Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов

 

Изобретение относится к электроизмерительной технике. Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов заключается в следующем. Производят измерешсе отношения частичных емкое-, тей разрядного электрода при низком напряжении, измерение частичных отношений емкостей при высоком напряжении, затем один из электродов поворачивают на 180 относительно собственной оси и измеряют отношение частичных емкостей при низком напряжении. По измеренным отношениям рассчитывают эксцентриситеты при низком и высоком напря- I женин

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК д11 4 G 01 R 27/26

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н A BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4274288/24-21 (22) 03.04.87 (46) 07.02.89. Бюп. Р 5 (72) С.И.Шамшурин (53) 621. 317. 3 (088 . 8) Р Нг У

D н

8.Г2

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (56) Hillhause D.Ь., Peterson А.Е.

IEEE Trans on Instrum. und Neasurem

VolIM-22, December, 1973, h» 4,s.408416.

Авторское свидетельство СССР

Н 665338, кл. Н 01 G 4/02, 1978. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ

ИЗМЕНЕНИЙ ЕМКОСТИ ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ (57) Изобретение относится к электроR2 R2 юо 2 . 8Г2 где R, и R — радиусы соответственно внутреннего и внешнего цилиндрического электрода, m„, n„, и ms, n — отклонение от единицы измеренных отношений соответственно при низком и высоком напряжении, (N ), (Н. )я и (N4öù„ (Xã )„„0î — отношение частич1

Изобретение относится к электроиэмерительной технике и .может быть применено в метрологической практике поверочных и измерительных лаборато- . рий, занимающихся измерением электрических величин при высоком напряжении.,, 80„„1456910 А1 измерительной технике. Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов заключается в следующем. Производят измерение отношения частичных емкос-, тей разрядного электрода при низком напряжении, измерение частичных отношений емкостей при высоком напряжении, затем один из о электродов поворачивают на 180 относительно собственной оси и измеряют отношение частичных емкос.тей при низком напряжении. По измеренным отношениям рассчитывают эксцентриситеты при низком и высоком напря-.

i женин ных напряжений при низком напряжении соответственно до и после поворота на о

180 . Относительное изменение емкости конденсатора рассчитывают по фор муле,4С/С = 2Du (D e — D ) /(Кг — R2 ) x

Кг к ln

Цель изобретения — повышение точности определения относительных изменений емкости высоковольтных цилинд. рических коаксиальных конденсаторов с разрезным электродом под действием рабочего напряжения.

145б910 напряжении, по результатам измерения определяют значения поправок на неидентичность площадей поверхностей обкладок разрезного электрода, которые учитывают при измерении отношений частичных емкостей при высоком напряжении.

Измеренные отношения вводятся в расчетные формулы эксцентриситетов 2 « 2

0 ea « . А А

8,Д R1

В2 112

0в е. гдето,иК радиусы соответственно внутреннего и внешнего цилиндрических электродов; отклонения от единицы измеренных отношений соответ25

Формула изобр eòения

msyn ь нии.

Составитель В.Андреев

Редактор В.Данко Техред М.Дидык Корректор А.Обручар

Заказ 7549/45 Тираж 71 1 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ заключается в следующем.

Производится измерение отношений частичных емкостей при низком напряжении измерение отношений частич1

5 ных емкостей при высоком напряжении, в процессе измерения поворачивают один из электродов на 180 относительно собственной оси, измеряют отI ношение частичных емкостей при низком 1О ственно при низком и высоком напряжении," (N4)w э (14 )н18о э и (Nq )„(N )н 80 отношения частичных емкостей при низком напряжении.

Относительное изменение емкости конденсатора рассчитывается по формуле 35 С 20 н (0в-Du)

С «R„° (R> -К ) ) n

2 4 R где D D — значение эксцентриси- 40 н е тета системы электродов соответственно при низ- ком и высоком напряжеСпособ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов, заключаннфийся в том, что измеряют отношения частичных емкостей при низком напряжении и измеряют отношения частичных емкостей при высоком напряжении, о т л и ч а— ю шийся тем, что, с целью повышения точности определения относительных изменений емкости высоковольтных цилиндрических коаксиальных конденсаторов с разрезным электродом под действием рабочего напряжения, дополнительно поворачивают разрезной о электрод на 180 относительно собственной оси, измеряют отношения ° частичных емкостей при низком напряжении и по результатам измерений определяют значения поправок на неидентичность площадей поверхностей обкладок разрезного электрода, которые учитывают при определении. относительно изменения емкости исследуемого конденсатора.

Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ

Изобретение относится к области измерения параметров индуктивных датчиков и служит для повьш1ения точное-

Изобретение относится к области резонансных измерений кот ентраций паров и газов

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано, например, для поверки проводимости мостов переменного тока

Изобретение относится к техияке измерения физических свойств жидких сред

Изобретение относится к измерительной технике и способам преобразования параметров емкостных датчиков и может быть использовано для автоматизации процессов измерения и контроля перемещений

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика

Изобретение относится к электронному приборостроению и может быть использовано для контроля и измерения диэлектрических параметров различных сред

Изобретение относится к измерению электрических величин, в частности емкости

Изобретение относится к способам и устройству для передачи электромагнитных сигналов в землю через конденсатор

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении тангенса угла диэлектрических потерь твердых изоляционных материалов, жидких диэлектриков, например, трансформаторного масла
Наверх