Способ изготовления образца для поверки электромагнитных приборов

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышечие точности поверки электромагнитных ферритометров за счет изготовления образца с равномерной концентрацией феррита по объему на заданном участке. На пластину 2 устанавливают пластину 1 толщиной 0,3- 0,5 глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора. Пластины 1 и 2 выполнены из аустенитной стали. На обеих поверхностях пластины f, а также на прилегающей к ней поверхности пластины 2 выбирают по одному участку 3, расположенному один под другим, концентрация феррита на которых отличается не более чем на 10%, и используют рабочий участок пластины 1 для установки преобразователя поверяемого прибора-ферритометра. 1 ил.

!298634

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению электромагнитным методом, напри— мер, ферритной составляющей в сталях аустенитного класса, и может быть 5 применено в различных областях машиностроения.

Цель изобретения — повышение точности поверки электромагнитных ферритометров за счет изготовления образца с равномерной концентрацией феррита по объему на заданном участке.

На чертеже представлен образец для поверки электромагнитногo ферритометра.

Образец содержит первую 1 и вторую 2 пластины. Пластина размещена на пластине 2, Обе пластины 1 и 2 выполнены из аустенитной стали. Толщина первой пластины I выбирается равной 0,3-0,5 глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора, а суммарную толщину пластин 1 и 2 выбирают больше глубины проникновения указанного поля.

Образец изготавливают следующим образом.

На противоположных поверхностях

ЗО первой пластины I и на одной из поверхностей пластины 2, прилегающей к пластине 1, механической обработкой получают полированную поверхность. Далее на каждую поверхность наносят мелкодисперсную коллоидную магнитную пасту. После этого обрабатывают поверхность моющим средством типа жидкого мыла "Прогресс". Подставляя полированную поверхность под слабую струю воды, смывают раствор, при этом на магнитной составляющей металла — ферритной составляющей (или дельтаферрите), магнитные частицы остаются. Приготолвенный микрошлиф высушивают под струей теплого воздуха, после чего приступают к его исследованию под металломикроскопом.

Магнитные микрочастипы, осевшие на магнитной составляющей металла— дельтаферрите, образуют черные поля и четко обозначают феррит на светлом фоне парамагнитной аустенитной составляющей металла. Исследуя поверхность, находят участки с наиболее равномерно распределенным по площади дельтаферритом. Таким образом, исследуя обе поверхности пластины 1, на которой на каждой поверхности находят расположение оцин над другим два участка 3 с примерно одинаковым содержанием дельтаферрита (концентрация феррпта на этих участках не должна отличаться более чем на 107.), Также исследуют полированную поверхность пластины 2, на которой находят участок 3 с концентрацией дельтаферрита примерно равной количеству дельтаферрита на участках пластины (отличающейся не более чем íà IOX).

При составлении образца пласти— ну 1 устанавливают на пластину 2 так, что все три участка 3 совмещены (находились один над другим). В общем случае пластина I может быть смещенной относительно пластины 2, а не так, как показано на чертеже, где габариты пластины I точно совмещены с габаритами пластины 2.

Наибольшее различие между собой по количеству дельтаферрита на трех участках 3, расположенных один над другим не должно превышать 107.. В конкретном случае, с учетом электромагнитных параметров преобразователя ферритометра (не показан)

2 2 10 Гц, диаметр измерительных обмоток преобразователя равен 2 мм, участок 3 выбирается в ниде квадрата со стороной а=5 мм, толщина пластины 1, выполненной иэ стали,1 мм.

Приближение преобразователя от центра к краю образца ближе чем на 5 мм приводит к изменению его показаний ,более, чем íà I .

Таким образом, учитывая распространение электромагнитного поля по плоскости, а также учитывая допустимую погрешность измерений прибора, равную 1ОЕ, сторону участка 3 выбирают равной 5 мм. Наибольшая глубина проникновения электромагнитного поля в металл в этом случае составляет а=2 мм. Максимальная глубина, на которой количество феррита в наименьшей степени отличается от его содержания на поверхности, составляет

0,5 мм. Поэтому с учетом 5 и возможности определения дельтаферрита с обеих сторон пластины I толщина ее составляет 1 мм или 0,5 о. Возможна большая, чем в указанном случае, неравномерность распределения дельтаферрита по глубине металла. В таких случаях толщина пластины должна быть меньше и составлять не более 0,6 мм

3 1298бЗ или 0,3о. Возможность определять количество дельтаферрита в трех сечениях позволяет с наибольшей точностью учитывать его распределение не только по плоскости, но и по глубине. С уче- 5 том этого, располагая соответствующим образом, пластину 1. относительно пластины 2, получают участок 3 образца, в котором с минимальной погрешностью опредепена объемная концентра- 10 ция дельтаферрита. Таким образом, наиболее точно определена концентрация феррита в объеме образца, прилегающем к участку 3 (рабочему участку), на который при поверке прибора 15 устанавливается его преобразователь.

Наиболее точная функциональная зависимость имеет место между показаниями прибора и -концентрацией дельтаферрита на участке на рабочей поверх- 20 ности участка 3 пластины I. Количественное отличие концентрации дельтаферрита в нижележащих слоях (не более 10%) приводит к изменению показаний прибора не более IX.

Таким образом, с учетом неравномерности распределения дельтаферрита как в плоскости, так и но глубине, а также с учетом неточности определения площади, занятой дельта- 30 ферритом, металлографическим прибором, не превышающий 1%, общая суммарная погрешность определения концентрации феррита составляет не более 3%. 35

Формула изобретения

Способ изготовления образца для поверки электромагнитных приборов, 4 4 заключающийся в том, что используют две пластины с заданной величиной параметра, по которому осуществляют поверку прибора, толщину одной из пластин выбирают меньше глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора, размещают эту пластину на поверхности второй пластины, а суммарную толщину обеих пластин выбирают больше глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя поверяемого прибора, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности поверки электромагнитных ферритометров, пластины выполняют из аустенитной стали, толщину первой пластины выбирают равной 0,30,5 глубины проникновения электромагнитного поля преобразователя, определяют концентрацию феррита на ее рабочей и противоположной ей поверхностях, находят на них противолежащие участки, концентрация феррита на которых различается не более, чем на 10%, определяют концентрацию феррита на одной из поверхностей второй пластины и на ней находят участок, концентрация феррита на котором отличается от концентрации фер. рита на одном, по крайней мере, из найденных участков рабочей поверхности первой пластины не более чем на 10%, при размещении пластин совмещают данные участки, а в качестве параметра используют концентрацию феррита на найденном участке рабочей поверхности первой пластины.

1298634

Составитель И. Рекунова

Редактор M. Бланар Техред M.Õoäàíè÷ Корректор Г. Решетник

Заказ 881/45 Тираж 777 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4