Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на металлической подложке

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение точ ности измерений за счет исключения погрешностей, обусловленных изменениями внешних условий (температуры, влажности и т.д.). Для этого используют , например, систему автоматической подстройки частоты для воздействия на дополнительный регулируемый .элемент , вводи шй в измерительный контур , управляняцим напряжением, величина которого поддерживается постоянной в данном цикле измерений. Это обеспечивает стабилизацию амплитуды колебаний в измерительном контуре. с f6 (Л с: ю СП ю СХ)

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

PECflYEi JlHH (51)4 G 01 В 7 06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ .

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3485790/25-28 (22) 23.08.82 (46). 30.08.86. Бюл. № 32 (72) В,М. Коровин, A.H. Харланов и А,Л. Гейн (53) 531.717.1(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 593132, кл. G 01 В 7/06, 1974.

Авторское свидетельство СССР № 578558, кл. G 01 В 7/Об, 1973, „.SU„, 254287 A1 (54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ НА ИЕТАЛЛИЧЕСКОЙ

ПОДЛОЖКЕ (52) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет исключения погрешностей, обусловленных изменениями внешних условий (температуры, влажности и т.д.). Для этого используют,например, систему автоматической подстройки частоты для воздействия на дополнительный регулируемый .элемент, вводимьй в измерительный контур, управляющим напряжением, величина которого поддерживается постоянной в данном цикле измерений. Это обеспечивает стабилизацию амплитуды колебаний в измерительном контуре.

12542

Составитель И. Кесоян

Техред А.Кравчук

Корректор N. немчик

Редактор С. Лисина

Заказ 4709/43 Тираж 670 Подписное

ВЯИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1 13035, Иосква, X-35, Раушская наб., д. 4/5.Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к контроль. но-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для измерения толщины диэлектрических защитных покрытий, нанесенных на металлическую подложку.

Цель изобретения - повышение точности измерений за счет исключения погрешностей, обусловленных изменениями внешних условий (температуры, 10 влажности и т.д.) °

Способ реализуется следующим образом.

При помощи накладного преобразователя, входящего в состав измерительного контура, возбуждают в подложке вихревые токи, преобразуют наведенную в преобразователе ЭДС в постоянное напряжение, по величине которого судят о толщине контроли- 20 руемого покрытия, при этом при нахождении преобразователя на расстоянии от металлической подложки, равном пяти-семи диаметрам накладного преобразователя, стабилизируют ампли- >5 туду колебаний, возбуждаемых в измерительном контуре, используя, напри» мер, систему автоматической подстройки частоты, воздействуя на дополнительный регулируемый элемент, вводи- 30 мый в измерительный контур, управляющим напряжением, величину кото87 2 рого поддерживают неизменной на время проведения измерений.

Предлагаемый пособ позволяет проводить измерения толщины диэлектрических покрытий, нанесенных на металлическую подложку с высокой точностью практически в любых условиях изменения параметров окружающей среды.

Формула изобретения

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на металлической подложке, заключающийся в том, что при помощи накладного преобразователя, входящего в состав измерительного контура, возбуждают в подложке вихревые токи, преобразуют наведенную в преобразователе ЭДС в постоянное напряжение, по величине которого судят о толщине контролируемого покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений при нахождении преобразователя на расстоянии от металлической подложки, равном пяти-семи диаметрам накладного преобразователя, стабилизируют амплитуду колебаний, возбуждаемых s измерительном контуре, воздействуя на него управляющим напряжением, величину которого поддерживают неизменной на время проведения измерений.

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на металлической подложке Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на металлической подложке 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения толщины диэлектрических покрытий малой прочности типа густых смазок методом сквозного прокалывания

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к метрологическому обеспечению электромагнитных приборов, и может быть применено в различных областях машиностроения

Изобретение относится к средствам электромагнитной толщинометрии и может быть использовано для контроля толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины отложений накипи на стенках котлов, блоков цилиндров двигателей внутреннего сгорания и других емкостей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, может быть использовано для контроля толщины листа из высокоэлектронроводного материала при его прокатке и является усовершенствованием изобретения по авт

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля толщины листов из электропроводного материала непосредственно при их прокатке

Изобретение относится к измерительной технике и расширяет функциональные возможности способа контроля геометрических параметров объектов , вьшолиенных полыми из дизлектрического материала, позволяя измерять разностенность объекта по его длине бесконтактным (емкостным) способом

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения с повышенной точностью толщин защитных покрытий преимущественно малой твердости, например типа густых смазок , благодаря исключению деформаций контролируемого покрытия и более четкой фиксации отсчетных значений

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для магнитного контроля строительных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх