Способ определения стабильности терморезистора

 

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет ускорить процесс определения стабильности терморезистора путем интенсификации процесса старения. Для этого при испытании через терморезистор в течение 40500 ч пропускают ток и устанавливают , при этом минимальную Р и максимальную допустимые мощности рассеивания в пределах от до 0,5 РМДКС При этом отсутствуют нелинейные эффекты связанные с перемещением характеристики преобразования по кривой стирания, в связи с чем исключается погрешность нелинейности с ( в определении относите.пьной величины (/) дрейфа.

СОЮЗ СО8ЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (51) 4 С 01 К 15/00 (E4

/ !

Q,":;;

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСНОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3601972/24-10 (22) 09.03 ° 83 (46) 07.10.86. Бюл. 1(» 37 (71) Ленинградский гидрометеорологический институт (72) В.А.Степанюк (53) 536.53(088.8) (56) Фогельсон И.Б. Транзисторные термодатчики. - M.: Советское радио, 1972, с. 62-64.

Шефтель И.Т. Терморезисторы.

М.: Наука, с. 372. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТАБИЛЬНОСТИ

ТЕРМОРЕЗИСТОРА (57) Изобретение относится к измерительной технике и позволяет ускорить процесс определения стабильности терморезистора путем интенсификации процесса старения. Для этого при испытании через терморезистор в течение 40500 ч пропускают ток и устанавливают, при этом минимальную Р„„„ и максимальную Рищ„, допустимые мощности рассеивания в пределах от Р„щ„ до

0 5 P ° IIpH 3ToM отсутству линейные эффекты связанные с перемещением характеристики преобразования б по кривой стирания, в связи с чем исключается погрешность нелинейности а

Cl в определении относительной величины дрейфа.

1262799

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения эксплуатационных характеристик термочувствительных элементов устройств измерения температуры.

Шель изобретения — ускорение определения стабильности терморезистора путем интенсификации процесса старения.

Способ основан на экспериментально установленной линейной зависимости ухода величины сопротивления терморезистора or рассеиваемой на нем мощности и времени воздействия. Эта зависимость оказалась одинаковой для разных типов термореэисторов, что позволяет сделать вывод о единстве механизмов старения, определяемых процессами в рабочем теле. При этом указанные процессы интенсифицируются пропорционально рассеиваемой мощности, а накапливаемый ими эффект ухода характеристики преобразования пропорционален времени рассеяния подводимой мощности электрического тока.

Экспериментальные исследования проводились на партиях полупроводниковых терморезисторов, прошедших процесс естественного старения в течение

2-3 лет в складских условиях.

Способ осуществляется следующим образом.

Величину сопротивления терморезисторов перед началом и по окончании периода испытаний измеряют приборами класса не хуже 0,02, при этом мощность, выделяемую на терморезисторе измерительным прибором„ для уменьшения погрешностей вносимым перегревом ограничивают на уровне О,1 Р„и„, где

Р„и„ - значение мощности рассеивания, при которой величина сопротивления уменьшается не более, чем на 1% в результате нагрева терморезистора. током в нормальных условиях (20+2 С).

Измерение сопротивления осущесто вляют при температуре 0 С, которую поддерживают и контролируют с погрешностью не хуже 0,01 С.

Рассеяние электрической мощности осуществляют путем пропускания электрического тока через токоограничивающий резистор, соизмеримый по величине с сопротивлением термареэистора, . от источника постоянного или переменного тока.

При рассеянии электрической мощ-: ности на уровне до 0,5 Р „, в тече55 ниже Р „н замедляет скорость процес5

40 ние 40-50 ч величина дрейфа характеристик преобразования практически линейно зависит от величины рассеиваемой мощности и времени ее воздействия. При увеличении рассеиваемой мощности до Р „, резко возрастает флюктуационная составляющая дрейфа (до 50% и более), исключающая возможность однозначного измерения величины дрейфа.

Если мощность рассеивания близка к 0,5 Р„ „, то при увеличении време-. ни рассеивания возрастают нелинейные эффекты, связанные с перемещением характеристики преобразования на кривой старения, что заметно увеличивает погрешность определения относительной величины дрейфа. При уменьшении рассеиваемой мощности пропорционально возрастает допустимое время воздействия, при котором сохраняется линейный характер эффекта. Однако возрастает время ее воздействия для накопления эффекта дрейфа величины сопротивления. При рассеянии мощности на уровне P „„ необходимое время воздействия для накопления регистрируемой доступными приборами разности сопротивлений достигает 500 ч для экземпляров терморезисторов с повышенной стабильностью. При рассеянии мощности в диапазоне (1 — 5) PM„ в течение 300-500 ч обеспечивается для подавляющей массы термореэисторов накопление эффекта дрейфа, достаточное дпя его регистрации с приемлемой точностью (единиц процентов). При этом полностью отсутствуют нелиней— ные эффекты, связанные с перемещением характеристики преобразования по кривой старения, в связи с чем исключается погрешность нелинейности в определении относительной величины дрейфа.

При мощности рассеивания РА, „ скорость искусственного старения повышается в 10 раз, во столько же раз сокращается время определения стабильности терморезистора по сравнению со случаем определения стабильности по результатам наблюдения эа процессом естественного старения.

Снижение мощностей рассеивания сов старения и„ соответственно, уве— личивает время„ необходимое для накопления эффекта старения.

3 12á2299

Формула изобретения

Составитель В.Куликов

Техред Л. Олейник

Редактор А.Шыпкина

Корректор В.Бутяга

Тираж 778

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 5412/37

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ определения стабильности терморезистора, заключающийся в определении разности сопротивлений терморезистора при одной и той же температуре перед началом и по окончании испытаний, отличающийся тем, что, с целью ускорения определе4 ния стабильности терморезистора путем интенсификации процессов старения, во время испытаний через терморезистор пропускают ток в течении

40-500 ч, устанавливая при этом мощность рассеивания в пределах от Р„„ до 0,5 Р„ „,, где Р„„„ и Р„ „ — co ответственно значения минимальной имак, симально допустимой мощностей рассеяния..