Устройство для спектрального исследования плоских поверхностей

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (g)) 4 Г 01 3 3/17

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

g f г.ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ,"-, ц

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ "

"..-.. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО

ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛОСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению. Целью изобретения является (21) 3953726/40-25 (22) 16,09.85 (46) 23.03.88. Бюл. М- 11 (72) Ф.Ф.Закиров, Р.М.Каримов, Н.А.Петрановский и В.П.Тогулев (53) 535.853 (088.8) (56) Патент США У 3628871, кл. G Oi J 3/48, 197 1.

Дистанционное зондирование: количественный подход. M. Недра, 1983, с. 134-136.

„„SU, ИК3106 А 1 улучшение качества изображения и упрощение конструкции. Излучение исследуемого объекта проходит через светоделительный блок и сканирующий элемент. С помощью проекционного объектива разворачиваемое изображение попадает в монохроматор, который выполнен по автоколлимацио. ной схеме ° С выхода монохроматора излучение в обратном ходе лучей проходит проекционный объектив, сканирующий элемент и светоделитель. Монохроматическое изображение объекта формируется на детекторе. Устройство позволяет получать монохроматические изображения объектов путем непрерывной кадровой съемки. 1 ил.

13831()6

Изобретение относится к области оптического спектрального приборо!!редлагаемое устройство позволяет расширить воэможности применения спектральных приборов, а также получать монохроматические изображения исследуемых объектов высокого качества, полученные путем непрерывной кадровой развертки, Формула и з о б р е т е н и я

Составитель С.Иванов

Техред Л. Сердюкова

Редактор Л.Гратилло

Корректор Н. Король

Заказ 1282/35 Тираж 499 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Прои знодгтвенно †полиграфическ предприятие, г. Ужгород, ул. !(роектная, 4 строения.

Целью изобретения является упуч5 шение качества изображения и упрощение конструкции.

На чертеже схематически изображено устройство для спектрапьного исследования плоских поверхностей. 1О

Устройство содержит светоделительный блок 1, сканирующий элемент 2, проекционный объектив 3, монохроматор 4, оптическая ось которого согласована с оптической осью проекци- 15 онного объектива 3, детектор 5.

Устройство работает следующим образом.

Излучение исследуемого объекта, пройдя через светоделительный блок 1, 2!) разворачивается сканирующим элементом

2 вокруг оси проекционного объектива

3 со скоростью не менее 25 Гц. Далее проекционный объектив 3 строит разворачиваемое изображение в плоскости 25 входной щели монохроматора 4, выполненного по автоколлимационной схеме. В обратном ходе лучей автоколлимационные монохроматические изображения входной щели монохроматора 4 3!1 через проекционный объектив 3 снова разворачиваются в плоскость сканиру ющим элементом 2 и, пройдя через светоделительный блок 1, проецируются в плоскость установки детектора 5. Таким образом, на приемной плоскости детектора формируется монохроматическое изображение исследуемого объекта.

Устройство для спектрального исследования плоских поверхностей; содержащее оптически связанные и последовательно установленные сканирующий элемент, проекционный объектив и монохроматор, а также детектор, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью улучшения качества изображения и упрощения конструкции, устройство дополнительно содержит светоделительный блок, установленный перед сканирующим элементом, монохроматор выполнен по автоколлимационной схеме, причем выход монохроматора оптически сопряжен с детектором через проекционный объектив, сканирующий элемент и светоделительный блок.

Устройство для спектрального исследования плоских поверхностей Устройство для спектрального исследования плоских поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устрой- .ствам для получения и регистрации спектра и может HcnojibsoBaTbCH в прикладной спектроскопии

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению и позволяет повысить точность отсчета длин волн путем исключения Оптика спект: Машиностроение, вторичных ошибок компенсации остаточных погрешностей согласования реальных параметров монохроматора и интерферометра

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано в различных оптических приборах для селекции спектральных линий

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к области спектроскопии

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к спектрофотометрии

Изобретение относится к автоматике и может быть использовано для автоматизированной регистрации спектров поглощения и люминесценции

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению
Наверх