнения,регистр сдвига, блок элементов И-НЕ, блок элементов И. С помощью введенных в устройство элементов создаются условия, при которых тестовая последовательность может проходить только через определенную группу информационных разря- g дов 2 ил., 2 табл. ISO

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСГ1УБЛИН

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

fl0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 1051585 (21) 3848677/24-24 (22) 31.01.85 (46) 15.08.86. Бюл. В 30 (71) Научно-производственное объединение "Импульс"им. ХХУ съезда КПСС (72) Н,А.Мыльникова (53) 681.327(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 1051585, кл. С 11 С 29/00, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПАМЯТИ (57) Изобретение относится к области вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля полупровод- никовой памяти, и является усовершен.Я0 1251189 A 2 (58 4 С 11 С 29/00 ствованием изобретения по авт.св.

У 1051585. Белью изобретения является повышение достоверности контроля.

Устройство содержит синхронизатор, блок управления, блок задания тестов, счетчики адресов, коммутаторы, формирователь тестовых сигналов, блок сопряжения уровней напряжения,. регистр адреса ошибки, блок сравнения, регистр сдвига, блок элементов И-НЕ, блок элементов И. С помощью введенных вустрой- ство элементов создаются условия, при которых тестовая последовательность может проходить только через определенную группу информационных разрядов 2 ил., 2 табл. М

1251189

+ + +

+ 4

+ + + + +

+ + + +

1

2.

4

+ +

+ + +

Йэобретение относится к вычислительной технике, в частности к запоминающим устройствам, и является усовершенствованием изобретения по авт. св. 11 )051585. 5

Цель изобретения — повъппение достоверности контроля.

На фиг.1 представлена структурная схема устройства; на фиг.2 — пример выбора группы информационных раэря- 10 дов.

Устройство содержит синхронизатор блок 2 управления, блок 3 задания тестов, первичный счетчик 4 адреса, первый коммутатор 5, второй счетчик 15

6 адреса, формирователь 7 тестовых сигналов, блк 8 сопряжения уровней напряжения, регистр 9 адреса ошибки, второй 10 и третий 11 коммутаторы, блок 12 сравнения, четвертый коммута- 20 тор 13, контролируемъй блок 14 полупроводниковой памяти, регистр 15 сдвига, блок 16 элементов И-НЕ и блок 17 элементов И.

С помощью введенных в устройство 25 элементов создаются условия, при которых тестовая последовательность может проходить только через определенную группу информационных разрядов (HP). Для построения регистра сдвига можно использовать микросхему 531ИР11.

Число выходов регистра сдвига равно числу проверяемых контрольных разрядов (КР ). Каждый выход регистра подключен к входам трех определенных элементов И-HE число элементов И-HE„ а также элементов И равно числу проверяемых ИР. При нулевом уровне сигнала, поступающего из блока 2 управления на вход R, регистр устанавли- 40 вается в нулевое состояние, с выходов всех элементов И-HE поступает единичнъй уровень сигнала, разрешающий прохождение тестовой последовательности через все ИР. Работа пред- 4> лагаемого устройства при этом не отличается от работы известного.

Проверяется рабо госпс собность вс

HP контролируемого ЗУ.

При единичном уровне сигнала, поступающего из блока 2 на вход 11, регистр переводится в режим значения и сдвига, нулевой чровень появляется только на одном из выходов регистра и тестовая последовательность проходит только через три определеннъ х

ИР, остальные ИР заблокированы. Группа из трех ИР выбирается таким образом, чтобы в группе HP, формирующих данные KP согласно табл.1, изменял свое состояние только один HP следовательно, через данный KP проходит та же тестовая последовательность.

Состояние остальных КР не меняется, так как в группах формирующих их

ИР состояние HP либо не меняется, либо меняет состояние четного числа ИР.

В конце тестовой последовательности в устройстве с выхода второго счетчика 6 вырабатывается сигнал Конец

Н проверки", который поступает на тактовый вход регистра и по которому нулевой уровень сигнала передвигается на следующий выход регистра.

Каждый выход регистра соответствует проверке одного KP. В табл.2 приведен пример выбора группы из трех

ИР, соответствующих проверке одного КР, Так, если нулевой уровень сигнала на выходе регистра разрешает прохождение тестовой последовательности через ИР7, ИР10, ИР13, согласно табл.

1 в группе ИР, формирующих КР2, изменяет свое состояние только ИР7, в группах формирующих остальные КР, изменяют свое состояние два ИР. При неисправности a KP ЗУ вырабатывает сигнал ошибки, по которому происходит останов пульта. Выходы элементов И-HE подключаются к устройству сигнализации (не показано). По состоянию индикации определяются работающие ИР и согласно табл.2 определяется проверяемый KP.

Таблица 1

+ + +

+ + + + + + + +

1 "51189

Таблица 2

КР

12

12

Формулаизобретения р

Устройство для контроля полупроводниковой памяти ло авт. св. 11 1051585, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности контро- 25 ля, в него введены регистр сдвига, блок элементов И-HF., блок элементов

И, причем первый вход регистра сдвига подключен к одному иэ выходов блоГ

1 g ка угравления, второй вход соединен с другим выходом второго счетчика адреса, выход регистра сдвига подключен к в-..oyy блока элементов И-НЕ, выход которого соединен с первым входом блока элементов И, второй вход которого подключен к выходу третьего коммутатора, выход блока элементов И соединен с третьим входом блока сопряжения уровней напряжения.,1251189

Составитель О. Кулаков

Техред И.Гайдощ Корректор М. Максимишинец

Редактор А. Orap

Заказ 44)9/51

Тираж 543 Подписное

ВНИИИИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий !

13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано при построении высоконадежных запоминающих устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и позволяет осуществлять оперативный контроль блоков памяти, в частности, выполненных в виде микросхем с большим объемом памяти

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения надежных запоминающих устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при построении запоминающих устройств повышенной надежности

Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано для обнаружения ошибок в запоминающих устройствах с последовательным доступом

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в отказоустойчивых микро - процессорных системах

Изобретение относится к запоминающим устройствам и может быть использовано в системах автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к вычислительной технике и может найти применение при построении оперативных запоминающих устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для обнаружения одиночных , двоичных и некоторых тройных ошибок и исправления одиночных ошибок , а также для построения устройств контроля повышенной разрядности по принципу линейного наращивания разрядности

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для функционального контроля больших интегральных схем оперативной памяти

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх