Способ контроля цифровых интегральных микросхем
Изобретение относится к электронной технике и позволяет повысить достоверность и сократить длительность контроля цифровых интегральных микросхем (М). Логические сигналы с генератора 1, электрическое смещение с источника 2 и калиброванные переменные сигналы с генератора 3, фазовые и амплитудные соотношения между которыми задают фазовращателем 4 и амплитудным модулятором 5, через синхронизированные коммутаторы 6 и 7 и амплитудные регуляторы 8 и 9 подают на входы испытываемой и эталонной М 10 и 11. Сигналы с последних поступают на устройство 12 сравнения и индикаторное устройство 13. С помощью источника 14 обеспечивают требуемый режим работы по постоянному току или напряжению. Величину электрического смещения, амплитуды входных переменных сигналов и частоту их следования задают так, что амплитуды выходных сигналов испытываемой и эталонной М 10 и 11 при всех сочетаниях фазовых и амплитудных соотношений между входными переменными сигналами остаются в пределах переходного участка переключательной характеристики М. Перед началом контроля с помощью амплитудных регуляторов 8 и 9 уравнивают амплитуды выходных сигналов испытываемой и эталонной М 10 и 11 по фиксированному пути прохождения сигналов. Вывод от исправности М делают на основании сравнения выходных переменных сигналов испытываемой М 10 с выходными переменными сигналами эталонной М 11 или предполагаемыми выходными переменными сигналами исправной М при различных фазовых и амплитудных соотношениях между входными переменными сигналами, частоте их следования и величине электрического смещения. 1 ил.
Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам контроля цифровых интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности и сокращение длительности контроля цифровых интегральных микросхем за счет того, что путем подачи смещения и выбора частоты управляющего воздействия осуществляется трансформация всей или определенной части логической структуры испытываемой цифровой микросхемы в аналоговую структуру, регистрация передаточной характеристики полученной структуры при различных сочетаниях фазовых и амплитудных соотношений между входными испытательными сигналами, частоте их следования и величине электрического смещения и ее сравнения с передаточной характеристикой эталонной микросхемы или предполагаемыми для исправной микросхемы в условиях реализации контроля, исключающих формирование логических сигналов во всей или выделенной части микросхемы. На чертеже представлена блок-схема установки для осуществления данного способа. Логические сигналы с генератора 1, электрическое смещение с источника 2 и калиброванные переменные сигналы с генератора 3, фазовые и амплитудные соотношения между которыми задают фазовращатель 4 и амплитудный модулятор 5, через синхронизованные коммутаторы 6 и 7 и амплитудные регуляторы 8 и 9 подают на входы испытываемой 10 и эталонной 11 микросхем, сигналы с которых поступают на устройство сравнения 12 и индикаторное устройство 13. С помощью источника 14 обеспечивают требуемый режим работы микросхем по постоянному току или напряжению. Способ осуществляют следующим образом. Величину электрического смещения, амплитуды входных переменных сигналов и частоту их следования задают так, что амплитуды выходных переменных сигналов испытываемой и эталонной микросхем при всех сочетаниях фазовых и амплитудных соотношений между входными переменными сигналами остаются в пределах переходного участка переключательной характеристики микросхемы. Перед началом контроля с помощью амплитудных регуляторов 8 и 9 выравнивают амплитуды выходных сигналов испытываемой и эталонной микросхем по фиксированному пути прохождения сигнала. Путем подачи электрического смещения или логических сигналов на незадействованные выводы изделия управляют направлением прохождения испытательных сигналов в микросхеме. Вывод об исправности микросхемы делают на основании сравнения выходных переменных сигналов испытываемой микросхемы с выходными переменными сигналами эталонной микросхемы при различных фазовых и амплитудных соотношениях между входными и переменными сигналами, частоте их следования и величине электрического смещения. За эталон сравнения может быть взята расчетная передаточная характеристика исправной микросхемы при идентичной последовательности испытательных сигналов, которая может храниться в устройстве памяти. Для преодоления сложностей, обусловленных высокой частотой следования сигналов, целесообразно выполнять проверку путем сканирования передаточной характеристики микросхемы в пределах законченного цикла контроля и ее сравнения с эталонной передаточной характеристикой, воспроизводимой аналого-цифровыми преобразователями в растянутой временной шкале. В качестве входных испытательных сигналов могут быть использованы переменные сигналы произвольной формы. Организация последовательности испытательных сигналов может быть случайной (псевдослучайной) или соответствовать (по фазовым соотношениям) последовательности тестовых сигналов для комбинационной схемы (бесконечнозначной логики), получаемой из исходной, в результате трансформации ее логической структуры. Последовательность испытательных сигналов может иметь как непрерывное, так и дискретное задание фаз и амплитуд, частоты следования и величины электрического смещения. Ввиду информационной избыточности выбор того или иного решения должен исходить из результатов практического применения способа в отношении микросхем конкретной логической структуры и схемно-конструктивного исполнения. Способ контроля цифровых интегральных микросхем позволяет повысить информативность и достоверность проверки работоспособности микросхем с помощью аналоговой формы представления входных и выходных сигналов, отражает не только функциональный, но и параметрический аспект работоспособности микросхем. При этом сокращение продолжительности проверки достигается путем одновременной активизации всех возможных электрических связей между элементами микросхемы и использованием испытательных сигналов с повышенной частотой следования.
Формула изобретения
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, заключающийся в том, что на контролируемую интегральную микросхему подают напряжение питания, формируют тестовое воздействие на логические входы интегральной микросхемы, регистрируют возникающие при этом выходные сигналы, сравнивают их с эталонными сигналами и по результату сравнения судят об исправности интегральной микросхемы, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности и сокращения длительности контроля, на все электрически связанные между собой входы интегральной микросхемы подают постоянное электрическое смещение и сигналы переменного напряжения при различном сочетании фазовых и амплитудных соотношений на различных входах, выбирают амплитуду сигналов переменного напряжения такой, чтобы она находилась в пределах переходного участка входной переключательной характеристики интегральной микросхемы, а частоту сигналов переменного напряжения такой, чтобы амплитуды выходных сигналов находились в пределах переходного участка выходной переключательной характеристики интегральной микросхемы, на незадействованные входы интегральной микросхемы подают постоянные логические сигналы, а в качестве контролируемых параметров выходного сигнала используют его амплитуду и фазу.РИСУНКИ
Рисунок 1MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе
Дата прекращения действия патента: 07.04.1994
Номер и год публикации бюллетеня: 6-2002
Извещение опубликовано: 27.02.2002
