Способ определения нормальных и касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала

 

Способ относится к технике измерения напряжения и дефор.мацйй и может быть использован для определения нормальны.х к касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала. Цель изобретения - снижение трудоемкости испытаний волоконных материалов при многоточечных из.мсрениях за счет сокращения числа используемых тензорезисторов и каналов электронной аппаратуры. Это достигается проведением предварительных исс,1едований положения особых осей, для которых деформации от силы, действующей перпендикулярно заданному направлению, минимальны, на образцах из того же материала. На образце и на объекте наносят но заданному направлению 1 относительно направленпя 2 волокон верхнего моя линию разметки. На образец нак.1енвают под различными углами тензорезисторьк а носле исс,тедования но,к)- жен 1я особых ocei i - два тензорезистора по направлениям этих осей и енимаю 1 градуировочные характерггстикн образца при действии снгы и момента. По }1аправ, 1ению осей на объект наклеивают тензорезисторы 3 и 4 и их показания ровывают с учетом ранее полученных градуировочных характеристик. Способ экономит до 30% требуемого количества тензорезисторов и каналов измерения. 1 ил. S (Л , оо 01 о 4 00 ю .

1350482 — и + /? тху—

k l 1k1?2 k12 21

Формула изобретения

Е! — ?1!Ох + ?12тху, E2=k21Gx + k22Txy, Изобретение относится к технике измерения деформаций и напряжений и предназначено для использования при экспериментальных исследованиях прочности машин различных видов и других инженерных объектов.

Цель изобретения — снижение трудоемкости испытаний волоконных материалов при многотбчечных измерениях за счет сокрашения числа используемых тензорезисторов и каналов электронной аппаратуры.

На чертеже изображена схема установки тензорезисторов на объект исследования.

На схеме заданы линия 1 разметки (направление, по которому необходимо найти нормальные и перпендикулярные к нему касательные напряжения) и направление 2 волокон верхнего слоя материала. На объекте закреплены два тензорезистора 3 и 4 под углами ф1 и ф2 к заданному разметкой направлению.

Способ осушествляют следующим образом.

До испытаний на образце из того же материала, что и объект, под разными углами (с шагом 10 — 20 ) к направлениго волокон верхнего слоя устанавливают тензорезисторы. Наносят на образец угол, равный углу р между заданным на объекте линией разметки направлением и направлением волокон верхнего слоя материала, как показано на чертеже. Затем к образцу прикладывают усилие, перпендикулярное линии разметки.

По показаниям тензорезисторов при нагружении образца аппроксимируют их методом наименьших квадратов или другим способом, находят угловое положение особых осей, для которых деформации от приложенной нагрузки минимальны. Отмечают углы и ф2, составляемые особыми осями с направлением, определенным линией разметки. Далее на образце устанавливают два тензорезистора с осями, параллельными особым осям. К образцу прикладывают усилия в направлении линии разметки и пару сил, создающую напряжения сдвига, и определяют коэффициенты, входяшие в аналитические выражения градуировочных характеристик: где в1 и е2 — относительные удлинения, измеренные обоими тензорезисторами; о„и т„, — нормальное и касательное напряжения при градуировке; 11 12 1 21

k22 — коэффициенты 11ропорциональности.

В основном эксперименте на объекте в каждой контрольной точке устанавливают по два тензорезистора 3 и 4 под найден30

55 ными углами ф1 и ф2 к линии 1 разметки, проводят испытания и по найденным градуировочным характеристикам определяют искомые нормальные и касательные напряжения о„и т„„по формулам

В1 22 <2 12 ох—

k1 1k?2 k12k21 где в1 и в2 — относительные удлинения, измеренные тензорезисторами 3 и 4.

Использование предлагаемого способа для определения нормальных и касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала позволяет на ЗОО сократить число используемых на объекте тензорезисторов и сопряженных с ними каналов электронной аппаратуры, что существенно облегчает проведение измерений в местах, где возможности размещения тензорезисторов и подвода к ним кабельной сети ограничены по условиям проведения испытаний.

Способ определения нормальных, и касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала, заключающийся в том, что на объекте закрепляют под различными углами тензорезисторы и по их показаниям определяют напряжения, отлича>ощийся тем, что, с целью снижения трудоемкости испытаний волоконных материалов при многоточечных измерениях за счет сокращения числа используемых тензорезисторов и каналов электронной аппаратуры, определяют на объекте угол между заданным размоткой направлением и направлением волокон верхнего слоя материала, изготавливают из того же материала образец, наносят на нем под этим углом линию разметки, наклеивают на образец под различными углами относительно линии разметки тензорезисторы, нагружают образец усилием, перпендикулярным линии разметки, по показаниям тензорезисторов определяют относительно линии разметки угловые положения особых осей, для которых деформации от этой силы минимальны, на образец и на объект по направлениям особых осей наклеивают по два тензорезистора на каждую точку объекта и на образец, последовательно прикладывают к образцу усилия в направлении линии разметки и пару сил, создающую напряжения сдвига, измеряют градуировочные характеристики тензорезисторов в обоих случаях нагружения образца и определяют напряжения на объекте с учетом полученных градуировочных характеристик,

Способ определения нормальных и касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала Способ определения нормальных и касательных напряжений по заданному направлению в контрольных точках объекта из листового анизотропного материала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению деформации машиностроительных конструкций

Изобретение относится к тензометрии сложных инженерных конструкций, например самолетов, при статических испытаниях, когда исключена достоверность регистрации показании тензодатчиков при отсутствии воздействующей нагрузки в связи с необходимостью предварительной выборки люфтов в системе нагружения и в испытуемой конструкции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в строительстве и горно-добывающей промьшленности, в частности при наблюдениях за длительными смещениями грунтов и горных пород

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Тензометр // 1343239
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений линейных перемещений объекта

Изобретение относится к тензометрическим мостовым схемам, в том числе выполняемым по микроэлектронной технологии, в виде монолитных замкнутых четырехплечих мостов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях остаточных сварочных деформаций в плоских тонколистовых деталях конструкций

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх