Устройство для анализа фракционного состава микрочастиц

 

Изобретение относится к приборам для анализа фракционного состава микрочастиц и может быть использовано при контроле технологических процессов и загрязнения окружающей среды. Цель - повышение точности анализа. В изобретении используется линейка из п+1 фотоприемников, ориентированная вдоль оси зондирующего луча, причем анализируемый объем и линейка фотоприемников находятся в плоскостях, оптически сопряженных фокусирующей оптической системой.Это позволяет вести параллельный независимый набор информации со всех фотоприемников, Тем самым ускоряется набор информации и повышается точность анализа. 2 ил. Ф

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1357807 (51)4 G 01 11 21/53, .15/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н ASTOPCHOIVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4051747/28-25 (22) 07 ° 04.86 (46) 07.12.87,Бюл, У 45 (71) Всесоюзный научно»исследова, тельский институт. биологического приборостроения (72) К.К.Хухлаев, С.А.Воробьев и В,Г.Кабашов (53) 535.36 (088.8) (56) Дейрменджан Д. Рассеяние электромагнитного излучения сферическими частицами, М.: Мир, 1971, гл,2.

Патент США М 3361030, кл. G 01 N 15/02, опублик. 1968. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАПИЗА ФРАКЦИОННОГО СОСТАВА МИКРОЧАСТИЦ (57) Изобретение относится к приборам для анализа фракционного состава микрочастиц и может быть использовано при контроле технологических процессов и загрязнения окружающей среды. Цель — повышение точности анализа. В изобретении используется линейка из n+1 фотоприемников, ориентированная вдоль оси зондирующего луча, причем анализируемый объем и линейка фотоприемников находятся в плоскостях, оптически сопряженных фокусирующей оптической системой,Это позволяет вести параллельный независимый набор информации со всех фотоприемников. Тем самым ускоряется набор информации и повышается точность анализа. 2 ил.

Изобретение относится к техничес-кой физике, B частности K устройст- " вам для анализа микрочастиц при конт-роле технологических процессов и загрязнения окружающей среды промышленными выбросами, Цель изобретения -- повышени точ.ности анализа микрочастиц относи",ель.. но фракций, счетная концентрация кu.торых в пробе мала.

На фиг.1 представлена общая схема устройства; на фиг. 2 — регистрирук.щая часть устройства.

Устройство содержит источник 1 излучения, объектив 2, сопло 3 для по-дачи пробы в анализируемый объем,фокусирующую оптическук систему 4, и+! оптико-электронных фотоприемных трактов 5, входные элементы которых составляют линейку б и соединены с системой 7 обработки сигналов, Оо.ласть пересечения по-,îêà пробы и каустической поверхности 8 излучения образует анализируемый объем 9.

Устройство работает следующим oGразом.

Зондирующий луч объективом 2 заводится в анализируемый объем 9.Ког.да частипы пробы пересекают анализи-руемый объем 4, изображение частиц строится на линейку 6 входных элементов фотоприемных трактон, При этом в силу условий, накладываемых на количество входных элементов (и+1), максимальная вероятность попадания в отдельную входную апертуру с«ета более, чем от одной частицы, много меньше единицы, Поэтому в каждом фо.топриемном тракте вырабатываются сигналы от отдельных микрочастиц, Сигналы с каждого фотоприемного тракта поступают на систему 7 обработки данных, Анализ этих сигналов « сис-теме обработки позволяет сделать «ы-вод о фракционном соста«е микрочастиц пробы.

За счет повышения скорос — è набора информации в каналах, соответст-вующих наименее часто встречающимся в анализируемом потоке фракциям мик-. рочастиц, точность анализа этих фрак-ций увеличивается, 57807 2

Формулаи«1 брет ения

Устройство для а«ализа фракцион.ного состава ликрочастиц, содержаГ

;нее последовательно расположенные и оптически связа«ные между собой источник излучения, объектив, фокуси-рующую оптическую си стему и оптикоэлектронный фотоприемный тракт, соединенный = системой обработки сигнало« „а также сопло для подачи пробы

«анализируемый объем, расположенное между объективо. и фокусирующей оптической системой, о т л и ч а ю— щ е е с я тем, что, с пелью повышения точности анализа фракций микрочleтиц, счетная конпентрация которых

« пробе мала, и»и дополнительно содер>кит и оптико-электронных фотоприемных трактов,, ucib сопла для подачи проObl проходит через каустическую

Ii(>Heðõnîñòü излучения ис-.очника в его сфокусиро«анной части, а ось ка25 устической поверхности расположена

13 фокальной плоскости фокусирующей

«архности из:1учения, 1ричем увеличеline } фокусируюшей оптической система 3 мы общая пл1.шадь 8 апертур входHblx эз1ел1ент11«и их uG!Lee количество

1 ,11+1 ) с«яэа1« I соот11ошением, г

+ } C с Г 9

С л

}(2

40 где. «анспма.-1ьная счетная, нце!1Tpitttns част1зц B анализируемой пробе; размер анализируемого .бъема « направлении.: си оп:t;! д.1я подачи пр;1бы 1 шиpn1га потока пробы в

:-..,1праззлении оси каусгиче оной 1«озер <ности

:1:злу! ei!:! s; период 1инейки входных

"=.ëeìe 1тозз оптико-электро11ных фотоприемных

1 рал. t u«, о11тической системы, при этом вход1я е элемен1ты ззсех оптико — электронных фо, uttpnem!ых тракто«образуют линей.Зб ку, находящуюся в плоскости изображе.-!

itis фокуспрующей оптической систель1 и !iûð!1ëëåëünóþ оси каустической по1357807

Составитель В,Калечиц

Техред М.Дидык

Редактор П,Гереши

Корректор А.Зимокосов

Заказ 5990/42

Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãîðîä, ул.Проектная, 4