Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий

 

Изобретение относится к методам неразрутаающего контроля и может быть использовано для контроля качества малогабаритных изделий в автоматизированных системах. Целью изобретения является повышение надежности контроля за счет уменьшения числа ошибок при колебаниях электромагнитных свойств изделий. При пере- . мещении контролируемого изделия 15 по трубопроводу последовательно осуществляется его контроль в п-точках, число которых равно числу измерительных преобразователей. Первоначально осуществляется обучающая выборка на эталонных изделиях, результаты которой регистрируются в блоке 12 образцовых сигналов. На втором этапе производится контроль исследуемых изделий. Результаты контроля сравниваются в арифметико-логическом блоке 5 и по результатам вырабатывается команда для блока 6 разбраковки. В случае изменения свойств изделий дополнительная информация накапливается во втором блоке 10 образцовых сигналов. 1 ил. сл с 00

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛ ИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН д1 (19) (11) (511 4 . G 01 N 27/90. ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ/ СВИДЕТЕЛЬСТВУ сс с с с

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4039969/25-28 (22) 20.03.86 (46) 23.07.87. Бюл; У 27 . (71) Куйбышевский электротехнический институт связи (72) А.П. Алексеев, Ю.Г. Артемьев, В.В. Зотов, А.В. Кирякин и В.Е. Шатерников (53) 620. 179. 14(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 930101, кл. G 01 N 27/00, 1982.

Авторское свидетельство СССР

Ð 1,14967, кл. С 01 N 27/90, 1985. (54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

ДЛЯ КОНТРОЛЯ КОРОТКИХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля качества малогабаритных изделий в автоматизированных системах. Целью изобретения является повышение надежности контроля за счет уменьшения числа ошибок при колебаниях электромагнитных свойств изделий. При перемещении контролируемого изделия 15 по трубопроводу последовательно осу" ществляется его контроль в п-точках, число которых равно числу измерительных преобразователей. Первоначально осуществляется обучающая выборка на эталонных изделиях, результаты которой регистрируются в блоке 12 образцовых сигналов. На втором этапе производится контроль исследуемых изделий. Результаты контроля сравниваются в арифметико-логическом блоке 5 и по результатам вырабатывается команда для блока 6 разбраковки. В случае изменения свойств изделий дополнительная информация накапливается во втором блоке 10 образцовых сигналов. 1 ил.

13

Изобретение относится к методам нераэрушающего контроля и может быть использовано для контроля качества малогабаритных изделий в автоматизированных системах.

Цель изобретения — повышение надежности контроля за счет уменьшения числа ошибок при колебаниях электромагнитных свойств изделий.

На чертеже представлена структурная схема электромагнитного дефектоскопа для контроля коротких иэделий.

Дефектоскоп содержит ш соосно ус" тановленных измерительных преобразователей 1.1-1.ш, и вспомогательных преобразователей 2.1-2,п, установленных соосно с измерительными, соединенные последовательно формирователь 3, к входу которого подключены измерительные преобразователи 1.11.ш, измерительный блок 4, арифметико-логический блок 5 и блок 6 разбраковки, соединенные последовательно блок 7 управления, к входам которого подключены вспомогательные преобразователи 2.1-2.п, счетчик 8, схему 9 коммутации, блок 10 образцовых сигналов и схему 11 коммутации, выход которой подключен к второму входу арифметико-логического блока 5.

Устройство также содержит блок 12 образцовых сигналов, первый вход которого объединен с входами измерительного блока 4 и блока 10 образцовых сигналов и подключен к блоку 7 управления, второй вход объединен с тактовыми входами блока 10 образцовых сигналов и схемы 11 коммутации и подключен к выходу счетчика 8, а выход соединен с вторым входом схемы

11 коммутации; переключатель 13, .под" ключенный к входам блоков 10 и 12 образцовых сигналов и к второму выходу арифметико-логического блока 5.

Тактовый вход схемы 9 коммутации соединен с выходом формирователя 3.

Кроме того, устройство содержит распределитель 14 и трубопровод 16 для транспортировки изделия 15.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Принцип действия дефектоскопа основывается на предварительном усреднении и запоминании информации от изделий обучающей выборки (обучении) последующем сопоставлении текущей и образцовой информации (контроль) и одновременном усреднении информа25348

1 5

ЗО

Э ции от изделий, признанных годными (самообучение).

Запоминание информации производится в некоторых определенных точках, которые называются контрольными.

Число контрольных точек удобно выбирать равным числу вспомогательных преобразователей 2.1-2.п. В этом случае обучение, распознавание (контроль) и самообучение должны происходить лишь в момент вхождения края изделия в очередной вспомогательный преобразователь. Таким образом, в памяти дефектоскопа (в блоках 10 и

12 образцовых сигналов) после обучения и самообучения хранятся усредненные дискретизированные сигналы, описывающие годные изделия.

Для ослабления влияния мешающих и дестабилизирующих факторов на надежность контроля используются два блока 10 и 12 образцовых сигналов.

При этом один блок в каждый момент времени используется для формирования образцового Сигнала, а второй блок образцовых сигналов — для усреднения и запоминания информации о годных изделиях. После прохождения некоторого заранее определенного числа годных изделий происходит коммутация входов и выходов обоих блоков 10 и

12 образцовых сигналов и они меняются ролями.

