Способ определения шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной -технике, в частности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и может быть использовано в различных отраслях промышленности, например в машиностроении , металлургии Целью изобретения является измерение шеро ховатости поверхности из многокомпонентных материалов с достаточной точностью за счет устранения влияния различных по химическому составу образцов на результат. Первичное излучение два раза с разной энергией соответственно направляют на контролируемую поверхность, а шероховатость поверхности определяют по отношению ; зарегистрированных интенсивностей вторичного характеристического излучения одного из элементов покрытия. 1 ил. i (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

„„SU„„75953 (5g 4 G 01 В 15/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМЪ/ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4042346/24-28 (22) 26.03.86 (46) 23.02.88. Бюл. № 7 (71) Челябинский электрометаллургический комбинат (72) В.Д. Шульц и И.Н. Алексушин (53) 531.717(088.8) (56) Ровенский Б.М. и др, Рентгеновская рефлектометрия. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Вып.7.—

Л.: 1970.

Авторское свидетельство СССР

¹ 1270561, кл. G 01 В 15/60,05.10.84. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной-технике, в част- . ности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и может быть использовано в различных отраслях промышленности, например в машиностроении, металлургии Целью изобретения является измерение шеро" ховатости поверхности из многокомпонентных материалов с достаточной точностью за счет устранения влияния различных по химическому составу образцов на результат. Первичное излучение два раза с разной энергией соответственно направляют на контролируемую поверхность, а шероховатость .поверхности определяют по отношению

; зарегистрированных интенсивностей вторичного характеристического излучения одного из элементов покрытия.

1 ил.

1375953

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и может быть использовано в различных отраслях промышленности, например в машиностроении, металлургии.

Целью изобретения является измерение шероховатости поверхности из мно- 10 гокомпонентных материалов с достаточной точностью за счет устранения влияния различных по химическому составу образцов.

На чертеже изображена схема уст- 15 ройства измерения шероховатости поверхности.

Устройство включает источник 1 гамма-или рентгеновского излучения, исследуемый образец 2 и устройство 3 20 вьделения и измерения интенсивности флуоресцентного характеристического излучения, где — угол падения первичного излучения, у угол отбора флуоресцентного характеристического излу-25 чения.

Способ осуществляют следующим образом.

Первичное излучение. от радиоактивного источника 1 или рентгеновской трубки направляют под углом на по-! верхность исследуемого образца 2.

Флуоресцентное характеристическое излучение отбирают под углом у и его интенсивность измеряют устрдйством

3 вьделения и регистрации. В качестве такого устройства можно использовать, например, кристальный монохроматор, пропорциональный счетчик с последующим выделением характеристичес- 40 кого излучения пороговыми устройства- ми и т.п, Энергию первичного излучения выбирают исходя из получения максимальной45 чувствительности для данного интервала шероховатости поверхности образца и достаточную для возбуждения выбранного флуоресцирующего элемента. Энергию изменяют напряжением на рентге50 новской трубке с помощью селективных фильтров сменой изотопов и т.п. Для получения максимальной чувствительности измерений углы у и v выбирают минимально возможными.

Измеряют интенсивности флуоресцентного характеристического излучения образца при двух значениях энергии первичного излучения и сравнивают их отношение с градуировочной ха— рактеристикой, построенной для образцов известной шероховатости поверхности. Для получения максимальной, чувствительности энергию первичного излучения в первом случае устанавливают минимально необходимую для воз-. буждения флуоресцирующего элемента, во втором случае — максимально возможную.

Результаты экспериментальной проверки показали возможность измерения шероховатостн поверхности ниже 6 класса чистоты при уменьшении и отсутствии влияния различных по химическому составу образцов на результат. При определении шероховатости поверхности для легких сплавов (алюминиевые, магниевые и т.п.) возможно расширение диапазона в сторону высших классов чистоты за счет малых энергий характеристического излучения °

Формула изобретения

Способ определения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что

1 контр олируемую пав ер хиос ть облучают пучком первичного ионизирующего излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения и определяют величину шероховатости, о т л,и ч а ю щ.и и с я тем, что, с целью измерения шероховатости поверхности из многокомпонентных материалов, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения одного из элементов, входящего в состав поверхности, изменяют энергию первичного излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения того же элемента, а шероховатость поверхности определяют по отношению зарегистрированных интенсивностей.

1375953

Составитель В. Парнасов

Редактор В. Бугренкова Техред M.Ходанич Корректор С. Шекмар

Заказ 769/41 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ определения шероховатости поверхности Способ определения шероховатости поверхности Способ определения шероховатости поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к конт- , рольно-измерительной технике и может быть использовано для экспре.ссного контроля степени шероховатости поверхности

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к области рентгенотехники и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности полупроводниковых шайб, дисков магнитной и оптической памяти, а также других объектов в виде пластин и дисков, полученных полировкой и другими методами финишной обработки, обеспечивающими зеркальную гладкость поверхности

Изобретение относится к области рентгенотехники и может использоваться для контроля плотности, состава, толщины пленок, а также для определения параметров кристаллической структуры

Изобретение относится к области рентгенотехники и может применяться для контроля плотности, состава и толщины тонких пленок и поверхностных слоев, а также для определения шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для неразрушаемого контроля пористой структуры связки абразивного инструмента

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля формирования микрорельефа поверхностного слоя в процессе абразивной обработки

Изобретение относится к способам измерения геометрических свойств твердых тел, в частности оценки их шероховатости
Изобретение относится к методам испытаний и контроля и может быть использовано для обнаружения дефектов поверхности холоднокатаной листовой стали
Наверх