Устройство для электромагнитного контроля короткомерных изделий

 

Изобретение позволяет повысить достоверность контроля короткомерных изделий путем исключения влияния размерного фактора. При прохождении контролируемого изделия 12, намагниченного в катушке 2, через измерительные катушки 3 и 4 в них возникают электрические импульсы; в результате их интегрирования и усиления на выходах блоков 5 и 6 обработки сигналов получают сигналы, отношение между которыми определяют с помощью детектора 10, выходной сигнал которого подают на индикатор 11, 1 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СО14ИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) (58 4 G 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н ASTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3384578/25-28 (22) 21.01.82 (46) 07.01.87. Бюл. N 1 (71) Минский филиал Всесоюзного научно-исследовательского конструкторскотехнологического института подшипниковой промьипленности (72) В.И. Франкфурт (53) 620.179.14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 868553, кл. G 01 N 27/90, 1980.

Моргнер В. и др. Структуроскопия .ферромагнитных материалов методом постоянного поля. Тезисы докладов

2-й Всесоюзной межвузовской конференции по электромагнитным методам контроля качества материалов и изделий.

Часть II. — Ðèãà, РПИ, 1975, с. 142-148. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО

КОНТРОЛЯ КОРОТКОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение позволяет повысить достоверность контроля короткомерных изделий путем исключения влияния размерного фактора. При прохождении контролируемого иэделия 12, намагниченного в катушке 2, через измерительные катушки 3 и 4 в них возникают электрические импульсы; в результате их интегрирования и усиления на выходах блоков 5 и 6 обработки сигналов получают сигналы, Отношение между которыми определяют с помощью детектора

10, выходной сигнал которого подают с на индикатор 11. 1 ил.

Формула изобретения

Составитель Г. Самохвалов

Техред Л.Сердюкова Корректор А. Ильин

Редактор И. Николайчук

Заказ 7258/41 Тираж 776

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

1 12819

Изобретение относится к средствам контроля качества магнитными методами и может быть использовано для контроля качества термической обработки короткомерных изделий с большим размагничивающим фактором (И).

Целью изобретения является повышение достоверности контроля.

На чертеже представлена структурная схема устройства. f0

Устройство содержит источник 1 постоянного тока, намагничивающую катушку (соленоид) 2, измерительные проходные катушки 3 и 4, одна из которых индуктивно связана с намагничивающей, а другая не связана с ней, блоки 5 и б обработки сигналов, связанные с измерительными катушками и выполненные в виде последовательно связанных интегратора 7, усилителя

8 и запоминающего устройства 9, и детектор 10 отношения сигналов, связанный входами с выходами блоков 5 и

6 обработки сигналов, а выходом — с индикатором 11 результатов контроля.

Устройство работает следующим образом.

При прохождении контролируемого изделия 12, намагниченного в намагничивающей катушке 2, через измери-

1 тельные катушки 3 и 4 в последних возникают электрические импульсы. В результате их интегрирования и усиления на выходах блоков 5 и 6 обработки сигналов получают сигналы, отношение между которыми определяют де/ тектором 10 отношений сигналов, выходной сигнал которого подается на индикатор 11 результатов контроля.

Устройство для электромагнитного контроля короткомерных иэделий, содержащее источник постоянного тока, соленоид, измерительную проходную катушку, связанную с блоком обработки сигналов, включающим интегратор и индикатор результатов контроля, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с

1 целью повышения достоверности контроля, оно снабжено второй проходной измерительной катушкой, индуктивно связанной с соленоидом, вторым блоком обработки сигналов, включающим интегратор, и детектором отношений сигналов, входы которого связаны с выходами блоков обработки сигналов, а выход - с индикатором результатов контроля.

Устройство для электромагнитного контроля короткомерных изделий Устройство для электромагнитного контроля короткомерных изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля материалов электромагнитными методами

Изобретение относится к измерительной технике и является усовершенствованием способа по авт.св

Изобретение относится к вихретоковым средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для автоматической компенсации составляющих сигналов вихретоковых преобразователей, не несущих информационной нагрузки

Изобретение относится к неразрушаю 4ему контролю, в частности к контролирующим устройствам для вы явления поверхностных дефектов либрованного металла и сортового проката круглого сечения

Изобретение относится к средствам нёраарушающего контроля и может быть использовано для выявления дефектов в ферромагнитных материалах путем визуализации магнитн.ый полей

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может найти применение при измерении толщины изоляционных покрытий и диаметра цилиндрических проводящих изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх