Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии

 

Изобретение может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства , где необходимо определять химический или изотопный состав вещества . Масс-спектрометр (МС) с фокусировкой по энергии содержит источник I и приемник 2 ионов, диспергирующий магнит 3, электростатическое зеркало , состоящее из электродов 4-6, каждый из которых представляет собой пару конгрузнтных пластин, расположенных параллельно друг другу и симметрично относительно средней плоскости. Обращенным друг к другу боковым сторонам пластии соседуих электродов придана форма частей соосных круговых цилиндрических поверхностей, образзггощие которых перпеидикулярны к средней плоскости, а главная оптическая ось МС а поле зеркала обращена выпуклостью к оси этих цилиндрических поверх-Q ностей. МС с фокусировкой по энергии имеет повьш1енные разрешакицую способность , чувствительно«гть. 2 з.п. ф-лы 3 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) 5 Н О! J 49/32 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТЮ (46) 30.04. 92. Вюл. Р 16 (21) 413? 392/21

{22) 24.!0.86 (71) Институт ядерной физики AH

КазССР (72) Л.Г. Вейэина, С.П. Карецкая и В.M. Кельмаи (53) 621.384(088.8) (56) Кельман В.М., Родникова И.В., Секунова Л.М. Статические массспектрометры. Алма-Ата.: Наука, 1985, с.97-128, с. 158-237.

Авторское свидетельство СССР

У !091257, кл. H Ql J 49/32, !984. (54) МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ФОКУСИРОВКОЙ

ПО ЭНЕРГИИ (57) Изобретение может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где необходимо определять химический или изотопный состав вещества. Масс-спектрометр (МС) с фокусировс

„.SU„„ 3438522 кой по энергии содержит источник н.приемник 2 ионов, диспергирующий магнит 3, электростатическое зеркало, состоящее иэ электродов 4-6, каждый из которых представляет собой пару конгруэнтных пластин, расположенных параллельно друг другу и симметрично относительно средней плоскости.

Обращенным друг к другу боковым сторонам пластин соседних электродов придана форма частей соосных круговых цилиндрических поверхностей, образующие которых перпендикулярны к средней плоскости, а главная оптическая ось

МС в поле зеркала обращена выпуклостью к осн этих цилиндрических поверх-д ностей. МС с фокусировкой по энергии имеет повьппенные разрешающую способность, чувствительноать. 2 з.п. @-лы

3 ил.

1438522

Изобретение относится к технике масс-спектрометрии и может быть использовано в тех отрасляк народногс хозяйства, где необходимо определять химический или изотопный состав ве5 щества.

Келью изобретения является повышение разрешающей способности, чувствительности, уменьшение габаритон и рас- 0 ширение аналитических возможностей масс-спектрометров с фокусировкой по энергии.

Поставленная цель достигается тем, что в известном масс-спектрометре с фокусировкой по энергии, содержащем источник и приемник ионов, диспергирующий магнит, электростатическое зеркало, состоящее из нескольких электродов, каждый из которых представ- 20 ляет собой пару конгруэнтных пластин, расположенных параллельно друг другу и симметрично относительно средней плоскости, обращенным друг . к другу боковым сторонам пластин со- 25 седних электродов зеркала придана форма частей соосных круговых цилиндрических поверхностей, обргзующие которых перпендикулярны к средней плоскости, а главная оптическая ось ЗО масс-rnåêòðoìåòðà в поле зеркала обращена выпуклостью к оси этих цил1<н;;рических поверхностей.

Параметры диспергирукщего магнита и электростатического зеркала

0м связаны соотношением 0 = — —, если . ь, гервой после источника ионов расположена электростатическая система, или

„0 (<(, 40 соотношением D =" —, если первым расЯ положен магнит, где 0 > — угловая дисI персия по энергии электростатического зеркала, 0 „ - линейная дисперсия по массе (энергии) диспергирующего маг- gg нита, 1А — линейное увеличение массспектрометра, Ь о — расстояние от выходной щели источника до первой ггав- ной плоскости зеркала, Ь z — рас,.тс(яиие от промежуточного изображения до названной плоскости.

При необходимости одновременной регистрации широкого участка спектра масс выходная щель источника н (ног< располагается B главной фокальц<1й плоскости установленного перед диспергирующим магнитом электрост(1тического зеркала. Если диспергир ющнй магнит янлггется днумерно11 ил1< I:<.íè<еской магнитной. призмой, масс-спектрометр снабжается дополнительно вторым электростатическим зеркалом или электростатической линзой, которые располагаются по другую, чем первое зеркало, сторону от магнита, причем выходная щель источника и нходная щель приемника ионов устанавливаются и главных фокальных плоскостях электростатических систем. В этом ( случае Dz представляет собой суммарную угловую дисперсию па энергии электростатических систем.

Изобретение заключается в том, что приведенная совокупность признаков позволяет лучше компенснровать, аберрации, вследствие появления дополнительных свободньгх параметров, и тем самым улучшать разрешающую способность и чувстнительносг(> спектрометра; обеспечивает резкое увеличение дисперсии электростатической системы и, как следствие, уменьшение ее габаритов, делает возможным преобразование расходящегося пучка ионов в параллельный, а следовательно, создание призменного прибора, а также прибора с одновременной регистрацией широкого спектра масс с более простой и совершенной электростатической частью. При этом сохраняется достоинство прототипа — возможность электростатической регулировки параметров прибора.

Искривление обращенных друг к другу боковых сторон пластин соседних электродов необходимо для создания такого распределения электрического поля, которое позволяет преобразовать расходящийся пучок в параллельньй . При прямоугольных электродных пластинах такое преобразование невозможно. Предлагаемая ориентация оптической оси в поле зеркала необходима для увеличения дисперсии электростатической системЬ1 по энергии и улучшения ее фокусирующих свойстн.

Рм

Выполнение соотношения D = ——

Dì гАbî, или 0 — — — необходимо для достиЬп жения фокусировки по энергии.

Расчеты показывают, что приведен— ной совокупности признаков достаточно для достижения указанного положительного эффекта.

В ЗаянпяЕМсм Пр11бо рЕ На ИПЕ11ПЕ движения ис н< г и 11< ге г(1ектр < т.I г<114 1г1Г 17 ческой системы образует с рядияльш,ttt

Направлением большой угол, Пя фиг. l покл евана ионно-оптиче— ская схема предлагаемого масс-спектроrz метра с секторным магнитом в проекции на среднюю плоскость; ня фиг. 2 то же, с секторным магнитом для одновременной регистрации широкого участка спектра масс ня фотопластинке или 10 при помощи позиционно-чувствительного детектораг на фиг. 3 — то же, с двумерной магнитной призмой.

Масс-спектрометр на фиг. 3 целесообразно испольэовать при необходимо- 15 сти получить очень высокую разрешающую способность по массе.

Масс-спектрометр состоит иэ источника 1 ионов, приемника 2 ионов, диспергирующего магнита 3 и одного (фиг.1, 20

2) ипи двух (фиг..3) электростатических зеркал с электродами 4-6, Каждый электрод зеркала представляет .собой две идентичные, параллельные друг другу пластины, расположенные симметрично относительно средней плоскости,обращенные друг к другу боковые поверхности пластин соседних электродов имеют. цилиндрическую форму. Главная оптическая ось масс-спектрометра 30 в поле зеркала обращена выпуклостью к оси О этих поверхностей. В массспектрометре ня фиг. 2 выходная щель источника .ионов I расположена в главной фокальной плоскости зеркала с электродами 4-6. В масс-спектрометре, изображенном на фиг. 3, выходная щель источника ионов 1 расположена в главной фокальной плоскости первого по ходу пучка зеркала с электрода- 40 ми 4-6. Входная щель приемника 2 ионов расположена в главной фокальной плоскости второго зеркала с электродами 4-6.

Масс-спектрометр, изображенный 4В иа фиг. 1, работает следующим образом.

Ионный пучок, сформированньгй источником 1, поступает в поле зеркала с электродами 4-6, которое откло- 50 няет его, фокусирует и разделяет ионы по энергии. Сформированные зеркалом промежуточные фокусы ионов с различной энергией разнесены в пространстве. параметры зеркала подобраны так, что после прохождения ионами Магнитного поля, осуществляющего.àõ разделение по массам, все ионы с определенной массой, но различными няргнямп Фпкупируют . п пппм месте, т.е. проиэвопптся ф куппровка по энергии. В этом мес.те располагается приемник 2 ионов. Лнпейн е увеличение как магнитного, так и электростятическпгп каскада равно поэтому р =- — I, дисперсия зеркала по энергии в плоскости промежуточногоо изображения D = — D,b » и

0м общее соотношение D = — — — в этом

3. частном случае принимает вид D> = D t то есть условием осуществления фоку— сиравки по энергии является равенство дисперсий электростатического зеркала и магнита.

В масс-спектрометре (фиг ° 2) ионы с определенной энергией, выходящие из какой-либо точки источника, преобразуются зеркалом в параллельный пучок.

При выполнении равенства D .f = - D, о где f — фокусное расстояние диспергирующеro магнита, ионы с различной энергией, но с определенной массой, собираются в определенном месте отрезка прямой, с которой и совмещается фотопластинка или позиционночувствительный детектор. Это равенство является следствием общего соотноDч щения D = — — —, так как в данном

3 случае р = — —, Ь = —.f, где f g

1 фокусное расстояние зеркала.

Масс-спектрометр, показанный на фиг. 3, отличается наличием двух зеркал, осуществляющих фокусировку ионов по направлению и по энергии. Первое из них играет роль коллиматора, второе — камеры спектрометра. ЗеркаI ла идентичны. Рм= D„f >, где D > угловая дисперсия магнитной призмы;

fy — фокусное расстояние зеркала, Ь о = f 3 Р = — 1 и общее соотношеDм ние D = — — принимает вид D рЬо 3

= -D ïðè÷åì D представляет собой удвоенную угловую дисперсию зеркала.

В предлагаемых масс-спектромет" рах благодаря большему, чем в прото» типе, числу свободных йараметров у электростатической системы удается сравнительно легко и более полно компенсировать аберрации диспергирующего магнита и, таким образом, повысить разрешающую способность и светосилу.

1436522

Габариты электростатической сиспемы масс-спектрометра, изображенного иа фиг. 1, примерно н 3,5 раза меньше,чем н прототипе при одинаковой диспарсии приборов по массе. РасширяютБ ся аналитические возможности, так как п1Педлагаемое изменение конструкции электростатической системы позволяет с<>адать масс-спектрометр, изображеинпп3 на фиг. !, с одновременной регист1 рацией широкого участка спектра масс.

Пфи этом сложный в изготовлении тороцйальный конденсатор заменяется более простой и совершенной системой, появ- 15 ляется возможность электрической настройки прибора, а следовательно„ выбора оптимального режима работы и повышения pa ðeøàþùåé способности и чувствительности. 20

Кроме того, удаетея создать приборы с диспергирующими магнитами в виде м гнитных призм (фиг. 3), обладаюпцюх целым рядом достоинств. При этом число электродов электростатической 26 системы по сравнению с аналогом уменьшается с 1Одо б,вследствие чего значительно упрощается схема питаниями

Формула изобретения

ЗО

Наес-спектрометр с фокусировкой и энергии, содержащий источник и прие них ионов, диспергирующий магнит, электростатическое зеркало, состоящее и нескольких электродов, каждый из которых образован парой конгруэнтных пластин, расположенных параллельно друг другу и симметрично относительно средней плоскости, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повыше Щ ния разрешающей способности, чувствительности, уменьшения габаритов и расширения аналитических возможностей масс-спектрометра, обращенные друг к другу торцы пластин соседних электрос дОв зеркала имеют форму частей соосных круговых цилиндрических поверхностей, образующие которых перпендикулярны к средней плоскости, а главная оптическая ось масс-спектрометра в поле зеркала обращена выпуклостью к оси этих цилиндрических понерхностей, причем параметры диспергирующего маг1 нита и электростатического зеркала связаны соотношением 0

Бм

tub, если первой после источника ионов расположена электростатическая система, или соотношением 0, D — если первым расположен магЪп

I нит, где D — угловая дисперсия по энергии электростатического зеркалa 5 - линейная дисперсия по массе (энергии) диспергирующего магнита, p — линейное увеличение. массспектрометра; bo — расстояние от выходной щели источника до первой главной плоскости зеркала (м), Ъ я расстояние от промежуточного изображения до названной плоскости (м).

2. Масс-спектрометр по п. 1, о тл и ч а ю щ и, и с я тем, что выходная щель источника ионов расположена

B главной фокальной плоскости установленного перед диспергирующим магнитом электростатического зеркала.

3, Масс-спектрометр по п. 1, о тл и ч а ю шийся тем, что диспергирукщий магнват является двумерной или конической магнитной призмой, а масс-спектрометр снабжен дополнительно нторьп электростатическим зеркалом или электростатической линзой, которые расположены по другую, чем первое зеркало, сторону от магнита, причем выходная щель источника и входная щель приемника ионов установлены в главных фокальных плоскостях электростатических систем.

1438523

Составитель В. Кащеев

Техред Л.Сердюкова

Редактор М. Васильева

Корректор .В. Гирняк

Заказ 2315

Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1!3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Пр< и в< лственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, ч

Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к физическому приборостроению, в частности к ;устройствам для анализа ионов и электронов и может быть использовано при анализе поверхностных слоев материала

Изобретение относится к области спектрометрии, а точнее к статистическим масс-спектрометрам, и может быть использовано при создании портативных приборов для изучения химического и изотопного состава газообразных жидких и твердых веществ

Изобретение относится к области масс-анализа заряженных частиц в линейных электрических ВЧ полях и может быть использовано для улучшения конструкторско-технологических и коммерческих характеристик радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров

Изобретение относится к диагностике поверхности ионными пучками низких энергий (1 - 10 кэВ), в частности к энергомасс-спектрометрии вторичных ионов - интенсивно разрабатываемому в настоящее время методу элементного, фазового и химического анализа поверхности твердых тел

Изобретение относится к области анализа заряженных частиц. Масс-спектрометр содержит камеру, инжектор, способный инжектировать в камеру заряженные частицы, и генератор поля. Генератор поля выполнен с возможностью формирования по меньшей мере одного поля, действующего на заряженные частицы и имеющего улавливающий угловой компонент, сконфигурированный с возможностью образования между осью вращения и периферией камеры по меньшей мере одного канала, задаваемого энергетическими минимумами улавливающего углового компонента. Генератор поля выполнен с возможностью вращения улавливающего углового компонента вокруг оси вращения. Благодаря этому при использовании масс-спектрометра перемещение заряженных частиц ограничено посредством улавливающего углового компонента движением в угловом направлении внутри по меньшей мере одного канала вместе с указанным угловым компонентом, в результате чего на заряженные частицы действует центробежная сила. Созданное генератором поле дополнительно имеет уравновешивающий радиальный компонент, монотонно возрастающий по мере увеличения радиального расстояния от оси вращения по меньшей мере вблизи по меньшей мере одного канала. В результате при использовании масс-спектрометра заряженные частицы движутся по меньшей мере по одному каналу под совместным влиянием центробежной силы и уравновешивающего радиального компонента с формированием одной или более орбит в соответствии с отношениями зарядов частиц к их массам. Масс-спектрометр содержит также детектор, способный детектировать по меньшей мере одну из указанных орбит. Предложены также способы масс-спектрометрии. Технический результат - упрощение конструкции масс-спектрометра и расширение диапазона анализируемых частиц. 7 н. и 26 з.п. ф-лы, 28 ил.

Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для расширения аналитических возможностей масс-анализаторов времяпролетного типа. Технический результат - повышение чувствительности и расширение динамического диапазона времяпролетных масс-спектрометров путем увеличения средних значений токов анализируемых ионов. Пакеты ионов на каждом цикле ввода распределены во времени по псевдослучайному закону, который выбирается таким образом, чтобы периодическая автокорреляционная функция последовательности имела нулевые боковые лепестки, а величина главного максимума была равна числу единиц в последовательности. При детектировании сигналы, соответствующие импульсам выходного ионного тока времяпролетного масс-анализатора, обрабатываются в согласованном фильтре, который работает по принципу суммирования входной и сдвинутых последовательностей со знаками плюс и минус в соответствии с распределением символов «1» и «0» в псевдослучайной последовательности. Устройство для времяпролетного масс-анализа содержит генератор псевдослучайных последовательностей и согласованный фильтр, которые включаются соответственно в источники и детекторы ионов. 2 н.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к области масс-анализа вещества высокого разрешения и может быть использовано для улучшения аналитических и коммерческих характеристик масс-спектрометрических приборов с преобразованием Фурье. Способ состоит в создании периодических колебаний ионов по осям X и Y под действием комбинации линейного высокочастотного и однородного статического электрических полей в полупространстве x>0. В этом случае плоскость x=0 может быть по радиочастоте заземлена и на ней возможно измерение с высоким отношением сигнал/помеха наведенных от колебаний ионов токов. Такой режим колебаний ионов реализуется в устройстве, представляющем собой линейную ионную ловушку из заземленного по радиочастоте и с постоянным положительным потенциалом электрода 1 в плоскости x=0, электрода 2 в плоскости x=xа с дискретно-линейным распределением высокочастотного потенциала и в плоскостях z=0, z=za электродов 3, 4 с положительным в несколько вольт потенциалом. Ввод ионов в ловушку осуществляется через щель в электроде 1. Технический результат - упрощение конструкции и улучшение массогабаритных характеристик масс-спектрометров с преобразованием Фурье. 2 н.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к области пространственно-временной фокусировки и масс-анализа заряженных частиц по времени пролета в двумерных линейных высокочастотных электрических полях и может быть использовано для улучшения аналитических характеристик приборов микроанализа вещества, использующих ионно-оптические системы с планарными дискретными электродами. Технический результат - расширение пространства с линейным электрическим полем радиочастотных времяпролетных масс-анализаторов в направлении дрейфа ионов без увеличения размеров планарных дискретных электродов. Указанный результат достигается путем замыкания граничной области ионно-оптической системы с помощью двух дополнительных планарных электродов с противофазными потенциалами. 3 ил.

Изобретение относится к области масс-спектрометрического анализа вещества и может быть использовано для улучшения конструктивных и коммерческих параметров ионных ловушек с дипольным возбуждением ионов. Технический результат - упрощение системы развертки масс и высокочастотного питания квадрупольных линейных ионных ловушек с резонансным выводом ионов. В процессе развертки спектров масс во времени изменяется амплитуда Vв и частота Ωв возбуждающего напряжения, а амплитуда V и частота ω высокочастотных напряжений u1 и u2 остаются постоянными, причем законы изменения во времени амплитуды Vв(t) и частоты Ωв(t) возбуждающего напряжения выбираются так, чтобы абсолютная разрешающая способность Δm линейной ловушки с дипольным возбуждением в диапазоне масс mмин-mмакс оставалась постоянной. 2 ил.
Наверх