Способ измерения световых потоков фотоэлектронным умножителем

 

Изобретение относится к способам измерения интенсивности слабых световых потоков в условиях воздействия на фотоприемник ионизирующего излучения . Цель изобретения - повьшение точности измерения световых потоков ,в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха. Для этого предварительно воздействуют световым потоком, определяют напряжения дискриминации, устанавливают их значения, измеряют световые потоки путем счета импульсов . Перед воздействием световым током фотоэлектронный умножитель облучают ионизирующим излучением, измеряют амплитудное распределение импульсов и анодный ток, регулируя световой поток, устанавливают аналогичное значение радиационного анодного тока, измеряют амплитудное распределение от светового потока, определяют отношение амплитудных распределений импульсов от светового потока и ионизирующего излучения, строят его график , а напряжения дискриминации определяют по расположению области плато на графике, после чего путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между напряжениями дискриминации, измеряют световые потоки. 1 ил. (Л CZ 00 4:

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (П) (51)4 С 01.Т 1 30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3922476/24-25 (22) 04,07,85 (46) 30.09.87. Бюл. к- 36 (72) С.Н.Макеев, B.À.Ïåòðîâ, И,N.Ñìåëÿíñêèé и Н.М.Трубицын (53) 535.24 (088,8) (56) Ветохин С,С. и др. Одноэлектронные фотоприемники, N.: Атомиздат, 1979, с, 139. 141 ..

Там же, с, 147. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕТОВЫХ ПОТОКОВ ФОТОЭЛЕКТРОННЫМ УМНОЖИТЕЛЕМ (57) Изобретение относится к способам измерения интенсивности слабых световых потоков в условиях воздействия на фотоприемник ионизирующего излучения. Цель изобретения — повышение точности измерения световых потоков .в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха. Для этого предварительно воздействуют световым потоком, определяют напряжения дискриминации, устанавливают их значения, измеряют световые потоки путем счета импульсов. Перед воздействием световым по током фотоэлектронный умножитель облучают ионизирующнм излучением, измеряют амплитудное распределение импульсов и анодный ток, регулируя световой поток, устанавливают аналогичное значение радиационного анодного тока, измеряют амплитудное распределение от светового потока, определяют отношение амплитудных распределений импульсов от светового потока и ионизирующего излучения, строят его график, а напряжения дискриминации определяют по расположению области плато на графике, после чего путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между напряжениями дискриминации, измеряют световые потоки. 1 ил. товом и гамма.-воздействиях (кривая

3), определяют верхний (Б,=7 В) и нижний (U =10 В) пороги дискримина3z ции, при которых отношение сигнал/помеха сохраняется постоянным.

Далее для измерения световых потою ков, изменяющихся от 10 до 10 э лм в условиях воздействия ионизирующего излучения (Р =10 P/С, Р =10 P/ñ), устанавливают полученные значения порогов дискриминации U =7 В и U )Z

=10 В на амплитудном дискриминаторе и измеряют их путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между порогами дискриминации, Например, для скорости счета п=10 имп,/с величина светового потока составляет

=10 лм.

Способ измерения световых потоков позволяет измерить световые потоки в условиях воздействия ионизирующего излучения и при этом повысить в 2-5 раз чувствительность при измерениях световых сигналов в зависимости от используемого ФЭУ путем улучшения отношения сигнал/помеха в условиях воздействия ионизирующего излучения.

Формула и з о б р е т е н и я

Способ измерения световых потоков фотоэлектронным умнох<ителем, при котором на фотоэлектронный умножитель предварительно воздействуют контрольным световым потоком, определяют напряжения дискриминации, устанавливают их значения и измеряют световые потоки путем счета импульсов, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью г овышения чувствительности способа измерений в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха, перед воздействием измеряемым световым потоком фотоэлектронный умножитель облучают ионизирующим излучением, измеряют анодный ток, устанавливают его.значение в пределах, не превышающих средний допустимый анодный ток, измеряют амплитудные распределения импульсов от светового потока и ионизирующего излучения, находят их отношение, а напряжения дискриминации определяют на уровне 0,8-0,9 от максимального отношения амплитудньж раснределений импульсов, после чего путем счета импульсов, амплитуды которых находятся между напряжениями дискриминации, измеряют световые потоки.

1341500 Изобретение относится к способам измерения световых потоков, в частности к способам измерения интенсивности слабых световых потоков .в условиях воздействия на фотоприемник ионизирующего излучения, Цель изобретения — повышение чувствительности способа измерения светового потока в условиях воздействия ионизирующего излучения путем улучшения отношения сигнал/помеха.

На чертеже представлены амплитудное распределение импульсов от светового потока (кривая 1), амплитудное распределение импульсов от ионизирующего излучения - (кривая 2) и отношение амплитудных распределений импульсов при световом и гамма-воздействиях (кривая 3).

Способ осуществляют следующим образом.

Предварительно фотоэлектронный умножитель (ФЗУ) с сурьмяно-цезиевым фотокатодом анодной чувствительностью 25

300 А/мл и минимальной шириной импульса анодного тока на полувысоте

2,5 нс облучают, например, гамма-излучением с мощностью дозы Р =10 P/ñ, измеряют амплитудное распределение 30 .импульсов с помощью одноканального дифференциального дискриминатора (кривая 2) и анодный ток I с помощью лампового гальванометра (при PI,=

=10 P/с I =1, 1 ° 10 А) . Затем убирают 5 источник гамма-излучения и этот же

ФЗУ освещают источником света (например, лампа накаливания в режиме работы типа А), Световой поток регулируют се таким образом, чтобы величина 1 при 10 световом воздействии была равна току, полученному при гамма †облучен (в

cs данном случае I =-Х =1,1 .10 А), и измеряют амплитудное распределение импульсов от светового потока (кривая 1). Это позволяет производить измерения амплитудного распределения импульсов при сравнимых скоростях счета от светового и радиационного воздействий.

По полученным графикам строят зависимость отношения амплитудных распределений импульсов при световом и гамма-воздействиях (n, /и ) от напряжения дискриминации (кривая 3) и по расположению области плато (А,Б), которое соответствует уровню 0,8-0 9 от максимального отношения амплитудных распределений импульсов при све1341500

0,5

Составитель E.Ìàêîëêèí

Техред M.Äù üï

Корректор А.Тяско

Редактор А.Orap

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 и, ими/с

Заказ 4426/45 Тираж 776

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

n