Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения

 

Изобретение относится к способам градуировки тензорезисторов. Цель изобретения - повьшение точности измерения деформаций консольной тензобалки равного сечения в зоне,наклейки тензорезистора. Для этого нагружают тензобалку до получения одного и того же прогиба f сначала в конечной точке d, а потом в другой фиксированной точке с, регистрируя каждый раз изменения в показаниях тензорезистора. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

COL!HA ËÈÑÒÈ×ÅÑÍÈÕ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

flO.ÄÅËÀÌ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

К А BTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4130543 /25-28 (22) 07.07,86 (46) 30,09,88. Бюл, Р 36 (72) Л.Ф,Моисеев и И.И.Померанцева (53) 531.781.2(088.8) (56) Рузга 3. Электрические тензометры сопротивления. М.: Госэнергоиэдат, 1961, с, 65. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ

ГРАДУИРОВОЧНОЙ КОНСОЛЬНОЙ.ТЕНЗОБАЛКИ

РАВНОГО СЕЧЕНИЯ

„„SU„„1427167 . А1 (57) Изобретение относится к способам градуировки тенэорезисторов. Цель изобретения — повышение точности измерения деформаций консольной тензобалки равного сечения в зоне, наклейки тензорезистора. Для этого дь|ажды нагружают тенэобалку 1 до получения одного и того же прогиба f сначала в конечной точке d а потом в другой фиксированной точке с, регистрируя каждый раз изменения в показаниях тензореэистора. 1 ил.

1427167

3»m> f

2 (m 1 ъ — (1 — аъ)1 где

bR<

m = - —-ЬК измерена.

Формула и э о б р е т е н и я

Составитель В.Мелуэова

Редактор М. Петрова Техред М. Ходанич Корректор М. Васильева

Заказ 4841/35 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к спос.обам градуировки тензореэисторов.

Цель изобретения - повьпиение точности измерения деформаций консольной тензобалки равного сечения в зоне наклейки градуируемого тензорезистора.

На чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа, 10

На чертеже обозначено: 1 — градуировочная консольная тензобалка равного сечения; 2 — градуируемый тензореЗистор; P — воздействующая нагрузка;

1 и h — длина и толщина тензобалки; f " прогиб тензобалки в точке Й при нагружении I и в точке с при нагружении II а-координата фиксированной точки с.

Способ осуществляют следующим образом.

Измеряют длину 1 и толщину h ненагруженной балки с наклеенным тенэореэистором 2. Затем балку 1 дважды ."нагружают: первый раз — до получе- 25 ния прогиба f которыи измеряют, в точке d, а второй раз — до получения такого же прогиба f в фиксированной точке с, отстоящей от конечной точки

d на расстоянии а. При первом и втором нагружениях фиксируют соответственно изменения сопротивления градуируемого тензорезистора b R, и Ь К .

Градуировочную деформацию Е, балки в зоне наклейки тензорезистора при первом нагружении определяют по формуле

Точность определения Е, повышается примерно в 2 раза благодаря исключению из, расчетной формулы значения координаты х места наклейки тензорезистора, которая при изгибе балки изменяется и не может быть надежно

Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения, заключающийся в том, что измеряют длину и толщину балки, иэгибают балку нагружением ее свободного конца и измеряют ее максималь. ный прогиб в конечной точке, а по результатам выполненных измерений определяют деформацию балки в месте наклейки градуируемого тенэорезистора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, дополнительно нагружают балку до получения измеренного прогиба в точке, отстоящей от конечной на фиксированную величину, и в каждом случае нагружения измеряют изменение сопротивления тензорезистора.

Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения динамических деформаций

Тензометр // 1421987
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения деформаций поверхности крупногабаритных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для монтажа тензодатчиков (ТД) на магнитные конструкции (К)

Изобретение относится к контролю деформаций в материалах в процессе их разрушения и может быть использовано для исследования процессов сушки слоистых материалов

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к способам измерения деформаций с помощью различных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике, к регистрации знакопеременных деформаций с помощью тензорезистивных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам изготовления и({тегральных тензомостов, и может быть использовано при индивидуальной настройке тензомостов, предназначенных для работы при переменных температурах

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измеритатьной технике, а именно к измерению деформаций

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх