Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при анализе структуры материала с твердыми включениями. Целью изобретения является снижение трудоемкости и повышение точности . Заготовку устанавливают, например, на строгальном станке, закрепляют инструмент с цилиндрической рабочей поверхностью и, внедряясь в заготовку, перемещают его по поверхности в направлении, перпендикулярном образующей рабочей поверхности инструмента . Инструмент разрушает мягкую зону поверхности образца и по выступам на вновь образованной поверхности заготовки определяют координаты включений, которые уточняют по следам (рискам) на рабочей поверхности инструмента. Координаты включений уточняют путем повторного перемещения инструмента в направлении, перпендикулярном первоначальному. 1 з.п.ф-лы, 4 ил.
Похожие патенты:
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шеро.ховатости новерхностеи обработки материалов
Изобретение относится к контролю жестких движущихся длинномерных материалов и может быть использовано для контроля прямолинейности медных и - MffffftaSjewe /Tf zofffio f
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества поверхности мягких материалов
Изобретение относится к области измерительной техники
Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов
Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек
Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента
Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов