Устройство для обработки диагностических сигналов

 

Изобретение относится к цифро- 1ВЫМ системам автоматики и вычислительной техники и может быть использовано для диагностирования неисправностей отдельных модулей этих систем. Цель изобретения - уменьшение объема используемой памяти и расширение функциональных возможностей за счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагностируемой системы. Устройство содержит блок хранения тестов, блок выделения признака неисправности блок формирования адреса эталонных признаков, блок памяти эталонных признаков, блок с памяти активизируемых модулей, блок счетчиков приближений, блок индика (Л ции, блок синхронизации. 1 з.п. ф-лы. 5 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) А1 (5D 4 G 06 F 2

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3900461/24-24 (22) 29.05 ° 85 (46) 15.11.86 Бюл. У 42 (71) Научно-исследовательский электротехнический институт производственного объединения ХЗМЗ и Харьковский ордена Трудового Красного Знамени институт радиоэлектроники им.акад.

М.К.Янгеля (72) В.З.Городецкий, Г.Ф.Кривуля, В.П.Тыдыков и В.П.Немченко (53) 681.3(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 892447, кл. G 06 F 11/26, 1981.

Авторское свидетельство СССР

))» 546895, кл. G 06 F 15/46, 1977. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБРАБОТКИ ДИАГНОСТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ (57) Изобретение относится к цифро вым системам автоматики и вычислительной техники и может быть использовано для диагностирования неисправностей отдельных модулей этих систем.

Цель изобретения — уменьшение объема используемой памяти и расширение функциональных возможностей sa счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагностируемой системы. Устройство содержит блок хранения тестов, блок выделения признака неисправности, блок формирования адреса эталонных признаков, блок памяти эталонных признаков, блок памяти активизируемых модулей, блок счетчиков приближений, блок индикации» блок синхронизации 1 з,п, ф лыа

5 ил, С:

1270761

Изобретение относится к цифровым системам автоматики и вычислительной техники и может быть использовано для диагностирования неисправностей отцельных модулей этих систем. 5

Цель изобретения — уменьшение объема используемой памяти и расширение функциональных возможностей эа счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагности,руемой системы.

На фиг. 1 представлена функциональная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — функциональная схема блока выделения признака неисправности; на фиг. 3 — 5 - функциональные схемы блока синхронизации, блока формирования адреса эталонных признаков, блока счетчиков приближений. 20

Устройство (фиг. 1) содержит блок 1 памяти тестов, блок 2 выделения признака неисправности, диагностируемую систему 3, блок 4 формирования адреса эталонных признаков, блок 5 памяти эталонных признаков, блок 6 памяти активизируемых модулей, блок 7 счетчиков приближений, блок 8 индикации, блок 9 синхронизации, Блок выделения признака неисправности (фиг. 2) содержит и узлов 10 выделения признака неисправности, кажцый узел 10 содержит элемент 11 задержки, элемент 12 сложения по модулю два с инверсным выходом, элемент И 13, блок выделения признака неисправности также содержит элемент

ИЛИ 14 и элемент И 15. Блок синхронизации (фиг. 3) содержит элемент

ИЛИ 16, одновибратор 17, элемент 18 задержки, удвоитель 19 частоты. Блок формирования адреса эталонных приз. наков (фиг. 4) содержит счетчик 20 и дешифратор 21., Блок счетчиков приближений Я (фиг. 5) содержит и счетчиков 22 и и дешифраторов 23, В основу работы устройства положено использование тестов, построенных методом активизации путей, Этот метод заключается в том, что тестовые наборы генерируются парами. Каждая пара тестовых наборов имеет одинаковые значения на всех входах диагностируемой системы, кроме одного, на котором значения на наборах пары противоположны (переключение)< Смысл активации путей состоит в том что значения на входах подбираются такими, чтобы обеспечить продвижение переключения с входа диагностируемой системы на ее выход. При наличии неисправности на таком активизированном пути переключения на соответствующем выходе не произойдет

Блок 1 памяти тестов содержит двоичные тестовые наборы, подаваемые на входы диагностируемой системы 3.

Блок 5 памяти эталонных признаков для каждой пары тестовых наборов содержит информацию, имеется ли .на каждом из выходов исправной диагностируемой системы 3 переключение 1-0 или 0-1. При наличии такого переключения в разряде выходного слова, соответствующем одному иэ выходов диагностируемой системы 3, находится 1, в противном случае О.

Блок 6 памяти активизируемых модулей для каждой пары тестовых наборов содержит информацию о модулях диагностируемой системы, активизируемых данной парой наборов.

Активизируемым счй1ается модуль, в котором на данной паре тестовых наборов хотя бы на одной линии (связи) происходит переключение 1-0 или 0-1, проявляющееся на одном иэ выходов диагностируемой системы 3.

Если модуль активизируется на данной паре тестовых наборов, то в разряде выходного слова, соответствующем данному модулю, находится 1, в противном случае О.

Таким образом, блоки 1, 5 и 6 могут быть реализованы на перепрограммируемых ПЗУ. Объем блока 1 памяти тестов равен (N „ х 2Иа, где

N< число входов диагностируемой системы, Nä — число пар тестовых наборов. Объем блока 5 памяти эталонных признаков равен (N>ÄÄ х Ия), где И „„ — число выходов диагностируемой системы. Объем блока 6 памяти активизируемых модулей равен (И х

x N ), где N — число модулей в диагностируемой системе.

Если на активизируемом пути в некотором модуле имеется константная неисправность О или 1, то ожидаемого переключения на соответствующем выходе диагностируемой системы 3 не произойдет, т.е ° путь не будет активизирован. Это указывает на наличие неисправности в одном из модулей, находящихся на активизируемом пути.

1270761

Наблюдая значение функции состояния на блоке 8 индикации, оператор может установить неисправности какого модуля (модулей) эта функция соответствует.

Устройство работает следующим образом.

По сигналу блока 9 синхронизации из блока 1 памяти тестов в диагностируемую систему 3 выдается пара 5 тестовых наборов. Затем по другому сигналу блока 9 синхронизации на выходах блока 4 формирования адреса эталонных признаков формируется адрес эталонной реакции на данную 10 пару тестовых наборов. Из блока 5 памяти эталонных признаков по этому адресу извлекается эталонный двоичный вектор наличия переключений на выходах диагностируемой системы 3, 15 который поступает на входы блока 2 выделения признака неисправности.

На другую группу входов этого блока с выходов диагностируемой системы 3 поступают реальные выходные сигналы.. 20

В блоке выделения признака неисправности (фиг. 2) элемент 11 задержки обеспечивает задержку, равную временному интервалу между двумя 25 тестовыми наборами каждой пары Поскольку вход каждого такого элемента подключен к одному из выходов диагностируемой системы, реакции этого выхода на пару тестовых наборов од30 новременно поступят на входы элемента 1? сложения по модулю 2, на инверсном выходе которого образуется. логическая 1 при отсутствии переключения на выходе диагностируемой системы на данпой паре тестовых наборов. 5

° 35 и логический 0 — при наличии такого переключения. Если в исправной диагностируемой системе на данном ее выходе при подаче пары тестовых наборов имеется переключение, то

40 на вход элемента И 13 из блока 5 памяти эталонных признаков поступит логическая 1, что даст на выходе узла 10 вьделения признака неисправности логическую 1, свидетельствующую о наличии неисправности на пути, активизируемом данной парой тестовых наборов. Этот признак неисправности, проходя через элемент ИЛИ 14, обеспечивающий мультиплексирование таких признаков по всем выходам диагностируемой системы, поступает на вход элемента И 15. Назначение этого элемента — обеспечить. выдачу признаков неисправности (непереключения выхода) в связи с каждой парой тестовых наборов, но не в связи с последовательными тестовыми наборами соседних пар. Для этого на второй вход элемента И 15 поступает сигнал (логичес кая 1) с блока 9 синхронизации, сви- . детельствующий об окопчании обработки реакции диагностируемой системы на данную пару тестовых наборов.

Если сигнал с выхода блока вьделения признака неисправности (фиг. 1) содержит признак неисправности (логическая 1), то по адресу, сформнро-1 ванному в блоке 4 формирования адреса эталонных признаков, в блоке .6 памяти активизируемых модулей выбирается двоичное слово, разрядность которого равна числу модулей в диагностируемой системе 3. Наличие. единицы в разряде этого слова свидетельствует о том, что соответствующий модуль находится на пути, активизируемом данной парой тестовых наборов.

Таким образом, на выходы блока памяти активизируемых модулей 6 поступает слово, единичные разряды которого указывают на модули, лежащие на пути, активизация которого не произошла, т.е. подозреваемые в наличии неисправности.

Блок 7 счетчиков приближений представляет собой поразрядный сумматор, для каждого из модулей диагностируемой системы 3 указывающий на число неактивизированных путей, проходящих через данный модуль. Возможная структура блока 7 показана на фиг. 5.

Образующаяся на выходе блока 7 совокупность десятичных значений представляет собой некоторую функцию состояния диагностируемой системы, которая вьдается на блок 8 индикации после окончания проверки диагностируемой системы 3 по сигналу с блока 4 адреса эталонных признаков.

Таким обРазом, переход к укрупнен-. ной модели неисправности (активиз& зируемый путь вместо отдельной неисправности) позволяет диагностировать неисправности произвольной кратности, а укрупнение разбиения диагностируемых систем на модули позволяет сократить объем запоминаемой информации и аппаратурные затраты.

Формула из обретения

1270

1. Устройство для обработки диагностических сигналов, содержащее блок синхронизации, блок формирования адреса эталонных признаков, блок памяти эталонных признаков, блок памяти тестов, .блок счетчиков приближений, блок индикации, причем вход запуска блока синхронизации является 10 входом запуска устройства, первый выход блока синхронизации соединен с входом синхронизации блока формирования адреса эталонных признаков,. группа информационных выходов которого соединена с адресными входами блока памяти эталонных признаков, второй выход блока синхронизации соединен с входом синхронизации блока памяти тестов „информационные выходы 20 которого соединены с информационными входами диагностируемой системы, . информационные выходы блока счетчиков приближений соединены с группой информационных входов блока индика- 25 пии, выход конца контроля блока формирования адреса эталонных признаков соединен с управляющим входом блока индикации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью уменьшения объема используемой памяти и расширения функциональных возможноетей эа счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагностируемой системы, устройство содержит блок памяти активизируемых модулей и блок вьщеления признака неисправности, причем третий выход блока синхронизации соединен с разрешающим входом блока вьделения признака неисправности, первая и вторая группы информационных входов блока вьщеления признака неисправности соединены с информационными выходами соответственно диагностируемой системы и блока памяти эталонных признаков, вы761 ь ход блока выделения признака неисправности соединен с информационным входом блока памяти активизируемых модулей, адресные входы которого соединены с группой информационных выходов блока формирования адреса эталонных признаков, информационные выходы блока памяти активизируемых модулей соединены с информационными входами блока счетчиков приближений.

2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что блок выделения признака неисправности содержит и узлов вьщеления признака неисправности, где n — число выходов диагностируемой системы, элемент ИЛИ и элемент И, каждый. -й узел выделения признака неисправности (i=1-n) содержит элемент задержки, элемент сложения по модулю два с инверсией и элемент И, причем вход i-го элемента задержки подключен к з-му входу первой группы информационных входов

1 блока вьщеления признака неисправности, выход з-ro элемента задержки соединен с первым входом .-го элемента сложения по модулю два, инверсный выход которого соединен с первым входом i-ro элемента И, второй вход которого подключен к х-му входу второй группы информационных входов блока вьщеления признака неисправности, i-й вход первой группы информационных входов блока выделения признака неисправности подключен к второму входу i-го элемента сложения по модулю два„ вь|ходы с первого по и-й элементов И соединены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом элемента И, второй вход которого подключен к входу разрешения блока выделения признака неисправности, выход элемента И является выходом блока выделения признака неисправности., l7707F)l

Фиг.2

1270761 д А ок1

Составитель Д.Ванюхин

Техред Л. Сердюкова КорректорЛ. Пилипенко

Тираж 671

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открьггий

113035, Москва,, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полигваФическое предприятие, r. Ужгород, ул, Проектная, 4

1Й синхр ции8

Редактор Ю. Середа

Заказ 6244/51

-+ д

&ox 5

Устройство для обработки диагностических сигналов Устройство для обработки диагностических сигналов Устройство для обработки диагностических сигналов Устройство для обработки диагностических сигналов Устройство для обработки диагностических сигналов Устройство для обработки диагностических сигналов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области вычислительной техники и используется для контроля и диагностики неисправностей цифровых устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и предназначено для реализации всех логических функций п переменных

Изобретение относится к вычислительной технике

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в аппаратных и гибридных мониторах для подсчета частоты появления событий, принадлежащих к нескольким классам, в частности для получения статистических характеристик о работе программ

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к средствам контроля и поиска неисправности в микропроцессорах

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к средствам автоматизации контроля и поиска неисправностей в устройствах с дискретным характером функционирования

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисправностей в сложных цифровых схемах

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к устройствам автоматического контроля Ц1 ровьк объектов, и может быть использовано для высокочастотной функциональной проверки узлов ЭВМ, построенных с использованием микросхем большой степени интеграции

Изобретение относится к области вычислительной техники, может быть ;использовано;

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля электрического монтажа

Изобретение относится к вычислительной технике и автоматике и может быть использовано при построении средств контроля и диагностирования дискретных блоков радиоэлектронной аппаратуры

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля электрического монтажа

Изобретение относится к вычислительной технике

Изобретение относится к области испытания и контроля цифровых полупроводниковых интегральных микросхем (ИС) и может быть использовано в сборочном производстве электронных средств при входном контроле показателей радиационной стойкости ИС, содержащих запоминающие устройства (ЗУ)

Изобретение относится к ремонтному обслуживанию персональных компьютеров, а именно к диагностике работоспособности аппаратных средств и программного обеспечения

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места потенциально неисправного устройства, входящего в состав цифрового блока

Изобретение относится к области диагностики технических систем и может быть использовано при диагностике состояния технических систем различной степени сложности

Изобретение относится к средствам тестирования взаимосвязанных больших интегральных микросхем (БИС) на уровне плат в реальных условиях эксплуатации
Наверх