Способ магнитографического контроля изделий

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИ К

РЕСПУБЛИН (51) 4 G 01 N 27/85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТБЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 42 15681/25-28 (22) 25.03.87 (46) 07.09.88. Бюл. В 33 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) В.А.Новиков и А.А.Довыдков (53) 620.179.14 (088."8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 296031, кл. G 01 N 27/85, 1971, Неразрушающие физические методы и средства контроля. Тезисы докл.

IX Всесоюзной научно-технической конф. 26-28 мая. Секция В.-Минск, 1981, с. 274, ст. 113-108. (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть

„„SU„„1422126 А 1 использовано для контроля изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение.. чувствительности контроля поверхностных дефектов малого раскрытия путем намагничивания изделия совместно с плотно прижатым к поверхности паке-.. том из нескольких магнитных лент. Последние перед считыванием записи сдвигают одна относительно другой на одинаковое расстояние. Суммарный сдвиг находится в пределах 0,5 4 3

< 1,5 мм, а ленты сдвигают в направлении, перпендикулярном плоскости преднолагаемых дефектов. Увеличение ширины магнитного рельефа на пакете лент приводит к повышению чувствительности контроля. 4 ил.

1422126

Изобретение относится к магнитной дЬфектоскопии и может быть использовано для обнаружения дефектов поверхности изделий иэ ферромагнитных мате- 5 риалов.

Целью изобретения является повышение чувствительности контроля эа счет увеличения ширины магнитного рельефа„ снятого с дефекта на пакете лент при считывании магнитограмм.

На фиг. 1 и 2 изображены валики усиления швов с уложенными на них пакетами магнитных лент в случаях,когра ленты лежат в одной плоскости 15 и сдвинуты одна относительно другой; на фиг. 3 и 4 — вид пакетов лент перед считыванием.

На поверхности контролируемого

:1зделия 1 размещен пакет лент 2 с 20 магнитным рельефом 3 от дефекта 4.

Способ осуществляется следующим образом.

При намагничивании контролируемого изделия 1 (фиг. 1 и 2) совместно 25 прижатым к его поверхности пакетом лент 2 после дефекта 4 создает магнитный рельеф 3 на всех лентах (толщина ленты 30-70 мкм). При суммарном сдвиге лент на расстояние . на такой же отрезок увеличивается и ширина магнитного рельефа 1 (фиг.3 и 4) °

Магнитная головка (не показана) считывает магнитный рельеф co acez лент

2 даже при суммарной толщине пакета

35 свыше 1 мм. Увеличение ширины магнитного рельефа на пакете лент 2 приводит к повышению чувствительности контроля, Для различных магнитных головок и лент 2 разных типов экспе40 риментально установлено, что опти мальный суммарный сдвиг лент в пакете

0 5 Д < 1,5 мм. 3а пределами этих границ чувствительность контроля сни" жается.

Пример. Контролируют изделие, имеющее поверхностную трещину шириной 0,05 мм, магнитографическим ме rortoM. Иагнитоноситель представляет собой пакет из двух магнитных лент, уложенных одна на другую. При считывании информации без смещения магнитных лент амплитуда сигнала, обусловленного дефектом, составляет 5 мВ.

Затем смещают ленты одна относительно другой на расстояние Л = 1 мм и производят считывание. Амплитуда сигнала, обусловленного дефектом, составляет 25 мВ, т.е. в 5 раз больше, чем в предыдущем случае. Применение способа магнитографического контроля позволяет повысить чувствительность контроля.

Формула изобретения

Способ магнитографического контроля.изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что изделие намагничивают совместно с прижатым к поверхности магнитным носителем в виде пакета из нескольких лент, переносят магнитный рельеф поверхности намагниченного изделия.на магнитный носитель и йо результату считывания магнитограммы с носителя определяют наличие дефекта, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, перед считыванием магнитограммы магнитные ленты в пакете сдвигают друг относительно друга на одинаковое расстояние 1,равное 1 = д/п-1, где ичисло лент в пакете, и -смещение и-й ленты в пакете относительно первой, выбранное из условия 0,5 6 6 1,5 мм.

1422126

Составитель А.Бодров

Техред Л.Олийнык Коррректор В.Гирняк

Редактор И.Шулла тираж 847 Подписное

В11ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Закаэ 4423/43

Проиэводственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ магнитографического контроля изделий Способ магнитографического контроля изделий Способ магнитографического контроля изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для выявления дефектов типа нарушений сплошности в изделиях из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии качества изделий и их сварных соединений

Изобретение относится к неразрущающему контролю и может быть использовано для магнитографической дефектоскопии качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для намагничивания движущихся изделий в процессе контроля

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения дефектов поверхности круглых и квадратных заготовок металлургической промышленности

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитографическим методом дефектоскопии и может быть использовано для намагничивания участка изделия при выявлении несплошности материала изделия

Изобретение относится к неразрушающему контролю ферромагнитных изделий магнитографическим методом дефектоскопии

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано в устройствах для исследования свойств магнитной ленты, в частности для контроля геометрических парамет- .ров сигналограмм на магнитной ленте

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх