Устройство для измерения профиля объекта

 

Изобретение относится к нз.мерительмой те.хпике. 1.1,е. 1ыо изобретения является iiOBbiiiieiHie точности и удобства измерения. Устройст1Ю со;1С|1жнт линейку I с оиорами 2, наирав. 1яюн1.ис 4, контактные штифты 5 и уз- , 1Ы фиксаци .и контактных штифтов. Перед изме|)сиием устройство устаиав. 1ивают на базы проверяемого профи. in 16. Затем нри помойки стопорны.х тяг, расположенны.х с разны.х сторон линейки 1, освобождают узлы фиксации нанравляюи нх 4, имеющих воз- .можность поворота относительно осей, параллельных плоскости базовых опор 2, и контактные штифты 5 под действием гравитационных сил устанавливаются вертикально благодаря наличию наконечников 15, масса которых выбрана так, чтобы центр тяжести контактного штифта 5 бы. 1 ниже точки его крепления в узле фиксации. При достижении контакта наконечников 15 с измеряемым профилем 16 стопорные тяги отпускают и фиксируют положение контактных штифтов 5. По -визуальному совмеи1.ению двух нитей 10, натянутых на двух б.чоках 9, расположенных на концах линейки 1, со Н1калами 6 на контактных штифтах 5 оиределяют измеряемый профиль 16. 2 ил. S (Л ОО О СО ОО О 23 Фиг.1 15

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU,» 1303806 д1

5D4 G 0l В 5 28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 11-, Н А В ТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (2 f );392-1с)02,) 25-28 (22) 10.07.85 (46) 1=>.04.87. Б юл. ¹ 14 (72) В. В. Чуканов, К. Б. Хохлов и Г). 1О. Булдаков (58) 5;11.71 (088.8) (56) Авторскос свидетельство СССР

:х> 1с)6)358, кл. G 01 В 5/28, 1Ч6)7. (54), ) С ГРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

Г1(дОФИ,. (Я ObhE ÊTË

157) Изобрстcllllc относится к излlcpllT0,1ьнс>й Tcxil>II «. 1(сльI0 изоорс тс11ия являет я

II0I)IIIIIc1ие тогнос и и у собстг)а ггзлгерения. х>cTj)0(fcTI)0 сс);1 . p,+;iгт ))инcIIh 1 с 0п0рами наиравля)ощие 4, контактные III TIIôòû 5 il узii»l фи кcaiLI>!, конта к гных 1итифтов. Г(ерсд из лгс ре11I>ел1 л сз pi) иcTво л ста II)1â, I è вd IOT гlа оа:)I>l гl рОвг ряс )I )I о гг()ос)) и гя ) с). 3 атс ..;1 I1pll помо)ци стопор ных тяг., расположенных с разных сторон линейки 1, освобождают узлы фиксации направляющих 4, имеющих возможность поворота относительно осей, параллельныx плоско Tи базoвыx опор 2, и контактные штифты 5 под действием гравиTauII0IIIII ix сил устанавливаются вертикально благодаря наличию наконечников 15, масса которых выбрана так, чтобы LlQIITp гяжест)г контактного штифта 5 был нижс точки его крепления в узле фиксации. При достижении когп.акта наконечников 15 с;гзмеряемым профилем 16 стопорные тяги оТнуcKHIOT и фиксируют положение контактных ц;тифтов 5. 110 визуальному совмеlllcник) двух нитей 10, натянутых íà двух блоках с), распо.гоженных IIa концах линейки 1, со гпкалами 6 на контактных штифта . 5 определяют измеряемый профиль 16. 2 ил.

1303806

Фор.!1(7.!и кзог) ретенин

Состава <е)<в F3. Саве)<нев

Редактор М. Келе..ле(и Т(хред И Верее Коррекгор М. 11ожо

Заказ 12()3!38 Тираж 678 11о)ц<иснос

В1! ИИ! IИ Госу)(«р() венноп) I

11роизводсгвсliii<)-полигр(<фи <еск<и llf)(,Ill!ill(till<., г. Ужгород, ) 3)к I!роектlli<и, 1

Изобретение относится к измерительной технике.

Цель изобретения — повышение точности и удобства измерения путем исключения влияния погрешности, возникающей от гравитационного прогиба линейки.

На фиг. 1 изображено устройство для измерения профиля объекта, общи и вид; на фиг. 2 — то же, вид сверху.

Устройство для измерения профиля объекта содержит линейку 1, на концах которой установлены опоры 2 с базовой плоскостью

3 и направляющие 4 с контактными (птифтами 5, имеющими шкалы 6. В направляющих 4 положение контактных штифтов 5 фиксируется узлами 7 фиксации осевого перемещения и узлами 8 фиксации углового перемещения. На концах линейки 1 33Kpe(1лены два блока 9, между которымп натянуты две недеформируемыс нити О. Узлы 7 фиксации Осевого псреме(цения и узлы 8 фиксации углового перемещения взаимодействуют 0 стопорными тягами 11 и 12, подпружиненными пружинами 13 и 4. Г10 отношению к точке крепления в узле 7 фиксации центр тяжести контактного штифта 5 расположсн ни)Kc, что достигастся установкой Hà c ãî конце наконечника 15 со специально выбранной массой.

Устройство работает следующим образом.

Перед измерением устройство устанавливают на базы измеряемого профиля 16 и поднимают контактные штифты 5 в крайнее верхнее положение. Затс<(перемещают стопорную тягу 11, которая воздействует 113 узел

8 фиксации углового переме(цсния, и контактныс штифты 5 под действием гравитационных сил устанавливаются вертикально.

11осле этого отпускают стопорную тяг) 11 и она под действием пружины 13 фиксирует вертикальное положсннс контактных штифтов 5. Аналогично перемещают стопорну(0

12 тягу 12, давая тем самым возможность переместиться контактным штифтам 5 вниз до соприкосновения с измеряемым профилем 16.

Отпускают тя(у 12, которая под действием пружины 14 вернется в первоначальное положение, и узел 7 фиксации осевого перемещения зафиксирует положение контак гных (птифтов. (Ioci((. 3To(o (IPH ((o vtO(IIH Визх адьного совме(цения двух нитей 10 с одним из штрихов 6 шкал определяют профиль 6 в за1Î данных точках.

Устройство д.lя измерения профиля объекта, содержа!цсе линейку, предназначенную для ус(.3(ювки па объскге, опоры с базовой (((0CÊ0 Th1O, P3Cl l().10ÆC (1!1Ü((. lI0 КО Н Ца. сl, 1Hнейки, направляющие, ус! ановлс нные па ли не и к(., KOHT3KE ные и!тис!)ты с0 IE(K3713 т(и з0 и Узлы фиксс(ции конта к(и ых 1!(тиф10в, закрепленные в направ (5((0(iI(Ix, от.!<(«а)О(ц< еен

ТсM, ITo, с целью повышения точности и удобства измс рсния, оно снабжено двумя установленными на концах линейки блоками, ОСИ KOTOPhIX P3C((O,(OÆ llhi В 11,10(. KO<. TH, (I;)раллельной базовой пг(оскости o!I()p, двх т!я недеформирусмыми нитями, концы которых за кре((лены на б (0K3x, вза им одс ис ву(ощиМп С УЗ.13 МИ фи(Сан!Iн It P3C((0,1()iKC (!(1k l Ill по разные стороны ol лн!!Сйки cio(IOpilhl lii

30 тягами, оси которых п арал, (с, (ьн ы оазо(30 и плоскости опор, устапо(3,(e»(«(iIH на концах контактных штиф гoB и прслна lllа fcI(f(((1! it д,f я Взаи мод(ист(3и 51 с изх!еf)5Icм ь1т! (!1)офи. (()1 наконечниками, ма.с 3 которых Bhl()p3(f;t т(EK, чтобы центр Т5)жсс(1-; KÎ(fTBK1110(i((TII(I) I с)ыл ill!)Kc точки его Kp(ll!1(. illt51 в уз)лс фик(335 ! (И И, 3 f13 Ï Р(3 В, IH IOII(HC i СТ 11(ОБ. 1(El iэl и (1 3(Устройство для измерения профиля объекта Устройство для измерения профиля объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхностей глубоких отверстий

Изобретение относится к технологии машиностроения, а именно к средствам и методам определения параметров абразивного инструмента

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и позволяет расширить пределы контроля

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при шлифовальной обработке деталей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам для контроля отклонения формы и расположения новерхностей

Изобретение относится к технологии машиностроения, а именно к средствам и методам определения качества поверхности

Изобретение относится к технике контроля качества поверхности изделий и может использоваться для определения плоскостности поверхности изделия

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх