Магнитный дефектоскоп

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для регистрации дефектов в ферромагнитных изделиях. Целью изобретения является повышение надежности и производительности контроля за счет прямого преобразования интенсивности магнитного поля в световой поток. Генератор 6 развертки последовательно переключает вертикальные и горизонтальные адресные шины, на пересечениях которых расположены последовательно соединенные цепочки из светодиода и магнитодиода. Так как матрица магнитодиодов расположена на контролируемом изделии 7, то магнитное поле изделия изменяет их проводимость, что, в свою очередь , приводит к изменению т(5ка в цепи , а следовательно, и яркости свечения светодиодов, визуахшзируя распределение магнитных полей. 2 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

4 А1 (19) (11) (51)4 G 01 N 27/82

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ/

gp,.

Фиг. 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К ASTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4128649/25-28 (22) 23.07.86 (46) 30.04.88. Бюл. И 16 (71) Уфимский нефтяной институт (72) А. А. Абакумов, М. Г. Баширов и В. А. Цацин (53) 620.179.14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 1161859, кл. G 01 N 27/82, 1985.

Авторское свидетельство СССР

)) 859904, кл. G 01 N 27/82, 1979. (54) ИАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для регистрации дефектов в ферромагнитных изделиях. Ц мью изобретения является повышение надежности и производительности контроля за счет прямого преобразования интенсивности магнитного поля в световой поток. Генератор 6 развертки последовательно переключает вертикальные и горизонтальные адресные шины, на пересечениях которых расположены последовательно соединенные цепочки иэ светодиода и магнитодиода. Так как матрица магнитодиодов расположена на контролируемом изделии

7, то магнитное поле изделия изменяет их проводимость, что, в свою очередь, приводит к изменению тока в цепи, а следовательно, и яркости свечения светодиодов, виэуализируя распределение магнитных полей. 2 ил.

1392484, Изобретение относится к неразрушакпцему контролю и может быть использовано для регистрации дефектов в ферромагнитных изделиях.

Целью изобретения является повышение надежности и производительности контроля sa счет прямого преобразования интенсивности магнитного поля в световой поток. 10

На фиг. l приведена структурная схема устройства; на фиг. 2 — конструкция двухслойной матрицы.

Устройство содержит блок 1 намагничивания, соединенные последователь- 15 но магниточувствительный узел 2, внутрикомплексный интерфейс 3 и светодиодный экран 4, соединенные последовательно блок 5 питания и блок

Ь развертки, подключенные к внутри- 20 комплексному интерфейсу 3. Контролируемое изделие 7 расположено между блоком l намагничивания и магниточувствительным узлом 2.

Двухслойная матрица, образованная 25 магниточувствительным узлом 2, внутрикомплексным интерфейсом 3 и светодиодным экраном 4, содержит (фиг. 2) адресные шины 8 и 9 строчной и кадровой развертки, на пересечении кото- 30 рых последовательно включены магниточувствительный элемент 10, ключевой диод 11 н светодиод 12.

В качестве магни. очувствительного элемента 10 используются магнитодиоды, магнитотриоды, магнитотиристоры или аналогичные преобразователи магнитного поля в электрический сигнал.

Устройство работает следующим образом.

Блок 1 намагничивания осуществляет намагничивание контролируемого иэделия 7. В зависимости от наличия дефектов образуется магнитный рельеф, влияющий на проводимость магниточувствительных элементов 10, Блок 6 развертки последовательно подает на адресные шины 8 и 9 импульсы противоположной полярности.

При прохождении тока через последовательно соединенные магниточувствительный элемент 10, ключевой диод

ll и светодиод 12 яркость свечения светодиода определяется током, величина которого в свою очередь, зависит от напряженности магнитного поля.

Таким образом, по силе свечения светодиодного экрана 4 можно определить распределение магнитных полей °

Формула изобретения

Магнитный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные блок развертки и матрицу магниточувствитель ных элементов, и блок намагничивания, отличающийся тем, что, < целью повьппения надежности и производительности контроля, он снабжен соединенными последовательно светодиодным экраном и внутрикомплексным интерфейсом, подключенным к матрице магниточувствительных элементов.

l 39248

Составитель Ю. Глазков

Рддактор И. Рыбчеико Техред И.Верес Корректор В. Бутяга

Заказ l887/49 Тирам 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного конитета СССР по делан изобретений и открытий

113035 ° Москва, Ж-35 ° Раушскал иаб. ° д. 4/5

Проиэводствеиио-полиграфическое предприятие, г. Умгород, ул. Проектная, 4

Магнитный дефектоскоп Магнитный дефектоскоп Магнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к дефектоскопии ферромагнитных изделий и может ь использовано для отметки дефектных меа на поверхности объектов в труднодоступных меаах и в жидкой среде

Изобретение относится к оборудованию для измерения параметров электромагнитных полей

Изобретение относится к области иеразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано в машиностроении для визуализации дефектов в ферромагнитных материалах

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для автоматического самоконтроля работоспособности и калибровки устройств контроля прочности стыковых соединений резинотросовых лент

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано в промьанленности для определения и визуализации дефектов в ферромагнитных изделиях

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения параметров трещин в ферромагнитных объектах при усталостных испытаниях

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения глубины и глубины залегания подповерхностных дефектов сплошности ферромагнитных объектов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано для дефектоскопии структуры поверхности I электропроводящих объектов

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для отметки дефектных мест на деталях при различных видах контроля

Изобретение относится к устройствам для внутритрубных обследований трубопроводов, рассчитанным на перемещение по обследуемому трубопроводу потоком транспортируемого по нему продукта, и может быть использовано для контроля технического состояния трубопроводов, предназначенных преимущественно для дальней транспортировки нефтепродуктов и природного газа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопическом контроле ферромагнитных материалов и изделий

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля структуры металла протяженных ферромагнитных и неферромагнитных изделий, в частности насосных штанг, используемых при механизированной нефтедобыче, и предназначено для экспресс-индикации структурной неоднородности материала изделий, связанной с нарушением режима при объемной термообработке в процессе изготовления, а также структурной неоднородности, возникшей в процессе эксплуатации изделия

Изобретение относится к техническому диагностированию магистральных трубопроводов и может быть использовано для диагностирования уложенных магистральных нефтепроводов и газопроводов

Изобретение относится к области прикладной магнитооптики, в частности к методам неразрушающего контроля материалов на наличие дефектов, и может быть использовано при выявлении дефектов в изделиях, которые содержат ферромагнитные материалы, а также в криминалистике
Наверх