Способ вихретокового контроля цилиндрических изделий

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества электро проводящих цилиндрических изделий. Цель изобретения - повышение надежности контроля за счет определения неоднородности электрофизических свойств в поверхностном слое контролируемого изделия - достигается путем измерения второй частоты баланса; Выбирают два опорных напряжения с фазами , соответствующими фазам вносимых напряжений при взаимодействии вихретокового преобразователя с однородным объектом при двух различных режимах, характеризуемых обобщенными параметрами х R,-Jco(5(U и ,, определяют частоты СО, и cOj баланса фаз для выбранных опорных напряжений и по разности cOj/co, - К определяют результат контроля. i (f)

С(ВОЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

PECllYE JlHH (19) (11) А1.(504 G01 В 7 06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н Д ВТ0РСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3914366/25-28 ,(22) 25.06.85 (46) 23.04.87. Бюл. Р 15 (71) Пермский политехнический институт (72) Б.С.Игнатьев, Н.М.Лицын и В.А.Панов (53) 620. 179. 14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 175299, кл. G 01 В 7/06, 1965.

Журавель ФеА., Соболев В.С. Бесконтактные измерения удельного сопротивления материалов с получением результатов в цифровом виде. — Автометрия, 1969, Ф 6, с. 103-107. (54) СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ

ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразру шающему контролю и может быть использовано для контроля качества электро проводящих цилиндрических изделий.

Цель изобретения — повышение надежности контроля за счет определения неоднородности электрофизических свойств в поверхностном слое контролируемого изделия — достигается путем измерения второй частоты баланса.

Выбирают два опорных напряжения с фазами, соответствующими фазам вносимых напряжений при взаимодействии вихретокового преобразователя с однородным объектом при двух различных режимах, характеризуемых обобщенными параметрами х,=К, абри х =Кх,, определяют частоты g, и а баланса фаз Е для выбранных опорных напряжений и по разности Юз /c), — К определяют резуль. тат контроля. С"

1305531

Составитель П.Шкатов

Редактор П.Гереши Техред Л.Сердюкова Корректор M.Шароши

Заказ 1420/39 Тираж 678 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества цилиндрических электропроводящих изделий.

Цель изобретения — повышение надежности контроля за счет определения неоднородности электрофизических свойств в поверхностном слое контролируемого изделия.

Способ осуществляют следующим образом.

Исходя из толщины контролируемого поверхностного слоя, выбирается значение обобщенного параметра х, =

=RfO5p, где К, — радиус изделия;

CD- круговая частота питающего тока;

6 и (U — удельная электропроводность и магнитная проницаемость материала изделия соответственно. Второе значение х =К х, выбирается из условия

1,5 «< К < 10, исходя из требования сохранения чувствительности к вариации

Контролируемого параметра.

Затем, по известной формуле .2 р Е,(g ) о где j= l, х;=х j, I (х ) и Е„(х )—

Модифицированные функции Бесселя первого хода нулевого и первого порядка соответственно, Д в„, — вносимое в вихретоковый преобразователь напряжение, определяют фазы опорных напряжений

Ср, =аг8Пвн, и ц =агВПент

При этом U, определяют для х, =

=х, à Пе для х„ =х . Затем опреде) Э ляют частоты баланса у, и у, соответствующие фазам ц, и у . Для этого устанавливают опорное напряжение с фазой ф и изменяют частоту CD до совпадения фазы U д с фазой опорного напряжения. При совпадении регистрируют частоту баланса у = CD,. Аналогично определяют частоту баланса Я соответствующую обобщенному параметру х

5 Если изделие однородно, то раз(т ность -- — К=О.

У, По мере увеличения неоднородности поверхностного слоя изделия эта разность растет и является мерой неоднородности поверхностного слоя.

Формула изобретения

Способ вихретокового контроля цилиндрических изделий, заключающийся в том, что возбуждают в контролируемом иэделии с помощью проходного вихретокового преобразователя вихревые токи, устанавливают фазу опорного напряжения, регулируют частоту возбужденных токов до равенства фазы вносимого в вихретоковый преобразователь напряжения опорному и фиксируют частоту баланса, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля за счет определения неоднородности электрофизических свойств в поверхностном слое контро30 лируемого изделия, выбирают два опорных напряжения с фазами, соответствующими фазам вносимых напряжений для двух значений обобщенных параметров х =R UG и х =К.х1, где R, — радиуС

35 изделия; cp — круговая частота возбужденных токов; 5 и ш — удельная электропроводность и магнитная проницаемость материала изделия соответственно; К вЂ” коэффициент пропорциональнос40 ти,определяют частоты С3, и cD баланса для выбранных опорных напряжений и по разности Яр /я;"К определяют результат контроля.

Способ вихретокового контроля цилиндрических изделий Способ вихретокового контроля цилиндрических изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Цель изобретения - повышение лроизводительности и.достоверности контроля - достигается за счет установки в гальванической ванне 1 двух групп электродов-свидетелей 2 и 3, объединенных в каждой группе гальванически и подключаемых реверсивным коммутатором 7 к положительному и отрицательному полюсам источника питания гальванической ванны

Изобретение относится к испыта тельной технике и может быть использовано при определении толщины покрытия

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров, например толщины или ширины ленты из проводящего или -непроводящего материала

Изобретение относится к измери-- тельной текнике

Изобретение относится к методам неразрушшоцего контроля материалов и изделий и может быть использовано в машиностроении при определении толщины различных материалов

Изобретение относится к области неразру шающего контроля и может найти применение при измерении толщины 10 неэлектропроводящих покрытий на плоских проводящих объектах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к метрологическому обеспечению приборов, измеряющих толщину покрытия, может быть применено в различных областях машиностроения и является усовершен-, ствованием устройства по авт.св

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх