Способ градуировки фотоэлектрических измерителей колебаний
Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение диапазона измерений за счет расширения частотного диапазона и увеличения размаха имитируемых колебаний„ Способ градуировки фотоэлектрических измерителей колебаний реализуется следующей последовательностью операций. Имитируют колебания объекта относительно фотоэлектрического преобразователя 4 испытуемого прибора путем установки двух щелевых диафрагм 1 на расстоянии , равном размаху импульсных колебаний и поочередной засветки этих диафрагм 1 соответствующими импульсными источниками 2 света, причем период повторения световых импульсов для каждой диафрагмы 1 выбирают равным периоду имитируемыз4 колебаний , а длительность световых импульсов выбирают в зависимости от размаха и частоты имитируемых колебаний. Измеряют параметры колебаний испытуемого и эталонного приборов 3 и сравнивают измеренные значения. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. Ф СЛ
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИК
„„SU„„145679 (511 4 С 01 Н 9/00
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
Н A BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4213952/24-28 (22) 24.03.87 (46) 07.02.89. Бюл. У 5 (72) 3).Ф.Герасимов, В.П.Гущина и В.В.Царев (53) 534.7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР
У 717559, кл. G 01 Н 11/00, 1978.
I (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ КОЛЕБАНИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение диапазона измерений за счет расширения частотного диапазона и увеличения размаха имитируемых колебаний. Способ градуировки фотоэлектрических измерителей колебаний реализуется следующей последовательностью операций. Имитируют колебания объекта относительно фотоэлектрического преобразователя 4 испытуемого прибора путем установки двух щелевых диафрагм 1 на расстоянии, равном размаху импульсных колебаний и поочередной засветки этих диафрагм 1 соответствующими импульсными источниками 2 света, причем период повторения световых импульсов для каждой диафрагмы 1 выбирают равным периоду имитируемьЫ колебаний, а длительность световых импульсов выбирают в зависимости от размаха и частоты имитируемых колебаний.
Г
Измеряют параметры колебаний испыту- с ф емого и эталонного приборов 3 и сравнивают измеренные значения. 1 з.п. ф-лы, 1
С::
1456793 воспринимаются фотоэлектрическим преобразователем 4 испытуемого прибора и результат индицируется на блоке 5 обработки и индикации. Показания блока 5 сравниваются в показаниями эталонных приборов 3. формула изобретения
arccos(1 — -)
N где f — частота имитируемых колебанийэ
N — число квантов шкалы градуруемого прибора, -соответствующее имитируемому размаху колебаний.
Составитель С. Конюхов
Техред А. Кравчук Корректор А. Ворович
Редактор Г. Волкова
Заказ 7544/39 Тираж 512 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для градуировки приборов бесконтактного измерения колебаний.
Целью изобретения является расширение диапазона измерений за счет расширения частотного диапазона и увеличения размаха имитируемых колебаний. 10
На чертеже приведена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.
Устройство, реализующее способ градуировки для фотоэлектрических из- 15 мерителей колебаний, содержит две щелевые диафрагмы.1, два импульсных источника 2 света, оптически связанные с соответствующими щелевыми диафрагмами 1, два эталонных измерительных прибора 3, жестко связанных с соответствующими щелевыми диафрагмами 1, фотоэлектрический преобразователь 4 испытуемого прибора, оптически связанный с щелевыми диафраг- 25 мами 1 и блоками обработки и индикации испытуемого прибора, вход которого связан с выходом фотоэлектри« ческого преобразователя 4.
Устройство работает следующим об- 30 разом.
Импульсные источники 2 света поочередно засвечивают соответствующие щелевые диафрагмы 1, которые разнесены на расстояние равное раз» маху имитируемых колебаний. Контроль величины размаха имитируемых колебаний- осуществляется с помощью эталонных измерительных приборов 3. Период повторения импульсов засветки 40 каждой щелевой диафрагмы 1 выбирается равным периоду имитируемых колебаний, а длительность импульсов засветки выбирается в- зависимости от размаха и частоты имитируемых ко-. лебаний. Импульсные световые штрихи, формируемые щелевыми диафрагмами 1, 1. Способ градуировки фотоэлектрических измерителей колебаний, ""аключающийся в том, что имитируют колебания объекта относительно эталонного прибора и бесконтактного датчика испытуемого прибора, одновременно измеряют параметры колебаний с помощью испытуемого и эталонного приборов, сравнивают измеренные значения, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, устанавливают две щелевые диафрагмы йа расстояние, равном размаху имитируемых колебаний, колебания имитируют путем поочередной засветки этих диафрагм импульсными источниками света, период повторения световых импульсов, для каждой диафрагмы выбирают равным периоду. имитируемых колебаний, а длительность световых импульсов выбирают в зависимости от амплитуды и частоты имитируемых колебаний, 2. Способ по и. 1, о т л и ч а— ю шийся тем, что длительность световых импульсов Т выбирают по формуле
