Интерферометр майкельсона с триэдром в качестве подвижного зеркала

 

Класс 42h, 34„ № 135667

СССР

* ! ь

1 . т

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Лв 170

Е. В. Блюдов

ИНТЕРФЕРОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА С ТРИЭДРОМ В КАЧЕСТВЕ

ПОДВИ)КНОГО ЗЕРКАЛА

Заявлено 16 июня 1960 г. за ¹ 670323, 26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете М1шистров СССР

Опубликовано в тБюллстсне ии1брстений» ¹ 2 за 1961 г.

Известны интерферометры типа Майкельсона, в которых в качестве подвижного зеркала применяется триэдр. Однако при допущении неточности в изготовлении прямых углов триэдра наблюдается удвоение илн утроение изображений, что в значительной степени портит интерференционную картину.

В предлагаемом интерферометре с целью устранения удвоения или утроения изображения в одной ветви интерферометра применен триэдр, так что параллельный пучок лучей, падая на одну из граней и последовательно отражаясь от других граней, выходит из триэдра смещенным параллельно самому себе.

Для компенсации такого смещения в другой ветви интерферометр.1 устанавливается сферическая линза с плоским зеркалом в ее фокусе.

Допуски на изготовление углов триэдра в этом случае могут быть расширены.

На чертеже изображена схема предлагаемого интерферометра. Пучок лучей от разделительной пластины 1 попадает на одну из граней триэдра 2 с последу1ощим отражением от двух других граней и выходит к суммирующей пластине 8.

В другой ветви пучка установлена сферическая линза 4 и неподвижное плоское зеркало 5, компенсирующие параллельное смещение луча в триэдре.

Предмет изобретения

Интерферометр Майкельсона с триэдром в качестве подвижного зеркала, отличающийся тем, что, с целью исключения утроения изображения из-за неточности выполнения прямых углов триэдра в одной ветви интерферометра применен триэдр с падением пучка лучей только на одну грань с последующим отражением от других, а во второй ветви для компенсации смещения параллельного пучка лучей в первой ветви, установлена сферическая линза с плоским зеркалом в ее фокусе.

М 135бб(Т«хред А. Л. Сосина Корректор О. Филиппова

Редактор А. К. Лейкина

Тираж бум. 70)(108 /

Тираж 700

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР 1осква, Центр, М. Черкасский пер.. д. 2/6.

Объем 0,17 уел. п. л.

Цена 3 коп

Г!одп. к печ. 3.!11-61 г

Бак, 2265

Типография ЦЬТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14.

Интерферометр майкельсона с триэдром в качестве подвижного зеркала Интерферометр майкельсона с триэдром в качестве подвижного зеркала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх