Способ определения изменения параметров поверхности объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для целей дефектоскопии. Целью изобретения является обеспечение возможности обнаружения оптическими методами изменений на поверхности объекта коэффициента температуропроводности . Способ заключается.в создании на поверхности объекта системы прямолинейных полос оп тического излучения, искривление которых из-за неоднородностей температуропроводности регистрируется приемным устройством . 1 ил. 00 00 00

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (51) 4 1 N 21/55

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АBTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3967736/24-25 (22) 16. 10. 85 (46) 23. 06. 87. Бюл. Р 23 (72) В. И. Андреев, Г, И. Рукман и Е.Б. Шелемин (53) 535. 242 (088. 8) (56) Tasaka et all. Infrared Microscops and its application for Medical use. New Jork, 16,1961.

Авторское свидетельство СССР

Ф 1061008, кл. G 01 N 21/55, 1983. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЯ

ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измери- тельной технике и может использоваться для целей дефектоскопии.

Целью изобретения является обеспечение возможности обнаружения оптическими методами изменений на поверхности объекта коэффициента температуропроводности. Способ заключается.в создании на поверхности объекта системы прямолинейных полос оптического излучения, искривление которых из-за неоднородностей температуропроводности регистрируется приемным устройством. 1 ил.

1318863

U = KSA/2Т g

Ь (а ) а х ° 4 ii а А

40 откуда чувствительность по обнаружению П (а ):

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к:.средсТВВМ дефектоскопии с использованием оптических методов.

Цель изобретения — обеспечение 5 возможности обнаружения изменения коэффициента температуропроводности на поверхности объекта.

На чертеже изображена схема, поясняющая предлагаемый способ. 1О

На схеме показан исследуемый объект 1 с поверхностью 2, на которой указаны неоднородности 3 и 4 (зоны с измененной температуропровод15 ностью), источник 5 излучения 6, систему 7 полос 8, сформированную, например, полупрозрачной маской 9 и системой 10 перемещения полос и измерителя 11 теплового поля (тепловизора).

Способ осуществляют следующим образом.

Поверхность 2 исследуемого объекта с неоднородностями 3 и 4, расположенными как на поверхности, так и на

Z5 глубине h сравнимой с длиной волны излучения подсветки, облучают оптическим излучением 6 источника 5 и формируют на поверхности 2 систему 7 полос 8 излучения с распределением плотности мощности S по гармоническому закону поперек оси полосы. Перемещают систему 7 полос 8 в направлении, перпендикулярном осям полос 8.

Затем регистрируют в процессе пе- 35. ремещения полос смещение Ьх центра полосы и амплитуду основной волны U, по величинам которых судят об изменении температуропроводности на участках поверхности объекта 1.

При синусоидальном распределении плотности мощности в направлении поперек полос перемещения этой картины по объекту со скоростью V и при выполнении условия 45 где а — среднее значение температуропроводности; а(а ) — локальное отклонение температуропроводности от средней (при условии его малости) величины;

Ах — величина смещения центра полосы "в зоне расположения, неоднородности.

При этих же предположениях .амплитуда U температурной волны на поверхности равна: где К вЂ” коэффициент поглощения излучения поверхностью объекта;

S — плотность мощности нагревающего излучения, h — коэффициент теплопроводности объекта.

После регистрации ах и U средством для наблюдения теплового поля объекта имеется возможность выявить как знак Ь (а ), так и величину (размер) зоны, где имеет место отличие температуропроводности от ее среднего значения.

Например, при а 2 11йх 1 д(а ) А A 4 а

Ьх и,полагая = 0,001, получим

А (а ) — 0012 т е 127 т.е. 1,27. формула и з обретения где V — скорость перемещения системы полос; а — температуропроводность;

А — пространственный период полос, получаем из решения уравнения теплопроводности:

ЧА (а)

8 7 (а )

Способ определения изменения параметров поверхности объекта, состоящий в освещении поверхности оптическим излучением и регистрации провзаимодействовавшего с поверхностью из55 лучения, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности обнаружения на поверхности объекта изменений коэффициента температуропроводности, при освещении

1318863

Составитель В. Варнавский

Техред В.Кадар Корректор В. Бутяга

Редактор С. Пекарь

Заказ 2501/35 Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.,д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 на поверхности объекта формируют систему параллельных прямолинейных полос оптического излучения с поперечным распределением плотности мощности по гармоническому закону, перемещают систему по.пос в направлении, перпендикулярном им т3 регистрируют в процессе перемещсния искажения прямолинейности полос и амплитуду температурной волны, по величинам которых судят об изменении температуропроводности на поверхности объекта.