Способ определения критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав

 

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для исследования физико-химических свойств поверхностноактивных веществ (ПАВ), а именно, для определения критической корщентрации мицеллообразования (ККМ) водных растворов ионогенных ПАВ. Цель - упрощение и расширение диапазона измерений , в сторону малых концентрацийо Способ заключается в регистрации заряда МОнодисперсных капель, которые образуются при дроблении растворово Заряд монодисперсных капель измеряют по величине падения напряжения на известном сопротивлениио Величина заряда капель измеряется последовательно дпя нескольких концентраций, а ККМ находят по точке перехода от прямолинейного к криволинейному участку кривой зависимости величины заряда капель от концентрации . 2-ило с S (Л 1ч9 О) 1 СП «.&.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5й 4 G 01 N 13/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ с ср

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (211 3914519/31-R5: (22) 21.06. 85 . (46) 30.09. 86, Бюл. В 36 (71) Одесский ордена Трудового

Красного Знамени государственный университет им. И. И. Мечникова (72) С. В. Лопатенко, С. М. Контуш, и Л. В. Малярова (53) 532.696, 1(088.8) (56) Шинода К., Накагава Т., Таммамуси В., Исемура Т. Коллоидные поверхностно-активные вещества. — М.:

Мир, 1966, с. 93.

Авторское свидетельство СССР

Р 926577. кл. G 01 N 13/00, 1980. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ

КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ

ИОНО ГЕННЫХ ПАВ (57) Изобретение относится .к области измерительной техники и может быть использовано для исследования физико-химических свойств поверхностноактивных веществ (ПАВ), а именно, для определения критической концентрации мицеллообразования (KKM) водных растворов ионогенных ПАВ. Цель— упрощение и расширение диапазона измерений. в сторону малых концентраций. Способ заключается в регистрации заряда монодисперсных капель, которые образуются при дроблении растворов. Заряд монодисперсных капель измеряют по величине падения напряжения на известном сопротивлении. Величина заряда капель измеряется последовательно для нескольких концентраций, а ККМ находят по точке перехода от прямолинейного к криволинейному участку кривой зависимости величины заряда капель от концентрации. 2-ил.

1260750

1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования физико-химических свойств поверхностно-активных веществ (ПАВ), а именно для оп- 5 рецеления критической концентрации мицеллообразования (KKM) водных

pacTHopos ионогенных ПАВ, Цель изобретения — упрощение и расширение диапазона измерений в !О сторону малых концентраций, На фиг. 1 изображена схема устройства, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 — концентрационные зависимости величины заряда ка- 15 пель, В устройстве конец иглы 1 находится в поле электромагнита 2 и пео риодически касается поверхности раствора ПАВ в капилляре 3.

Из вытягиваемой жидкой перемычки 4 образуется капля 5. Для измерения заряда капель их направляют в электрически изолированный сборник 6, с которого измеряют ток на 25 землю чувствительным электрометром 7, Пример, Раствор додецил; сульфата натрия концентрации

5 10 4 моль/л заливают в капилляр 3

Ц и добиваются образования монодис- 5р персных капель. По.скольку все капли в цепочке капель одинаково заряжены, заряд одной капли определяют по формуле

g,= !>

35 где Х - регистрируемый электрометром 7 ток, А;

n — количество капель, попадающих в сборник 6 в единицу времени, совпадающее. с час" тотой напряжения, питающее электромагнит 2.

Затем концентрацию ПАВ повышают в два раза и процесс измерения заряда повторяют. Строят зависимость за- 4 ряда капсль от концентрации ПАВ.

Зависимость величины заряда капель от концентрации ионогенного ПАВ анионного типа — додецилсульфата, натрия приведена на her. 2, кривая 1.

Значение критической концентрации мицеллообразования для додецилсульфата натрия, найденное по четко выраженному измерению хода зависимости величины заряда капель от концентрации диспергируемого раствора равно

8 10 моль/л при температуре 298 К

-з и хорошо согласуется с данными, полученными другими методами.

Зависимость величины заряда капель от концентрации ионогенного ПАВ катионного типа — цетилпиридиния хлорида приведена на фиг. 2, кривая 2, Значение ККМ для цетилпиридиния хлорида, найденное по резкому излому хода зависимости величины заряда капель от концентрации диспергируемого раствора, равна 8 10 " моль/л и хорошо согласуется с литературными данными.

Формула изобретения

Спо со б о пр едел ения кр итиче ской концентрации мицеллообразования ионогенных ПАВ, заключающийся в регистр рации зависимости физико-химического параметра раствора ПАВ от концентрации раствора и нахождения критической концентрации мицеллообразования по этой зависимости, о т л .и ч а юal и и с я тем, что, с целью упрощения и расширения диапазона измерений в сторону малых концентраций, в качестве измеряемого физико-химическо" го параметра измеряют заряд монодисперсных капель, образующихся при дроблении раствора, а величину критической концентрации мицеллообразования находят по точке перехода от прямолинейного к криволинейному участку кривой зависимости величины заряда капель от концентрации, 1260750

%us.2

Составитель А. Кощеев

Редактор М. Товтин Техред И.Попович

Корректор В. Синицкая

Заказ 5219/40 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Раушская наб. д, 4/5

1 Э У

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ определения критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав Способ определения критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав Способ определения критической концентрации мицеллообразования ионогенных пав 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения силы отрыва пузырька газа от частицы минерала

Изобретение относится к контрольно-измерительйой технике и может найти применение при оценке флотационной активности минералов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в области литейного производства при изготовлении формовочных и стержневых смесей

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение в радиотехнической , электронной , машиностроительной и других отраслях промьшшенности

Изобретение относится к газовой динамике и физической химии и может быть использовано для определения коэффициентов прилипания молекул водорода к чистой и пассивированной поверхностям металлов в условиях взаимодействия с газообразным водородом

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения истинной и эффективной подвижности (ЭП) и связанных с нею эффективного заряда (33), сечения рассеяния электронов проводимости пpи fecью при миграции ее в металлическом расплаве в постоянном электрическом поле

Изобретение относится к области определения свойств жидкости и, в частности, может быть использовано для определения поверхностного натяжения невязких расплавов, преимущественно тугоплавких материалов

Изобретение относится к гидродинамике , в частности к процессам моделирования течений идеальной жидкости со свободными границами

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх