Устройство для магнитной дефектоскопии

 

Класс 42, 46оз № 146589 ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБ ЕТКНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Л0 172

А. Т. Николаенко

УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Заявлено 9 июня 1960 г. за № 669471/25 в Комитет по делам изобретений и огкрытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 8 за 1962 г.

Известны устройства для магнитной дефектоскопии по методу вихревых токов, содержащие индикаторную катушку, перемещаемую у поверхности проверяемого изделия и питаемую прямоугольными импульсами тока одного направления.

В качестве индикатора применен катодный осциллограф. В осциллографе изменение параметров исследуемого изделия илп наличие в нем повреждений определяется по искажению формы испульсов тока на выходе схемы.

Однако известные устройства не обеспечивают возможности сохранения прямоугольной формы импульса на выходе устройства при начальной настройке дефектоскопа.

Предлагаемое устройство указанного недостатка не имеет. Это достигается применением цепочки, составленной из последовательно соединенных регулируемых сопротивления и емкости. Цепочка включена параллельно катушке индикатора дефектоскопа и служитдля восстановления прямоугольной формы кривой напряжения при установке индикаторной катушки на поверхности проверяемого изделия.

На фиг. 1 схематически изображена измерительная часть прибора; на фиг. 2 изображена принципиальная схема прибора.

Датчик с индуктивностью сгт и активным сопротивлением

/ z„àõ включен в катод лампы. Если выполнить условие R — — R, = 1/ с, то анодный ток и напряжение на анодном сопротивлении останутся без искажения, где R< и Ci — активное сопротивление и емкость.

Такое включение датчика резко повысит чувствительность прибора, поскольку на искажение импульса в этом случае будут оказывать влияние только параметры контролируемого изделия. № 146589

Ширина импульса Т и частота его выбираются при длительности переходного процесса, меньшей времени и длительности паузы между соседними импульсами.

Индуктивный датчик Д выполнен в виде накладной или проходной катушек (в зависимости от вида контроля). На схеме обозначены

ШУ вЂ” широкополосный усилитель, ГР— генератор прямоугольных импульсов. В качестве индикатора служит электронно-лучевая трубка.

В имеюшемся заключении указывается, что предлагаемое устройство позволило впервые реализовать контроль металлических изделий с использованием в качестве регистрирующего параметра переходного процесса в измерительной цепи.

Изменению различных факторов в предлагаемом приборе соответствуют разные характеры переходного процесса, что дает возможность классифицировать имеющиеся параметры изделий.

Предмет изобретения

Устройство для магнитной дефектоскопии по методу вихревых токов, содержащее индикаторную катушку, перемещаемую у поверхности проверяемого изделия и питаемую прямоугольными импульсами тока одного направления, а в качестве индикатора — катодный осциллограф, в котором изменение параметров исследуемого изделия или наличие в нем повреждений определяется по искажению формы импульсов тока на выходе схемы, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, для устранения искажения формы импульса при предварительной настройке дефектоскопа, применена цепочка, составленная из последовательно соединенных регулируемых сопротивления и емкости, включенных параллельно катушке индикатора дефектоскопа и служащих для восстановления прямоугольной формы кривой напряжения при установке индикаторной катушки на поверхности проверяемого изделия.

¹ 146589

Фиг 2

Редактор Е. Г. Манежева

Техред T. П. Курилко Корректор П. А. Евдокимов

ТипограФии ЦБТИ, Москва, Петровка, 14.

Подп. к печ. 5.V-62 г. Формат бум. 70Х108 /,6 Обьем 0,26 изд. л.

Зак. 4160 Тираж 900 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер. д. 2/6.

Устройство для магнитной дефектоскопии Устройство для магнитной дефектоскопии Устройство для магнитной дефектоскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх