Способ визуализации дефектов

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для визуализации дефектов , полученных при контроле матричньми преобразователями. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет ступенчатой фильтрации сигнала. При последовательном сканировании матричного визсретокового преобразователя 1 Полученный сигнал периодически сравнивается в компараторе 3 с эталонным ступенчатым сигналом, генерируемым цифроаналоговым преобразователем 9. В случае превышения информационного сигнала над эталонным открывается ключ 4 и генератор 10 высокочастотным сигналом модулирует электронный луч в осциллографе 6 по вертикали, вызывая засвечивание соответствующего элемента растра. Таким образом длительность свечения каждого элемента растра пропорциональна амплитуде сигнала от соответствукщего элемента матричного вихретокового преобразователя . 2-3.п. ф-лы, 1 ил. i (Л со ел о сд со со

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 G 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

4 \

° М

° °

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3990212/25-28 (22) 17. 12,85 (46) 07.11.87. Бюл. - 41 (71) Московский энергетический институт (72) В.М.Агеев, Л.Е.Минят и С.А.Филист (53) 620.179.14(088 ° 8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 1185215, кл. G 01 N 27/82, 1985.

Авторское свидетельство СССР

У 1111093, кл. G 01 N 27/90, 1984. (54) СПОСОБ ВИЗУАЛИЗАЦИИ ДЕФЕКТОВ (57) Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для визуализации дефектов, полученных при контроле матричными преобразователями. Целью изобретения является повьппение достовер„„SU„„1350593 А 1 ности контроля за счет ступенчатой фильтрации сигнала. При последовательном сканировании матричного вихретокового преобразователя 1 полученный сигнал периодически сравнивается в компараторе 3 с эталонным ступенчатым сигналом, генерируемым цифроаналоговым преобразователем 9. В случае превышения информационного сигнала над эталонным открывается ключ 4 и генератор 10 высокочастотным сигналом модулирует электронный луч в осциллографе 6 по вертикали, вызывая засвечивание соответствующего элемента растра. Таким образом длительность свечения каждого элемента растра пропорциональна амплитуде @ сигнала от соответствующего элемента фф матричного вихретокового преобразователя. 2.з.п. ф-лы, 1 ил. С:

1350593

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано в промышленности при визуализации

5 дефектов с помощью матричных преобразователей, Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет ступенчатой фильтрации сигнала. 10

На чертеже приведена структурная схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит соединенные последовательно матричный вихретоковый преобразователь 1, детектор 2, компаратор 3, ключ 4, сумматор 5 и осциллограф 6.

Так же устройство содержит блок 7 развертки, выходы которого подключены к матричному вихретоковому преобразователю 1, сумматор 5 и осциллографу 6, соединенные последовательно счетчик 8 и цифроаналоговый преобразователь 9, включенные между выходом блока 7 развертки и вторым входом компаратора 3, и генератор 10, подключенный ко второму входу ключа 4, Устройство реализует способ следующим образом.

При возбуждении вихревых токов в объекте контроля (не показан) матричный вихретоковый преобразователь

1 регистрирует распределение магнитных полей в объекте контроля. Полученный сигнал детектируется детекто35 ром 2 и поступает на вход компаратора 3, на второй вход которого поступает ступенчатое напряжение с выхода цифроаналогового преобразователя

9. Блок 7 развертки осуществляет последовательный опрос элементов матричного вихретокового преобразователя 1 и соответствующее перемещение электрического луча осциллографа 6.

Напряжение от генератора 10 суммируется в сумматоре 5 с напряжением развертки и поступает на осциллограф

6. Амплитуда А этого сигнала подобрана таким образом, что

Н

A=k — i

2п где Н вЂ” требуемый размер растра на экране;

n — - число элементов в столбце .

I матричного вихретового преобразователя;

К вЂ” масштабный коэффициент.

При достаточно высокой частоте генератора 10 на экране осциллографа можно наблюдать участок однородной яркости, размеры которого определяются блоком 7 развертки.

Одновременно импульсы кадровой развертки поступают на счетчик 8, генерирующий последовательность чисел, преобразуемую аналого-цифровым преобразователем в i-ступенчатый сигнал. При амплитуде информационного сигнала, меньшей чем эталонное напряжение, компаратор 3 не срабатывает, и на экране будет наблюдаться темный растр. При повышении амплитуды сигнала компаратор 3 срабатывает и на экране осуществляется засветка.

Глаз оператора проинтегрирует полученные засветки, в результате чего яркость свечения каждого элемента экрана будет определяться величиной сигнала.

При реализации предлагаемого способа на алфавитно-цифровом дисплее сигнал запоминается в буферной памяти (не показана), затем высвечивается .на экране в виде одного из символов алфавита, например +, Так как при этом буферная память периодически будет очищаться, то на экране будет наблюдаться светящийся элемент, величина свечения которого пропорциональна амплитуде сигнала.

Формула и з о б р е т е н и я

1. Способ визуализации дефектов, заключающийся в том, что контролируемую область и растр телеиндикатора разбивают на равное число элементов матрицы размером m x n и последовательно регистрируют величину сигнала от каждого элемента матрицы в виде яркости свечения соответствующего элемента растра телеиндикатора, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения достоверности конт-. роля, сканирование матрицы повторяют

i-циклов, одновременно генерируют образцовый i-ступенчатый сигнал, изменяющийся за -циклов от нуля до заданной величины, сравнивают в каждом цикле образцовый сигнал с информационным и засвечивают те элементы матрицы растра, для которых уровень информационного сигнала превышает уровень образцового сигнала.

Составитель Ю. Глазков

Техред А. Кравчук Корректор И.Муска

Редактор Н.Егорова

Заказ 5280/45

Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 з

1350593

2. Способ по п. 1, о т л и ч а— нии B качестве растра телеиндикатора ю шийся тем, что при использова- экрана алфавитно-цифрового дисплея, нии в качестве растра телеиндикатора в каждом цикле сканирования матрицы экрана осциллографа для засвечива- формируют соответствующий массив ния элементов матрицы растра осущест- двухполутоновых изображений, харак5 вляют дополнительное отклонение теризующий результаты сравнения сигэлектронного луча по вертикали высо- налов, а затем периодически выводят кочастотным напряжением амплитудой эти массивы на экран с частотой f =

А = kH/2п, где k — масштабный коэф- 10 = 1/(1 + Ы) Tk, где Т вЂ” время отрафициент,Н вЂ разм растрапо вертикали. жения каждого кадра, Ы вЂ” время

3. Способ по п. 1, о т л и ч а ю- очистки и записи буферной пашийся тем, что при использова- мяти.

Способ визуализации дефектов Способ визуализации дефектов Способ визуализации дефектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при проектировании средств электромагнитной дефектоскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля электропроводящих объектов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для дистанционного контроля состояния поверхности изделий из ферромагнитных сталей

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано в машиностроении для определения структуры и качества термообработки ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использоваться для вихретоковой дефектоскопии плоских электропроводящих объектов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано в мащиностроении для измерения толщин изделий из неэлектропроводящих материалов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх