Способ измерения двойного лучепреломления веществ

 

Изобретение относитсяк конт- { ольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля параметров анизотропных материалов. Цель - повьшение ч-очности измерений. Для этого образец 11 облучают монохроматическим пбляризованйым пучком света. Одновременно на свет воздействуют щелью, образованной двумя полуплоскостями 3, смещенными в направлении распространения света, В щели расположен экран 4. Определяют угловые координаты Ч и f зкстремумов правой и левой половин интерференционно-дифракционной картины. Между первой полуплоскостью 3 и экраном 4 размещают измеряемый образец 11. Плоскость поляризации света ориентируют вдоль одной.из главных осей образца 11. Перемещением второй полуплоскости 3 вдоль направления .распространения света компенсируют изменения координат экстремумов интерференционно-дифракционной картины. Плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главнойоси образца и вновь компенсируют изменения координат экстремумов. Затем вычисляют двойное лучепреломление. 1 ип. С (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИА ЛИСТИК ЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

А1 (19) (И) (51)4601 М 21 23

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ»»»,." н АВтОРснОм » свидетепьству, "лдо „..., 3> (21) 4134760/31-25 (22) 23.07.86 (46) 23.03.88. Бюл. У 11 (7 1) Алтайский политехнический институт им. И.И.Ползунова (72) Б.В.Старостенко (53) 535.8(088.8) (56) Александров А.Я., Ахметэян M.X.

Поляризационно-оптические методы деформируемого тела. M.: Наука, 1974, с. 139-144.

Авторское свидетельство СССР

Р 842508, кл. G 01 N 21/23, 1978. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ ВЕЩЕСТВ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля параметров анизотропных материалов.

Цель — повьппение точности измерений.

Для этого образец 11 облучают монохроматическим пбляризованйым пучком света. Одновременно на свет воздействуют щелью, образованной двумя полуплоскостями 3, смещенными в направлении распространения света, В щели расположен экран 4. Определяют угловые координаты Ц и (1 экстремуЯ. мов правой и левой половин интерференционно-дифракционной картины. Между первой полуплоскостью 3 и экраном

4 размещают измеряемый образец 11.

Плоскость поляризации света ориентируют вдоль одной.из главных осей образца 11. Перемещением второй полуплоскости 3 вдоль направления .распространения света компенсируют изменения координат экстремумов интерференционно-дифракционной картины.

Плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главной оси образца и вновь компенсируют изменения координат экстремумов. Затем вычисляют двойное лучепреломление. 1 ил.

1383162

7 2 з п Ч

Il й. о е 4 h1 соз. ч1

1 -( (cos p + 1) + a P1 — ".cvs2V

Гт1 1

-1 -. - i ° зхп

Х

CGS Ч 1

1-(h (cos;2 1+ i) + a Ь (1 — Зсоз М,1 гпа h — толщина образца.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля параметров аиизотропных материалов.

Цель изобретения — повьппение точ5 ности измерений.

На чертеже изображена схема устройства для измерения двойного лучепреломления веществ. 10

:Устройство содержит источник 1 света поляризатор 2, щель, образованную двумя полуплоскостями 3, смещенными в направлении распространения света на расстояние h„ + h<. В щели 3 размещен 15 экран 4 на расстоянии h от верхней полуплоскости и h< от нижней полуплоскости в направлении распространения света и расстояниях t u t от

1 соответствующих полуплоскостей в по- 20 перечном направлении. Расстояние t соответствует диаметру поперечного сечения экрана 4. Расстояния h u

Ь 2 предпочтительно выбирать равными, как и расстояния t1 è tea Устройст- 25 во также включает линзу 5, экран 6, диафрагму 7, фотоприемник 8 и измеритель 9. Угловые координаты экстремумов интерференционно-дифракционной картины 10 обозначены как и 1 30

В размере щели 3 установлен измеряемый образец 11, Нижняя полуплоскость

3 перемещается с помощью микровинта (не показан).

Способ измерения двойного лучепре35 ломления веществ осуществляют следующим путем.

Ионохроматический пучок света от источника 1, дифрагирующий на щели 3 и экране 4„ пропускают через линзу

5 и направляют на экран 6, где с помощью диафрагмы 7, фотоприемника 8 и измерителя 9 определяют угловые кос рцинаты

1О. В щели 3 устанавливают измеряемый образец 11. Плоскость поляри=.ации света ориентируют так, чтобы она совпадала с направлением главной оси образца 11, При установке образца 11 происходит смещение экстремумов, Перемещением нижней полуплоскости на расстояние ah компенсируют смещение экстремума правой половины интерференционно-дифракционной картины, а перемещением íà ah †. экстремума леу . вой половины. Затем плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главной оси образца 11 и вновь измеряют компенсационные перемещения нижней полуплоскости 4h и h для

Д соответствующих экстремумов..

При отсутствии измеряемого образца

11 интерференционно-дифракционная картина является результатом интерференции света, дифрагирующего на щели

3> образованной верхней полуплоскостью и экраном 4, а также света, дифрагирующего на щели 3, образованной экраном 4 и нижней полуплоскостью (верхняя и нижняя часть щели), Максимум интерференции будет наблюдаться при равенстве длины волны света разности хода между волновыми фронтами света, дифрагирующего нг верхней и нижней частях щели 3. При размещении измеряемого образца 1, в размере верхней части щели 3 координата максимума интерференцион":ой картины изменяется вследствие преломления света, дифрагирующего на верхней части щели. Для восстановления исходной картины, как при отсутствии измеряемого образца il1., необходимо нижнюю полуплоскость переместить на расстояние 6h.

Двойное лучепреломление вычисляют по соотношению

1383162!

) (Ah g tel?, — üh, 6 hg, ) (1 — 3cos q ) (1 — 3cos " )

h (й, — лЬ ) (1 + cos 9> ) (1 — 3cos Ч, ) (ъ obq)(1+cps < (« > угловые координаты экстремумов правой и левой половин интерференционно-дифракционной картины, где у, (у

6Ь,, h

sin Ч, n — n о

1 — (44 . eosv

Ь (созЧ„+ 1 + gh

Зсо s Ч„) где

) (1 — 3cos fq ) (1 —. 3cos М, ) (, 1 — Зсов Ч, ориентации плоскости .поляризации вдоль одной и второй главных осей образца соответственно.

Составитель В.Pандошкин

Техред А.Кравчук Корректор И. 1уска

Редактор A.Âîðîâè÷

Заказ 1286/38

Тираж 847 Подписное

8HI1HIIH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r Ужгород, yet. !1роектная, 4 компенсационные смещения полуплоскости для угловых координат М, и V u показателей преломления и и и п, и — показатели преломления обыкновенного и необыкновенного лучей света.

Фо р мул а и з о бр е т ения

Способ измерения двойного лучепреломления веществ, при осуществлении .которого образец облучают монохроматическим поляризованным пучком света и анализируют свет, прошедший образец, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений неоднородных образцов, предварительно создают интерференционнодифракционную картину путем пропуска30

ab дЬ gh Ь вЂ” компенсационные передо> 0 е мещения второй полу/ плоскости для угловых координат М, и Ю при ния пучка между двумя последовательно расположенными вдоль направления распространения пучка полуплоскостями, перпендикулярными оптической оси и смещенными относительно нее в противоположные стороны, и расположенным между ними непрозрачным цилпндрическим экраном, ось которого параллельна краям полуплоскостей, регистрируют угловые координаты и

Мд экстремумов интерференционно-дифракционной картины по обе стороны от плоскости, проходящей через оптическую ось и ось цилиндрического экрана, помещают образец между одной из полуплоскостей,и экраном,. перемещением второй полуплоскости вдоль оптической оси компенсируют угловое смещение экстремумов, возникающее при внесении образца, при этом плоскость поляризации света ориентируют вдоль каждой из осей образца, а двойное лучепреломление вычисляют с помощью соотношения

) — ьЬ вЂ” а hg (1 + cos <, ) (1 — ЗсозЪл

1о