Способ определения параметров колебаний объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения с использованием голографической интерферометрии параметров колебаний объекта. Цельюизобретения является увеличение определяемых параметров за счет обеспечения измерения фазы колебаний, расширение диапазона и увеличение точности определения амплитуд колебаний . В течение времени t , выбираемого из условия t ;L :tn,rAe t. , t „- времена, необходимые для записи голограммы в реальном времени и с усреднением во времени, осуществляют экспонирование опорной и предметной волнами фоторефрактивного кристалла 4. Одновременно с экспонированием осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне. В резулвтате этого восстанавливается голограмма получаемая при экспонировании. Регистрируют с помощью фоторегистратора 5 зависимость интенсивности восстановленной волны от времени по полученным в результате обработки этой зависимости данным определяют амплитуду и фазу колебаний объекта 6. 2 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (11) (51)4 G 01 Н 00

3CFCA<»e1q

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

° lf%".н" ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4014332/24-28 (22) 15.01.86 (46) 30.01.88. Бюл. t(- 4 (71) Куйбышевский государственный университет и Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе (72) В.П.Гаращук, Т.П.Гаращук, В.В.Ивахник и А.А.Камшилин (53) 534.615(088.8) (56) Патент Франции У 2385079, кл. С 01 В 9/027, 1977. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

КОЛЕБАНИЙ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения с использованием голографической интерферометрии параметров колебаний объекта. Целью изобретения является увеличение определяемых параметров за счет обеспеI чения измерения фазы колебаний, расширение диапазона и увеличение точности определения амплитуд колебаний. В течение времени, выбираемого из условия t c i t,где

Ф вЂ” времена, необходимйе для записи голограммы в реальном времени и с усреднением во времени, осуществляют экспонирование опорной и предметной волнами фоторефрактивного кристалла 4. Одновременно с экспонированием осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне. В резулвтате этого восстанавливается голограмма, получаемая при экспонировании. Регистрируют с помощью фоторегистратора

5 зависимость интенсивности восстановленной волны от времени по полученным в результате обработки этой зависимости данным определяют амплитуду и фазу колебаний объекта 6. 2 ил.

1 1370463 и фаз (uR, Z), сивности восстановленновленного пучка от () а (чй) и Ь(З!) Z(t) = — ехр о

Е(е Z)dt !

Г ехр где

f (t t)L

Чч

1, A Л вЂ” +

4 12

Z = (п+ 1) Л/4+

А при Z ) ! (оЗ,t) — фаза косинусоиды с частотой о) колебания, соответствующая положению

1!

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения методом. голографической интерферометрии парамет ров колебаний объекта. где

Цель изобретения - увеличение определяемых параметров колебаний за счет обеспечения., измерения фазы колебаний, расширение диапазона и увеличение точности определения амплитуд колебаний объекта.

На фиг. 1 изображена оптическая схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 зависимость интенсивности восстановленного пучка от времени.

Оптическая схема устройства для осуществления предлагаемого способа содержит источник 1 когерентного из- Zp лучения, зеркало 2, светоделитель 3, фоторефрактивный кристалл 4 и фоторегистратор з. Позицией 6 обозначен исследуемый колеблющийся объект.

Способ осуществляют следующим об- 25 разом.

От источника 1 когерентного излучения посредством светоделителей

3 и зеркал 2 формируют опорную и предметную волны, которыми экспони- 30 руют фоторефрактивный кристалл 4, в результате чего в кристалле 4 образуется голограмма. 3кспонирование кристалла 4 осуществляют в течение времени, выбираемого из условия t i - t где t u

2 I Х времена экспонирования, необходимые для получения голограммы колеблющегося объекта соответственно в реальном времени и с усреднением во вре- 40 мени.Одновременно с экспонированием осуществляют освещение кристалла

4 волной направленной навстречу ! опорной волне. В результате происходит восстановление голограммы и восстановленную волну регистрируют фоторегистратом .з в виде зависимости ее интенсивности во времени (фиг. 2):

По полученным в результате обра6оТКН этой зависимости данным QIIpe 50 деляют амплитуду Z колебаний объекта из соотношений — а (

Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я

Х() Составитель В. Бахтин

Редактор A.Ðåâèí Техред А.Кравчук Корректор М.Иаксимишинец

-1Заказ 409/39 Тираж 524 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4.

Способ определения параметров колебаний объекта, заключающийся в том, что экспонируют фоторефрактивный кристалл опорной и предметной волнами, одновременно осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне,восстанавливают с кристалЛа голограмму и регистрируют восстановленную вол370463 4 ну, по которой определяют параметры колебаний, отличающийся тем,что, с целью увеличения опреде5 ляемых параметров колебаний расширения диапазона и увеличения точности определения амплитуд колебаний объекта,экспонирование осуществляют в течение времени Г выбираемого иэ условия t„ « - t<,где времена, необходимые для получения голограммы колеблющегося объекта . соответственно в реальном времени и усредненной во времени, а восстановленную волну регистрируют в виде зависимости ее интенсивности от времени,

Способ определения параметров колебаний объекта Способ определения параметров колебаний объекта Способ определения параметров колебаний объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к датчикам вибраций, и может быть использовано в качестве устройства для измерения не только амплитуды, но и частоты относительных колебаний двух стыкующихся поверхиосте 1

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и служит преимущественно для определения резонансных частот и форм колебаний объектов на основе метода голографической интер-

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения скорости перемещения объекта относительно подстилающей поверхности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, ускорения и др.) с использованием микромеханических резонаторов, возбуждаемых светом

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения вибросмещений деталей, узлов, конструкций

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, электромагнитных нолей и др.) с использованием микромеханических резонаторов (МР), возбуждаемых светом

Изобретение относится к области сейсморазведки, а также может применяться в вибродиагностике

Изобретение относится к волоконно-оптическим преобразователям физических величин (температуры, давления, ускорения и др.) с использованием микромеханических резонаторов, возбуждаемых светом

Изобретение относится к области виброметрии и может быть использовано для контроля уровня вибрации в технических и технологических процессах при изготовлении узлов и деталей, а также для вибродиагностики машин и механизмов

Изобретение относится к датчикам, предназначенным для фиксации параметров сейсмических сигналов, и может быть использовано при изучении механических, волновых и колебательных процессов, происходящих в твердых упругих объектах, например в геофизических исследованиях породных массивов

Изобретение относится к станкостроительной промышленности и касается способов и устройств оптического контроля вибраций технологической системы станок - приспособление - инструмент - деталь при механической обработке, в частности при шлифовании

Изобретение относится к станкостроительной промышленности и касается устройств оптического контроля вибраций технологической системы станок-приспособление-инструмент-деталь при механической обработке, в частности при шлифовании
Наверх