Микроскоп

 

Изобретение относится к экспериментальной физике-элементарных частиц и может быть использовано при исследовании свойств элементарных частиц. Цель изобретения - уменьшение продольных размеров 1 кроскопа при заданных апертуре и диаметре обьективов. Оптические элементы объективов выполнены зеркальными в виде параболоидов 2 вращения. Образующая мезооптических зеркал 3 является ломаной линией, каждый отрезок которой касателен к параболе, с фокусом, расположенным на оптической оси микроскопа . Мезоопт 1ческие зеркала 3 совместно с оптическими зеркалами в виде параболоидов 2 формируют протяженное изображение точечного источника света 1 в области расположения трехмерного объекта. 1 ил. с (Л Ю 00 ;о со ел

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (lQ) (l1) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К Д ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРИТИЙ (21) 3935417/24-10 (22) 29.07.85 (46} 15.07.87. Бюл. У 26 (71) Объединенный институт ядерных исследований (72) Л.М. Сороко (53) 535.822.1 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Н- 1273861, кл. G 01 В 2!/00, 1985.

Авторское свидетельство СССР

Ф 1183934, кл. G 02 В 21/00, 1984. (54) МИКРОСКОП (57) Изобретение относится к экспе— риментальной физике элементарных частиц и может быть использовано при исследовании свойств элементар1 !! 4 С 02 В 2!/OO // Г О! Т 510 ных частнц. Цель изобретения — умень- шение продольных размеров ««икрОскопа при заданных апертуре и диаметре объективов. Оптические элементы объективов выполнены зеркальными в виде параболоидов 2 вращения. Образующая мезооптических зеркал 3 является ломаной линией, каждый отрезок которой касателенк параболе, с фокусом, расположенным на оптической оси микроскопа. Мезооптические зеркала 3 совместно с оптическими зеркалами в виде параболоидов 2 фор«с«руют протяженное изображение точечного источника света 1 в области расположения трехмерного объекта. ил.

1323995

Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано н методике треконых детекторон при исследовании свойств элементарных, в частнос;и ко.роткоживущих,.частиц.

Пель изобретения — уменьшение продольных габаритных размеров микроскопа при заданном фокусном расстоянии, т.е. при заданных апертуре и диамет- 10 ре объективов микроскопа.

На чертеже представлен микроскоп, общий вид, н разрезе.

Микроскоп преимущественно для наблюдения трехмерных объектов содержит 15 точечный источник 1 свeта„ дна зеркала 2 н виде параболоидон вращения, два мезооптических зеркала 3 с образующей в виде ломаной линии, .образующие первый и второй объективы, две 20 центральные непрозрачные круглые шторки 4, предметный столик 5„ датчик 6 положения предметного столика и точечный фотоприемник 7.

Микроскоп работает следующим образом.

Лучи света от точечного источника

1 света частично задержинаются центральной непрозрачнои круглой шторкой

4, а частично попадают на зеркало 2 в форме параболоида вращения. После отражения от. зеркала 2, н фокусе которого находится точечный источник

1 света, лучи света превращаются н параллельный пучок света, который, 3э отразившись от мезооптического зеркала 3, формирует протяженное изображение точечного источника света в области расположения трехмерного объекта. Прошедшие сквозь трехмерный объект лучи света попадают на второе мезооптическое зеркало 3, превращаются в параллельный пучок света, который второе зеркало 2 фокусирует н точку, совпадающую с точечным фотоприемником 7. Характеристики трехмерного объекта фиксируются по изменению интенсивности света, прошедшего через даннь1й элемент проекционного иэображения трехмерного

50 объекта„

Исследуемый трехмерный объект, например толстослойную ядерную фотоэмульсию, устананливают на предметный столик 5 так, чтобы отрезок протяженного изображения точечного источника света, который формируется зеркалами 2 и 3 первого объектива, полностью перекрывал трехмерный объект по глубине. Включив точечный источник 1 света, датчик 6 положения предметного столика и точечный фотоприем11ик 7, перемещают вдоль координатных осей предметный столик 5 вместе с исследуемым трехмерным объектом. Фиксируют показания датчика 6 положения предметного столика и точечного фотоприемника 7. При необходимости операцию сканирования повторяют при других нзаимнь1х положениях протяженного изображения точечного источника света и трехмерного объекта.

Сущность изобретения состоит в том, что предлагаемыймикроскоп содержит дна мезооптических зеркала, которые вместе с оптическими зеркалами,имеющими зеркальные поверхности второго порядка. формируют протяженное изображение точечного источника света, при этом в микроскопе точечный источник света расположен существенно ближе к области расположения объекта, что обеспечивает уменьшение продольных габаритных размеров микроскопа при заданном фокусном расстоянии оптических и .1езоо11ти еских элементов и1 - ;при заданных апертуре и диаметре объективов микроскопа. Форма зеркальной поверхности мезооптического зеркала, являющейся фигурой вращения, определяется образующей этой поверхности, имеющей нид ломаной линии, отрезки которой касаются параболы, при этом фокус параболы расположен на оптической оси в центральной плоскости микроскопа.

Продольный размер в предлагаемом микроскопе равен 2(f+L)+2t, где конструктивная толщина оптических зеркал микроскопа. Обычно t=t Ы< f например t i мО,lf, поэтому продольный размер микроскопа равен 2,4f,в то время как н прототипе он составляет 4f.

Формула и з о б р е т е н и я

Микроскоп преимущественно для наб людения трехмерных объектов, содержащий последовательно расположенные вдоль оптической оси микроскопа точечный источник света, первый объектив, предметный столик для размещения трехмерного объекта, установленный с воэможностью перемещения, второй объектив и точечный фотоприем13239

Составитель И. Осташенко

Техред Л.Сердюкова Корректор C. щекмар

Редактор А. Огар

Заказ 2963/51 Тираж 521 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Pàóøñêàÿ наб., д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная. 4 ник, при этом каждый из объективов выполнен в виде двух элементов, одного — оптического, в фокусе которого расположен точечный источник света или точечный фотоприемник соответственно, и второго — мезооптического с непрозрачной центральной круглой шторкой, образующая рабочей поверхности которого выполнена в виде ломаной линии, о т л и ч а ю — 10 шийся тем, что, с целью уменьшения продольных габаритных pasMeров при заданном фокусном расстоянии каждого из объективов микроскопа, оптические элементы обоих объекти- 15 вов выполнены зеркальными в виде.параболоидов вращения, ось. которых совпадает с оптической осью микроскопа, рабочие поверхности мезооптических элементов каждого из объективов также70 выполнены зеркальными, а каждый отре95 4 зок ломаной линии ее образующей касателен к параболе, фокус которой расположен на оптической оси к области расположения трехмерного объекта, при .. этом зеркальные поверхности первого и второго элементов каждого из объективов обращены одно к другой, а длина l(i) i-ro отрезка указанной ломаной линии выбрана из условия

1(i)=Lsin8(i)/cos—

Вш где L — - требуемая глубина резкости микроскопа;

8(i)=atctgR(i)/f;

f — фокусное расстояние мезооптического зеркального элемента;

R(i) — расстояние от точки касания

i-и отрезком укаэанной параболы до оптической оси мик роскопа.

Микроскоп Микроскоп Микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптике и позволяет повысить точность юстировки исследуемого зеркала путем улучшенной визуализации положения его оптической оси

Изобретение относится к технической оптике

Изобретение относится к оптике, в частности к зеркалам, положение в пространстве которых регулируется

Изобретение относится к технологии оптического приборостроения и позволяет повысить качество оптической поверхности зеркала за счет.исключения трещин и складок и обеспечения равномерности механических свойств пленки

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет повысить качество изображения и упростить конструкцию элемента

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к конструкциям оптических элементов концентраторов крупных размеров

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет обеспечить равномерность освещения полей, имеющих угловой размер 2 У 0,10 рад

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и позволяет повысить эффективность наблюдения прямых следов частиц, идущих под КР- лым углом к оптической оси микроскопа Конденсор 2 оптического микроскопа снабжен кольцевой дифракционной решеткой 3, центры кольцевых бороздок которой образуют эквидистантную последовательность точек на прямой линии в плоскости решетки

Микроскоп // 1273861

Микроскоп // 1136094
Наверх