Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы

 

СО 03 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 G 01 N 21/47

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4089738/30-25 (22) 14.07. 86 (46) 15. 05. 88. Бюл. N t 8 (71) Научно-производственное объединение "Агроприбор" (72) В.А.Николаев и Г.И.3архин (53) 535.24(088.8) (56) Sumnich F. .-H. Absolutmessung des

spektralen Strauldichte factors von

gestrent reflecttierenden oberflachen.

Volt. 15, РгйЬ1ahrssch.,Opt. Karl-Marx-Stadt, 11-14, Apr, 1983, Berlin, S.152-153.

Джадд Д., Вьппецки Г. Цвет в науке и технике/ Перев. с англ. под ред.

Л.А.Артюшина„M.: Мир, 1978, с. 122, 127. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА

ЯРКОСТИ ДИФФУЗНО ОТРАЖАЮЩИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, ИИЕКЗЦИХ НЕОДНОРОДНО ОТРАЖАЮЩИЕ

ЭЛЕМЕНТЫ

1 (57) Изобретение относится к обласÄÄSUÄ„1396008 А 1 ти спектрометрии и может быть использовано в приборах, предназначенных для оценки качества или состава веществ, материалов и покрытий по коэффициенту яркости. Цель — повышение производительности измерения коэффициента яркости диффузно отраЖающих поверхностей с неравномерным распределением отражающих свойств и обеспечение непрерывности измерений в процессе с прямым отсчетом результатов из— мерения.Диффузно отражающую поверхность, имеющую неоднородно отражающие элементы, освещают параллельным пучком лучей под углом падения nL, измеряют отраженное излучение под углом Ъ от нормали к поверхности и сравнивают величину измеренного излучения с отражением от эталонного образца. ,Для достижения цели освещение проводят пучком лучей с распределением освещенности Е (х,у) по измеряемой поверхности, заданным зависимостью я приведенной в формуле изобретения.

1396008

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано в приборах, предназначенных для оценки качества или состава веществ, материалов и покрытий по коэффициенту яркости.

Цель изобретения — повышение производительности измерения коэффициента яркости диффуэно отражающих по" верхностей с неравномерным распределением отражающих свойств и обеспечение непрерывности измерений в процессе с прямым отсчетом резульгатов измерения. 15

На фиг.i изображена схема освещения и наблюдения образца, на фиг.2и фиг.3 — графически изображены функции F (х,у) для стандартных условий освещения и наблюдения (oc =: 45, 20

1= О, ы= О, P= 45 ) параметра

ЮН = 0,4 для точек образца, расположенных на направлении *,у = 0 (фиг.2) и на направлении х = Е/2,у (фиг. 3) . 25

Способ осуществляют следующим образом.

Исследуемый образец помещают в плоскость измерения ХОУ (фиг.1), причем его измеряемая поверхность ограничивается диафрагмой диаметром

D расположенной в этой плоскости.

Поверхность образца освещается параллельным пучком лучей Ф, с координатно-зависимым распределением интен35 сивности излучения по сечению, обеспечивающим на поверхности образца освещенность Е(х,у), в соответствии с выражением

Е(х, у) = Е F(z, у), где Š— освещенность в точке с координатами х = О, у = О (начало координат помещается в крайней точке образца, .лежа- 45 щей в плоскости, проходяшей через оси падающего и наблюдаемого пучков), а функция F(x у) имеет вид

I 50

-т г. пзф

F(x,y)=c (н+ /L+ c7 ega (н y (L х) где С, Н и L - величины постоянные для данных условий освещенля и наблюдения, pclB яые

2 1 Иг

С = (Н + /Ь/ tgP.(Н + L) H= Roose

L = R sing — D/2

R — - расстояние от центра освещенной области до фотоприемника, х и у — координаты точки поверхности образца.

Отр а же нное образцом и элучение + преобразуется фотоприемником S, усTaHoBJIeHHbM в соответствии с выбранными условиями наблюдения, в сигнал, регистрируемый измерительным устройством. Коэффициент яркости образца определяется измерительным устройством как отношение сигнала I, полуogp чаемого от образца,к сигналу I,,получаемому от эталона отражения, установленного в тех же условиях освещения и наблюдения, и нормируется по известному коэффициенту яркости эталона В, аттестованному для условий и P

Таким образом, коэффициент яркости образца определяется однократным измерением, а не по усреднению нескольких замеров, полученных при сканировании его поверхности (например, посредством кругового вращения образца в пределах диафрагмы D), как это необходимо делать при условиях распределения освещенности на образце, отличных от задаваемых выражением

Е (х,у).

Координатно-зависимое распределе ние освещенности Е(х,у) на образце обеспечивается„ например, установкой в параллельный и равномерный пучок излучения, формируемый осветителями, нейтрального нерассеивающего, ослабителя с координатно-зависимым коэффициентом пропускания (сеТчатого ослабителя, плоскопараллельной пластины из двух соединенных на оптическом контакте светофильтров с переменной толщиной смежного слоя и т.п.). Параметры ослабителя рассчитываются по известным в фотометрии формулам для коэффициента пропускания оптических материалов.

При установке, например, в нормально падающий (М = О) на образец световой пучок, коэффициент пропускания такого ослабителя, раслоложенного параллельно плоскости измерения, имеет вид с(х,у) -, Г(х,у), 1396008 ном повороте образца на 90 на входном отверстии прибора.

При использовании предлагаемого способа измерения коэффициента яркости за счет уменьшения погрешности от ориентации основная погрешность измерения, определяемая по формуле где < — погрешность образцовой меры (Q =17)! — погрешность от ориентации, 0 — погрешность метода сличе 3 ния (Q = 17.), — погрешность нестабильности во времени (Q = 27), уменьшена на 2,57, а время измерения сократилось в 3 раза за счет сокращения количества замеров на один образец.

Формула и з обретения

Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей, имеющих неоднородно отражающие элементы, заключающийся в том, что освещают поверхность параллельным пучком лучей под углом падения ос измеряют отраженное излучение под углом Р от нормали к поверхности и сравнивают величину измеренного излучения с отражением от эталонного образца, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерений и обеспечения непрерывности измерений в процессе с прямым отсчетом результатов измерения, освещение проводят пучком лучей с распределением освещенности Е(х,y) по измеряемой поверхности, заданным зависимостью

-t (Е (х,у) =E ° С ° (Н+(Т. + х)1 tgP) х ( х (Н + уi(L+ x)Q где Š— освещенность поверхности в точке с координатами х = О, у = 0;

D где, — коэффициент пропорциональности, численно равный коэффициенту пропускания светофильтра в точке, расположенной над .

Ъ началом координат (х=О, y=0);

F(x,у)- координатная функция, соответствующая выражению, приведенному вьппе. !О

Функциональное распределение освещенности Е(х,у) снижает погрешность

I измерения коэффициента яркости неравномерно,окрашенных образцов при углах освещения и наблюдения 0 + ot. u

Р с б5 и углах поля зрения фотоприемников, в пределах которых индикатриса яркости элементарных участков поверхности образца постоянна. Перечисленные ограничения удовлетворяют стандартным условиям освещения и наблюдения и реальным яркостным характеристикам значительного числа диффузно отражающих объектов.

Графическое изображение функции

F(x,у) для стандартных .условий освещения и наблюдения eh= 45 и P = О и .= О и P= 45 и параметра 1УК=0,4 приведено на фиг.2 (для точек образца, расположенных на направлении

x,у=0) и на фиг.3 (для направления

x=D/2, у).

Способ опробован на приборе

"ФОТОС-83" для определения качества табака по спектральному коэффициенту яркости, имеющем геометрию освещения (наблюдения — 0 ) 45 . Функциональное распределение освещенности на образце обеспечивалось введением в нормально падающий на образец равномерный и параллельный пучок лучей ос40 лабителя с координатно-зависимым коэффициентом пропускания, выполненным на основе нейтральных светофильтров из оптического стекла. Погрешность

Q от ориентации образцов табачных лйстьев с резко выраженной неоднородностью окраски, при изменении их положения на входном отверстии прибора, при измерении коэффициента яркости С,Н с ослабителем (т.е. по предлагаемо- 59 и Ь му способу) находилась в пределах случайной погрешности и принималась равной нулю.

Погрешность Q от ориентации для тех же образцов при измерении коэффициента яркости без ослабителя определялось по серии из четырех измерений, получаемых при последователь— постоянные для данных усло. вий величины, равные

z - (H+(L(tg P ) (Н + Л

R cosP

R sin f5 — D/2; — диаметр окружности, образуемой границей освещенной поверхности, 1.396008 ника;

7.0

R - расстояние от центра указанной окружности до фотоприемх и у — координаты точки поверхности образца.

1396008 фРГ 3

Составитель В.Калечиц

Техред Я.Дидик Корректор Л. Пилипенко

Редактор А. Ревин

Заказ 2487/43 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

313035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул, 11роектная, 4

Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Способ измерения коэффициента яркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы 

 

Похожие патенты:

Мутномер // 1394111
Изобретение относится к оптическим измерениям, в частности к измерениям мутности жидкости

Изобретение относится к области оптического анализа пористой структуры материалов и может использоваться для неразрушающего контроля и авматизированного исследования пенопластов

Изобретение относится к .области контроля процессов очистки нефтесодержащих сточных вод

Изобретение относится к способам контроля процессов очистки нефтесодержащих сточных вод

Изобретение относится к области фотометрических измерений и может быть использовано в химической промышленности для контроля мутной среды

Изобретение относится к области технической физики, в частности к оптическому прибо юстроению, и может быть использовано при измерении показателей ослабления и рассеяния света прозрачных жидкостей и газов

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано в горной промьшшенности

Изобретение относится к фотометрическим способам определения характеристик пигментов

Изобретение относится к области физики, к оптике, к приборостроению и может найти применение в биологии и медицине при исследовании взвесей эритроцитов, клеток, органелл

Изобретение относится к области оптических приборов, в частности к фотометрическим устройствам для измерений концентраций веществ с помощью химически чувствительных элементов

Изобретение относится к медицине и используется при исследовании взвесей эритроцитов, лейкоцитов и тромбоцитов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к способам определения малоугловой индикатрисы рассеяния, и может быть использовано при гранулометрическом анализе аэрозолей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам измерения оптических характеристик мутных сред в условиях фонового излучения, и может использоваться в устройствах, предназначенных для излучения и контроля окружающих воздушной, водной и других мутных сред

Изобретение относится к области технической физики, в частности, к способам измерения интенсивности рассеяния оптического излучения веществом, позволяющим получать локальные, а также усредненные по поверхности исследуемого объекта характеристики рассеяния

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при дистанционном лазерном зондировании элементного состава атмосферных газов

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при решении задач непрерывного контроля содержания нефти или масла в воде, экологического мониторинга, измерения концентрации эмульсий
Наверх