Способ определения коэффициента ионизации паров металлов

 

Класс 421, Ззз № 146092

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Лг0 1Ы

В. И. Раховский и С. И. Павлов

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ИОНИЗАЦИИ ПАРОВ

МЕТАЛЛОВ

Заявлено 30 июня 1961 г. за Ко 766176/22-2 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» No 7 за 1962 r.

Известны способы определения степени ионизации паров щелочноземельных металлов и ртути.

Отличительная особенность описываемого способа определения коэффициента ионизации паров металлов состоит в том, что число ионов, образовавшихся при бомбардировке однородного атомного пучка однородным электрическим пучком, регистрируют электрометрической схемой по ионному току, Причем суммарное число атомов и ионов, пришедших на коллектор, регистрируют по активности коллектора, для чего используют обогащение металла радиоактивным изотопом.

На чертеже схематически изображено устройство для осуществления описываемого способа.

В испаритель, состоящий из тигеля 1, нагревателя 2, тегловых экранов 8, 4 и термопары 5, помещается некоторое количество металла б, обогащенного радиоактивным изотопом. Система диафрагм 7 выделяет атомный пучок 8 паров металла, который направляется на коллектор 9, где происходит конденсация испаренного металла. Электронная пушка, содержащая катод 10 косвенного канала, электроды 11, 12 и коллектор 18 электронов, позволяет получить пучок 14 электронов строго определенной конфигурации с малым разбросом по энергиям. В месте пересечения атомного и электронного пучков происходит ионизация атомного пучка. Пришедшие на коллектор 9 ионы создают ионный ток, который измеряют электрометрической системой, например ЭМУ-3.

Попадание на коллектор только однозарядных ионов обеспечивается отклоняющим магнитом 15, который отклоняет многозарядные ионы от коллектора в случае применения для ионизации электронов с высокими энергиями.

Количество ионов, достигших коллектора, определяют по ионному току. Для определения полного количества сконденсировавшегося вещества, приходящего на коллектор, используют обогащение мегалла № 14б092 радиоактивным изотопом и подсчитывают активность коллектора (конденсата).

Отношение количества ионов, рассчитанного по ионному току, к массе конденсата, выраженной в числе атомов, определяет коэффициент ионизации паров металлов.

Предлагаемый способ определения коэффициента ионизации паров металлов может найти применение в масс-спектрометрии при анализе различных металлов и сплавов.

Предмет изобретения

1. Способ определения коэффициента ионизации паров металлов, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью определения числа ионов, образовавшихся при бомбардировке однородного атомного пучка однородным электрическим пучком, их регистрируют электрометрической схемой.

2. Способ по п. I, отл и ча ю щи йся тем, что, с целью определения суммарного числа атомов и ионов, пришедших на коллектор, их регистрируют по активности коллектора, вследствие обогащения исследуемого металла радиоактивным изотопом. № 146092

Редактор А. И; Дышельман Техред T. П. Курилко Корректор Г. С. Мосолова

Подп. к печ. 28.Х-62 г. Формат бум, 70Х108 /м Объе 0,26 изд. л.

Зак. l0484 Тираж 750 Цена 4 кон, ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр М. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14.

Способ определения коэффициента ионизации паров металлов Способ определения коэффициента ионизации паров металлов Способ определения коэффициента ионизации паров металлов 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов

Изобретение относится к приборостроению, а более конкретно к области изотопного анализа химических элементов масс-спектрометрическим методом
Наверх