Способ измерения параметров колебаний объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров колебаний диффузно отражанщих объектов. Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и фазы и частоты колебаний. Освещают объект 4 когерентным излучением от лазера 1. В ориентированном фоторе-i фрактивном кристалле записывают динамическую голограмму и одновременно восстанавливают ее. В пучке света Зр , восстановленного с голограммы 7 опорной волной (Оп), измеряют интенсивность , по которой определяют амплитуду колебаний. В пучке света, содержащем световую волну 3„ , восстановленную с голограммы 7 объектной волной (Пр) и прошедшую через голограмму опорную волну 3 , по- .средством анализатора 9 вьщеляют лиейно поляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от поляризаций восстановленной „ и |л-.. опорной Jo волн. Затем регистрируют | распределение частоты и фазы интенсивности по сечению этого пучка, по которым определяют соответствена но частоту и фазу колебаний объекта. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) 11 А1 (51}4 G 01 Н 9/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ . к Авторскому свидетельству «" 4:Ф (21) 3857467/24-28 (22) 25.02.85 (46) 30.08,86.. Бюл. 1) 32 (7i) Ордена Ленина физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе (72) А.А. Камшилин и Е.В. Мокрушина (53) 531. 12(088.8) (56) Вест Ч. Голографическая интерферометрия. N.: Мир, 1982, с. 218-225

Авторское свидетельство СССР

Ф 1208474, кл. С 01 Н 9/00, 21. 06. 1985. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ: ПАРАМЕТРОВ

КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров колебаний диффузно отражающих объектов.

Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и фазы и частотй колебаний. Освещают

2 объект 4 когерентным излучением от

Э лазера 1. В ориентированном фоторе-: фрактивном кристалле записывают динамическую голограмму и одновременно восстанавливают ее. В пучке света

3„ восстановленного с голограммы

7 опорной волной (Оп), измеряют интенсивность, по которой определяют амплитуду колебаний, В пучке света, содержащем световую волну 3„, восстановленную с голограммы 7 объектной волной (Пр) и прошедшую через голограмму опорную волну Л, по,средством анализатора 9 выделяют лиейно поляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от по- ф ляризаций восстановленной )„ и опорной 3, волн. Затем. регистрируют распределение частоты и фазы интен сивности по сечению этого .пучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебаний объекта.1 ил.

1254311!

30

Подписное

Тираж 507

Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к голографическим способам определения параметров колебаний диффузно отражающих объектов.

Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и частоты и фазы колебаний.

На. чертеже схематически изображена оптическая схема, реализующая предлагаемый способ.

Схема включает лазер 1, расширитель лазерного луча 2, светоделитель

3, голографируемый объект 4, собирающий объектив 5, входной поляриза" тор 6, динамическую голограмму 7, анализаторы 8 и 9, введенные соответственно в объектную и опорную ветви, объектив 10, формирующий изображение, светорегистрирующее устройство 11, расширяющий обьектив 12, матрицу фотоприемников 13, систему 14 измеряющую частоту и фазу переменного электрического сигнала 0Ä опорная и П вЂ” объектная волна света, 1 и 1, — прошедшие через голограмму части соответственно опорной и объектной волны, 1 и 1„ — восстановленные с голограммы части rex же пучков.

Способ осуществляется следующим образом.

Освещают объект 4 когерентным излучением от лазера 1. В фоторефрактивном кристалле кубической сингонии записывают динамическую голограмму вибрирующего объекта 4 путем экспонирования кристалла интерференционной картиной, образованной опорной (О„) и объектной (Пр) волнами. Кристалл выполняется в виде плоскопараллельной пластинки с оптическими гранями, совпадающими с плоскостью (110) кристалла. Кристалл устанавливается таким образом, что ось f 001j перпендикулярна плоскости, образованной пересечением осей опорной и объектной ветвей. Опорную и объектную волны формируют иэ расширенного с помощью расширителя 2 лазерного луча с помощью свегоделителя 3 и объектива 5. Направление поляризации опорной и объектной волны

ВНИИПИ Заказ 4710/44

Произв.-полигр, пр-тие, г, 40

50

I света устанавливают с помощью поляризатора 6 в соответствии с условия4 ми наблюдения анизотропной дифракции. Формирующий изображение луч i отделяют от прошедшей части объектной волны света 1„ посредством анализатора 8. Далее вьделенный анализатором 8 свет с помощью объектива

10 собирается на светорегистрирующем устройстве 11, где по интенсивности света определяют амплитуду колебания.

Из прошедшего через голограмму пучка света, содержащего световую волну, восстановленную с голограммы объектной волной и прошедшую через голограмму часть опорного пучка, вьделяют линейно поляризованную составляющую с помощью анализатора 9.

Вьделенную часть пучка расширяют посредством объектива 12, а затем посредством матрицы фотоприемных устройств 13 измеряют распределение частоты и фазы колебаний интенсивности по сечению пучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебаний объекта.

Формула изобретения

Способ измерения параметров колебаний объекта, заключающийся в том, что освещают объект когерентным излучением, одновременно записывают динамическую голограмму, образованную опорной и объектной волнами, и восстанавливают ее, измеряют интенсивность восстановленной с голограммы волны и по величине интенсивности определяют амплитуду колебаний, отличающийся тем, что, с целью расширения измеряемых параметров колебаний в пучке света, содержащем световую волну, восстановленную с голограммы объектной волной. и прошедшую через голограмму опорную волну, вьделяют линейно поляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от поляризации восстановленной и опорной волн, и регистрируют распределение частоты и фазы колебаний интенсивности по сечению пучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебаний объекта.

Способ измерения параметров колебаний объекта Способ измерения параметров колебаний объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения параметров вибрации объектов

Изобретение относится к области регистрации акустических, температурных , механических или электрических сигналов путем модуляции ими световой волны в оптическом элементе

Изобретение относится к испытательной и измерительной технике, в частности к устройствам для изучения колебательных свойств механических систем и исследования демпфирующих свойств конструкций и материалов, применяемых, например, для изготовления турбинных лопаток

Изобретение относится к оптикоакустическим измерениям и может быть использовано для измерения амплитуд и фаз колебаний поверхности образца

Изобретение относится к опто- - акустическим измерениям и может быть использовано при измерении амплитуды и фазы поверхностной акустической волны

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, ускорения и др.) с использованием микромеханических резонаторов, возбуждаемых светом

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения вибросмещений деталей, узлов, конструкций

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, электромагнитных нолей и др.) с использованием микромеханических резонаторов (МР), возбуждаемых светом

Изобретение относится к области сейсморазведки, а также может применяться в вибродиагностике

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, ускорения и др.) с использованием микромеханических резонаторов, возбуждаемых светом

Изобретение относится к области виброметрии и может быть использовано для контроля уровня вибрации в технических и технологических процессах при изготовлении узлов и деталей, а также для вибродиагностики машин и механизмов

Изобретение относится к датчикам, предназначенным для фиксации параметров сейсмических сигналов, и может быть использовано при изучении механических, волновых и колебательных процессов, происходящих в твердых упругих объектах, например в геофизических исследованиях породных массивов

Изобретение относится к станкостроительной промышленности и касается способов и устройств оптического контроля вибраций технологической системы станок - приспособление - инструмент - деталь при механической обработке, в частности при шлифовании

Изобретение относится к станкостроительной промышленности и касается устройств оптического контроля вибраций технологической системы станок-приспособление-инструмент-деталь при механической обработке, в частности при шлифовании
Наверх