Вначале дефектоскоп переводится в режим "Обучение". Для этого средний вывод переключателя 13 замыкается с верхним контактом,.который подключен к выходу блока 7 управления. Счетчик

8 и блоки 10 и 12 образцовых сигналов устанавливаются в исходное состояние.

Далее из годных изделий отбирается обучающая выборка. Изделия обучающей выборки перемещаются под действием собственного веса внутри трубапровода 16. На выходе счетчика 8 сформирован сигнал логического "0", за счет чего выход формирователя 3 оказывается подключенным через первую схему 9 коммутации к четвертому входу первого блока 12 образцовых сигналов.

Таким образом, формирование информации об изделиях обучающей выборки будет происходить в первом блоке

12 образцовых сигналов. По командам блока 7 управления сигналы, поступающие с выхода формирователя 3, дискретизируются и суммируются в блоке

45

ВНИИПИ Заказ 3043/38 Тираж 776

Подписное

Произв.-пойигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

13?53

12 образцовых сигналов, где по окончании обучения хранится усредненная ,информация. После прохождение последнего изделия из обучаюшей вь»борс, ки на выходе счетчика 8 появляется сигнал логической " 1". За счет этого выход формирователя 3 подключается к первому входу блока 10 образцовых сигналов, а выход блока 12 образцовьгх сигналов через вторую схему 11 коммутации соединяется с. входом арифметико-логического блока 5. Очевидно, что коэффициент деления счетчика 8 должен соответствовать выбранному числу изделия в обучающей и самообучающей выборке.

Далее необходимо перевести дефектоскоп в режим "Самообучение" (" Контроль"). Для этого переключатель 13 переводится в нижнее положение.

В режиме "Сасообучение" (" Конт— роль") при движении контролируемого изделия 15 внутри трубопровода

16 в моменты вхождения начала изделия в измерительном блоке 4 формируются текущие сигналы.. Арифметико-логический блок 5 отождествляет образцовые сигналы с текущими сигналами в одинаковых контрольных точках. По результатам сравнения дается команда в блок 6 разбраковки отправить контролируемое изделие 15 в приемник годной или бракованной продукции (не показаны). Одновременно с процессом распознавания идет процесс

35 самообучения. Новые образцовые сигналы формируются в блоке 12. При этом запись в память блока 10 образцовых сигналов происходит лишь по команде, поступающей через переключатель 13.

После поступления на контроль годных изделий, число которых равно коэффициенту деления счетчика 8, на выходе последнего появляется сигнал логического нуля, и выход блока 10 образцовых сигналов через вторую схему 11 коммутации подключается к входу арифметико-логического блока 5, а выход формирователя 3 через схему

9 коммутации — к четвертому входу

50 блока 12 образцовых сигналов. Периодическое изменение образцового сигнала позволяет "отследить" и ослабить медленные изменения мешающих и дестабилизирующих факторов. Син48

4 хра»»»»зац»»я р::боты всего устройства осуществляете» распрсделителем 14.

Ф о р м у л а и з î б р е т е»» и я

Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий соединенные последовательно

m соосно установленных измерительных преобразователей и формирователь, и вспомогательных преобразователей, установленных соосно с измерительными преобразователями, соединенные последовательно блок управления, к входу которого подключены вспомогательные преобразователи, измерительньп» блок, к второму входу которого подКлючен выход формирователя, арифметико-логический блок и блок разбраковки, соединенные последовательно переключатель подключенный к второму выходу арифметико-логического блока и блок образцовых сигналов, второй вход которого соединен с выходом блока управления, и распределитель, выходы которого подключены к блоку управления, измерительному блоку, блоку образцовых сигналов и арифметико-логическому блоку, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен соединенными последовательно счетчиком, суммирующий вход которого подключен к переключателю и блоку управления, а вычитающий вход соединен с выходом арифметико †логическо блока, первой схемой коммутации, управляющий вход которой соединен с выходом формирователя, а второй выход подключен к блоку образцовых сигналов, вторым блоком образцовых сигналов, второй вход которого подключен к блоку управления, третий вЪод объединен с пятым входом первого блока образцовых сигналов и подключен к выходу счетчика, четвертый вход второго блока образцовых сигналов подключен к распределителю, а пятый выход — к первому входу первого блока образцовых сигналов, и второй схемой коммутации, второй вход которой подключен к выходу счетчика, третий вход связан с вь»ходом первого блока образцовых сигналов, а выход второй схемы коммутации подключен к арифметико-логическому блоку.

Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения электрофизических пара метров электропроводящих изделий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и является усовершенствованием устройства по авт

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материала и изделий и может быть использовано в авиационной, машиностроительной, металлургической промышленности в ряде других областей народного хозяйства
Изобретение относится к неразрушающему контролю качества электропроводящих изделий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля методами вихревых токов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля

Изобретение относится к дефектоскопии электропроводных изделий электромагнитным методом

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано для исключения мешающих сигналов от концов длинномерных изделий, например труб

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроительной промышленности нри контроле изделий методами вихревых токов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх