Устройство для идентификации дефектов

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для идентификации дефектов по визуальной картине рельефа вторичного магнитного поля над поверхностью объекта контроля. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет компенсации неидентичности элементов матрицы блока матричного вихретокового преобразователя . Электронно-вычислительная машина 1 синхронно опрашивает элементы матрицы блока 2 матричного вихретокового преобразователя и перемещает записывающий луч по экрану блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки. Одновременно считывающий луч считывает записанную информацию и передает ее на экран видеоконтрольного индикатора. Для отстройки от влияния различия параметров элементов матрицы блока 2 матричного вихретокового преобразователя электронно-вычислительная машина последовательно калибрует передаточную характеристику устройства с пбмощью аналого-цифрового преобразователя 11 и последовательно соединенных фильтра 7 верхних частот, интегратора 8, компаратора 10. 1 ил. с (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (SD 4 С 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И 0ТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4252721/25-28 (22) 01.06.87 (46) 23.02.89. Вюл. 11- 7 (71) Московский энергетический институт (72) С.А.Филист (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Я 1111093, кл. С 01 N 27/90, 1984.

Rev. Progr. Quent. Nondestructive

Eval. Proc. 8-th Air Force, р. 395398. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ

ДЕФЕКТОВ (57) Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для идентификации дефектов по визуальной картине рельефа вторичного магнитного поля над поверхностью- объекта контроля. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет компенсации, Я0„„1460694 А1 неидентичности элементов матрицы блока матричного вихретокового преобразователя. Электронно-вычислительная машина 1 синхронно опрашивает элементы матрицы блока 2 матричного вихретокового преобразователя и перемещает записывающий луч по экрану блока

4 запоминающей электронно-лучевой трубки. Одновременно считывающий луч считывает записанную информацию и передает ее на экран видеоконтрольного индикатора. Для отстройки от влияния различия параметров элементов матрицы блока 2 матричного вихретокового преобразователя электронно-вычислительная машина последовательно калибрует передаточную характеристику устройства с помощью аналого-цифрового преобразователя 11 и последовательно соединенных фильтра 7 верхних частот, интегратора 8, компаратора 10. 1 ил.

1460694

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для идентификации дефектов по визуальной картине рельефа вторичного магнитного поля над поверхностью объекта контроля.

Цель изобретения — повышение точности контроля за счет кэмпенсации неидентичности элементов матрицы бло- 10 ка матричного вихретокового преобразователя.

11а чертеже представлена структурная схема устройства для идентификации дефектов. 15

Устройство содержит последовательно соединенные электронно-вычислительную машину 1, блок 2 матричного вихретокового преобразователя, детектор 3, блок 4 запоминающей элект- 20 ронно-лучевой трубки и видеоиндикатор 5.

Устройство содержит также блок 6 цифроаналоговых преобразователей, включенный между выходом электронновычислительной машины 1 и входом блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки, последовательно соединенные фильтр 7 верхних частот, подключенньй к блоку 4 запоминающей электронно-лу-З0 чевой трубки, интегратор 8, схему 9 выборки-хранения, второй вход которой объединен с вторым входом интегратора 8 и подключен к блоку 4 запоминающей электронно-лучевой трубки, и ком-З5 паратор 10, второй вход которого подключен к выходу интегратора 8, а выход соединен с входом электронно-вычислительной машины 1.

Аналого-цифровой преобразователь 40

11 включен между выходом блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки и входом электронно-вычислительной машины 1.

Устройство работает следующим об- 45 разом„

По сигналам от электронно-вычислительной машины 1 блок 2 матричного вихретокового преобразователя сканирует поверхность контролируемого из- 50 делия (не показано). Сигнал после детектирования поступает на вход блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки, положение записывающего луча на экране которой определяет блок 6 55 цифроаналоговых преобразователей, Затем с помощью считывающего луча сигнал с выхода блока 4 запоминающей

I электронно-лучевой трубки поступает на видеоиндикатор 5, где в виде яркостной структуры представляется качество поверхности контролируемого объекта.

Так как элементы матричного вихретокового преобразователя блока 2 заведомо имеют неодинаковую чувствительность и передаточную характеристику, то для отстройки от влияния неоднородностей путем последовательных приближений электронно-вычислительная машина 1 выбирает оптимальные значения параметров блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки, а затем оптимальное значение токов для каждого элемента матрицы блока 2 матричного вихретокового преобразователя.

Для этого сигнал от блока 4 запоминающей электронно-лучевой трубки считывается через аналого-цифровой преобразователь 11 и через последовательно соединенные фильтр 7 верхних частот, интегратор 8 и компаратор 10. !

Формула изобретения

Устройство для идентификации дефектов, содержащее последовательно соединенные электронно-вычислительную машину, блок матричного вихретокового преобразователя, детектор и видеоиндикатор, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения точности контроля, оно снабжено соединенными последовательно блоком запоминающей электронно-лучевой трубки, входы которой подключены к детектору и электронно-вычислительной машине, а выход соединен с видеоиндикатором, фильтром верхних частот, интегратором, схемой выборки-хранения, второй вход которой объединен с вторым входом интегратора и подключен к.выходу блока запоминающей электронно-лучевой трубки, и компаратором, второй вход которого подключен к интегратору, а выход — к электронно-вычислительной машине, блоком цифроаналоговых преобразователей, включенным между выходом электронно-вычислительной машины и входами блока запоминающей электронно-лучевой трубки, и аналогоцифровым преобразователем, включенным между выходом блока запоминающей электронно-лучевой трубки и входом электронно-вычислительной машины.

Устройство для идентификации дефектов Устройство для идентификации дефектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля материалов и изделий на наличие несплошности с одновременной классификацией дефекта : поверхностный или подповерхностный , а также может быть использовано дпя распознавания различных поверхностных дефектов

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано дпя определения качества склейки неметаллических по .крытий с металлической основой

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля остаточных напряжений в неферромагнитных металлах

Изобретение относится к нераэ- pyшaюп e fy контролю материалов и изделий методами вихревых токов и может быть использовано в промышлен-, ности для выявления внутренних и внешних дефектов

Изобретение относится к неразру шакмцему контролю материалов и изделий и может быть использовано в энергетике, машиностроении и других отраслях для определения координат локального дефекта при электромагнитной дефектоскопии протяженных цилиндрических изделий

Изобретение относится к неразрушанщему контролю

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх