Способ определения электрического сопротивления тонкого проводщего слоя

 

Изобретение относится к электрическим измерителям и может быть использовано для определения бесконтактным способом электрического сопротивления тонких проводящих слоев различных веществ, находящихся либо в свободном состоянии, либо в виде пле нок или покрытий на непроводящем основании . Изобретение повышает точность определения сопротивления проводящего слоя. Устройство, реализующее предложенный способ, содержит две пластины 1 и 2 плоского конденсатора, между которыми размещен тонкий измеряемый проводядий слой, расположенный под углом q по отношению к пластинан чк которым подключен прибор для измерения емкости с конденсатора и тангенса угла потерь tg S .По дайденным значениям этих величин выполняют ряд математических преобразований и расчетов , приведенных в описании изобретения , и по выведенной формуле определяют величину сопротивления тонкого проводящего слоя. 2 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (дП 4 G 01 R 27/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4092544/24-21 (22) 28.05.86 (46) 07,05.88. Бюл. В 17 (71) Новосибирский институт советской кооперативной торговли (72) 10 П. Машуков и В. В. Христофоров (53) 621.317.333(088.8) (56) Берлинер М. А. Измерение влажности. — М.: Энергия, 1973, с. 74, рис. З-ба. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТОНКОГО ПРОВОДЯЩЕГО

СЛОЯ (57) Изобретение относится к электрическим измерителям и может быть использовано для определения бесконтактным способом электрического сопротивления тонких проводящих слоев раз„„SU„„1394161 А 1 личных веществ, находящихся либо в свободном состоянии, либо в виде пленок или покрытий на непроводящем основании. Изобретение повышает точность определения сопротивления проводящего слоя. Устройство, реализукнцее предложенный способ, содержит две пластины

1 и 2 плоского конденсатора, между которыми размещен тонкий измеряемый проводящий слой, расположенный под углом q по отношению к пластинаи,к которым подключен прибор для измерения емкости с конденсатора и тангенса угла потерь tg 8 . По найденным значениям этих величин выполняют ряд математических преобразований и расчетов, приведенных в описании изобретения, и по выведенной формуле определяют величииу сопротивления тонкого проводящего слоя. 2 ил.

1394161

Изобретение относится к электрическим измерениям и может быть использовано для определения бесконтактным методом электрического сопротивления

5 тонких проводящих слоев различных веществ, находящихся либо в свободном состоянии, либо в виде пленок или покрытий на непроводящем основании.

Целью изобретения является повы- 10 шение точности определения сопротив-! ления тонкого проводящего слоя.

На фиг. 1 приведена структурная схема устройства для измерения сопротивления тонкого проводящего слоя;

1 на фиг, 2 — схема расположения зарядов в измеряемом слое и на пластинах конденсатора.

Устройство (фиг. 1) содержит две пластины плоского конденсатора верх- 20 нюю 1 и нижнюю 2, размещенный между ними измеряемый тонкий проводящий

1 слой 3 (его толщина не показана), расположенный по отношению к пластинам конденсатора под некоторым углом 25 подключенный к пластинам конденсатора прибор 4 (например, мост переменного тока) для измерения емкости

С и тангенса угла потерь tgs.

Способ осуществляется следующим образом.

Измеряемый тонкий проводящий слой

3 располагается внутри конденсатора под некоторым углом Ч по отношению к его пластинам 1 и 2.

С помощью прибора 4 измеряются С, tg 3 и по найденным значениям этих величин расчетным путем определяется продольное сопротивление проводящего 40 слоя 3, Для выяснения вопроса о связи измеренных величин С, tg 3 с сопротивлением проводящего слоя и углом его наклона рассмотрим теоретически соот- 45 ветствующую задачу.

Пусть имеется плоский заряженный конденсатор,(фиг. 2), внутри которого располагается под некоторым углом проводящий слой 3. Наличие внутри слоя продольной составляющей вектора электрического поля конденсатора вызывает перераспределение зарядов в нем, кроме того, перераспределяются заряды и на пластинах конденсатора.

Ясно, что этот эффект возрастает при увеличении угла ц>, так как при этом возрастает продольная составляющая вектора электрического поля в слое, Как показывают расчеты, происхо- дит также изменение емкости конденса1 тора С.

Если к конденсатору подключить переменное напряжение, то внутри слоя возникает переменный электрический ток, который ведет к потерям электрической мощности на сопротивлении

R слоя. Вследствие этого конденсатор для подключенного к нему генератора переменного напряжения представляет собой нагрузку, имеющую не только емкостную составляющую, но также и активную. Обычно потери электрической мощности в конденсаторе выражаются tg8, который определяется как отношение активной составляющей полного сопротивления к реактивной составляющей.

Получаем зависимость параметров конденсатора С, tg 3 от сопротивления R и угла наклона д проводящего слоя 3. Считаем, что этот слой имее.т такие же размеры, как и пластины

) и 2 конденсатора, расположен внутри конденсатора симметрично по отношению к его пластинам и что размеры пластин конденсатора много больше расстояния 2 d, так что можно синус и тангенс угла у заменять им самим.

Вычисляем вначале емкость конденсатора в зависимости от наклона про,водящего слоя 3 для случая постоянного тока (электростатика).

Проводящий слой делит плоский конденсатор на два последовательно соединенных неплоских конденсатора— верхний и нижний. В электростатическом случае потенциал один и тот же для всех его точек, Поэтому для любого из двух образовавшихся конденсаторов напряженность элекрического поля обратно пропорциональна расстоянию между пластинами. То же самое можно сказать о поверхностной плотности зарядов б, которая является функцией переменной Z.

На проводящем слое с нижней стороны плотность зарядов такая же, как на нижней пластине 2 конденсатора, а с верхней стороны — как на верхней пластине 1. Суммарная плотность зарядов в слое определяется суммой этих двух величин. Видно, что левая сторона слоя заряжена положительно, а правая — отрицательно.

G=G —; h= y

do о а « - у где Z — текущая координата;

6о — поверхностная плотность заряда в центре пластины 2 конденсатора; — поверхностная плотность зарядов на пластинах конденсатора в отсутствие проводящего слоя 3 (считаем, что напряжение на конденсаторе поддерживается постоянным).

Проинтегрировав выражение для 6

L по координате Е в пределах от ——

2 до — (L — длина пластины), получаем общий заряд пластины конденсатора

20

Я=GLb 1п у (2) 1 1+Х, о о

h где Х о а 30

Ь вЂ” ширина пластины.

Величина Х,, также как и угол Ц, характеризует наклон слоя 3, Х изменяется от 0 до 1, в то время как угол q изменяется от 0 до своего максимального значения.

Учитывая, что емкость пропорциональна заряду, получаем закон изменения емкости конденсатора з 3941

Для нижней пластины 2 конденсатора имеем

6! чего емкость конденсатора изменяется слабее, чем в случае постоянного тока.

Таким образом, при изменении сопротивления проводящего слоя 3 от нуля до бесконечности емкость конденсатора изменяется от значения С, вычисленного выше для постоянного тока, до значения С, свойственного конден-сатору в отсутствие проводящего слоя 3, Потери электрической мощности имеют иную, не монотонную зависимость. Потери малы и при малом сопротивлении (нет сопротивления) и при очень большом (нет тока).

Так как решение задачи о потерях в общем виде затруднительно, рассмотрим лишь случай малого сопротивления проводящего слоя 3. Будем считать, что перетекание зарядов по пластине происходит в полной мере и справедливо полученное вьппе выражение для б(Е).

Вычислим заряд q(Z), перетекающий в проводящем слое 3 в область, расположенную правее Z, Для этого нужно

L взять интеграл от Z до —, учтя, что в проводящем слое плотность заря-. да складывается из двух величин.

Вследствие симметрии расположения слоя имеем

g(z) = -6 (е) + G (-е) ьае (4) 40

45 откуда видно, что при малых Х f(X )1 изменяется пропорционально квадрату угла наклона слоя.

Рассмотрим теперь вопрос о потерях электрической мощности при подключении конденсатора с проводящим слоем

3 к источнику переменного тока. Если электрическое поле в конденсаторе переменное, а слой имеет сопротивлеННе то 3аряды B HeM He успевают пе 55 ретекать с одного края на другой в должной мере. Соответственно этому и на пластинах 1 и 2 конденсатора меньшее изменение заряда, вследствие

h гдеХ= —а, (5) Заряд с1(Е) не что иное, как заряд, проходящий через сечение слоя, имеющее координату Е. Дифференцируя эту величину по времени, получаем силу тока. Так как закон изменения по времени — гармонический с частотой у, имеем для амплитуды силы тока

1-Х

I(Z) =G,1ЬЮ 1п, (6) о о

С = С,f(X, ), где Х(Х ) 1 Хо — — 1п (3)

2 X

1-Х, о где б (Е) определяется выражением (1). Знак минус перед G (Z) учитывает знак заряда.

Вычисление выражения (4) дают

1 1-Х

1(Е) = -g Lb о

1394161

Вычисляем из выражения (10) со» противление R перейдя от переменной

X к углу qr и введя также величину о

2 йо

СР

0 отношение расстояния г а1

aP = т R —, L (7) между пластинами конденсатора к длине пластин. Имеем в= — - tg3

15 1

ЯС (2

Ф о р и у л а изобретения

М, .0 о

Способ определения электрического сопротивления тонкого проводящего слоя, заключающийся в том, что образец с плоскопараллельными гранями помещают внутрь плоского конденсатора, измеряют электроемкость и тангенс угла потерь конденсатора tg 3, определяют искомое сопротивление расчетным путем, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения, указанньй образец располагают под углом ц по.отношению к пластинам конденсатора, измеряют этот угол, а искомое сопротивление опре,целяют из зависимости (8) имеем 30

»о

< 2 7 — tg 5 !

2 ЯС

tg8 = — Х uRC ., 2 2

)5 о б

ВНИИПИ Заказ 2217/А2 Тираж 772

Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Если R — сопротивление проводящего слоя то потери мощности на участФ ! ке 67, определяется как ак где — R — сопротивление участка dZ. 10

Потери во всем слое определяются выражением

Для случая малых Х,, применяя раз) ожейие лога)рифма, получаем

Й,? Ъи В 8

P е — X (e)

Д )5 о.

Учитывая, что реактивная мощносгь

9, = U яС, где U — аМплитудное гжесю. кт значение напряжения, что 6, Lb — заряД пластин конденсатора, ранжир

Р

ЫС,, и что tg5

pe>sr

Это и есть искомое выражение.

Сравнивая его с выражением (3), убеждаемся, что, О растет пропорционально Л С. — угловая частота; емкость пустого конденсатора; — отношение расстояния между пластинами конденсатора к длине пластины,

Способ определения электрического сопротивления тонкого проводщего слоя Способ определения электрического сопротивления тонкого проводщего слоя Способ определения электрического сопротивления тонкого проводщего слоя Способ определения электрического сопротивления тонкого проводщего слоя 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электри ческим измерениям и может быть непользовано при автоматическом контроле и измерении реактивных сопротивлений нагруженных цепей с сигналами сложной формы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для повьшшния быстродействия и упрощения устро11ства

Изобретение относится к измерениям на СВЧ электромагн

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано, в частности, при построении высокопроизводительных устройств допускового контроля электрических параметров конденсаторов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении коэффициента усиления прецизионных компараторов напряжения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения электрофизических характеристик твердых и жидких веществ

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в качестве элемента уравновешивания и отсчета по активной проводимости в высокочастотных емкостных мостах

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков

Изобретение относится к технике электрических измерений и предназначено для профилактических испытаний изоляции крупных электрических машин и аппаратов, имеющих большую постоянную времени

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерений в электронике СВЧ

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к области электрических измерений в электроэнергетике и предназначено для косвенного определения напряжения прикосновения (шага), возникающего в аварийных режимах электроустановок

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к устройствам для измерения свойств жидкостей, в частности удельного электрического сопротивления

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика
Наверх