Способ приготовления образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки,для электронно- микроскопических исследований


G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

 

Изобретение относится к технике приготовления образцов тонких пленок для электронно-микроскопических исследований, в частности пленок, напыленных на кремниевую подложку. Целью изобретения является упрощение и снижение трудоемкости процесса приготовления образцов. Дпя отделения пленки от кремниевой подложки исходньй объект погружают в 30-50%-ный раствор щелочи при 30-80 С и задерживают до полного отделения пленки, которому способствует вьщеление водорода на границе раздела подложка-- пленка. Весь процесс занимает не более 1 ч и не требует.специального оборудования. 1 табл. с /)

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

„.,80„„1465739

: (51) 4 G 01 N 1/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР (21) 4 223833/24-21 (22) 07. 04.87 (46) 15.03.89. Бюл. ¹ 10 (71) Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР . (72) M.Е.Головчанский и В.А.Марченко (53) 621.385.833 (088.8) (56) Техника электронной микроскопии. / Под ред. Кея. — М.: Мир, 1965, с. 125.

Тонкие пленки. Взаимная двффузия и реакции. / Под ред. Дж. Поута и др. — М.: Мир, 1982, с. 144.

Изобретение относится к технологии приготовления тонкопленочных образцов для электронно-микроскопических исследований, в частности, образцов пленок, напыленных на кремниевую подложку.

Цель изобретения — упрощение, и снижение трудоемкости процесса приготовления образцов за счет сокращения продолжительности процесса и исключения специального оборудования.

Сущность способа заключается в том, что исходный объект с пленкой на его поверхности обрабатывают раствором щелочи. Обработку проводят, (54) СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ

ПЛЕНОК, НАНЕСЕННЫХ НА ПОВЕРХНОСТЬ

КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКИ, ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОМИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ,(57) Изобретение относится к технике пригдтовления образцов тонких пленок для электронно-микроскопических исследований, в частности пленок, напыленных на кремниевую подложку.

Целью изобретения является упрощение и снижение трудоемкости процесса приготовления образцов. Для отделения пленки от кремниевой подложки исходный объект погружают в 30-50Х-ный о раствор щелочи при 30-80 С и выдерживают до полного отделения пленки, которому способствует вьщеление водорода на границе раздела подложка-. пленка. Весь процесс занимает не более 1 ч и не требует, специального обор удования . 1 табл .

2 погружая весь объект в 30-50Х-ный раствор щелочи при 30-80 С и вьщеро живают до полного отделения пленки.

При взаимодействии щелочи с кремнием вьщеляется водород. Вьщеление водорода на границе раздела кримниевая подложка — напыпенная пленка приводит к отделению пленки.

Экспериментально установлено, что при концентрации щелочи менее

ЗОБ площадь отделяющихся участков пленки составляет менее 3 мм, что затрудняет процесс закрепления образцов. Оптимальная концентрация щелочи 30-50Х (507-ный раствор при

39 4 ки в дистиллированной воде пленку вылавливают на предметную сеточку и высушивают, после чего образец готов для электронно-микроскопических исследований.

Площадь отделившихся участ1 ков пленки, .мм

Концент рация щелочи

КОН, Ж емя отдения пленТ емпер атура раст вора щелочи, С

Не отделяется "40 60 60

-30

-15

18

18

28

45 (1

31 1 р/ 5

5-20

Отделение по всей площади 3 мм

Отделение по всей площади

° "3 То же

Пленка растворяется

)60

--10

Составитель В.Гаврюшин

Техред П.Сердюкова Корректор М.Максимишинец

Редактор А.Огар

Заказ 936/42 Тираж 788 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

3 14657 к мнатной температуре является насыщ иным) .

При температуре раствора менее

Зф С увеличивается продолжительность о процесса, а использование раствора с температурой более 80 С приводит к растворению, самой отделяемой пленки.

В таблице приведены результаты р ализации способа приготовления о разцов при различных параметрах п оведения процесса.

Пример. Проводят отделение пренки ниобия (Nb) толщиной 1000 А, ° ° апыленной на кремниевую подложку (100) в 453-ном растворе КОН при

65 С. Время отделения пленки составяет около 5 мин при скорости расторения самой пленки -60-70 K/ìèí. осле отделения с помощью специальой сетки кусочки пленки помещают в истиллированную воду. Свертывания енки не наблюдается. После промыв-

Формула и зобр ет ения

Способ приготовления образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки, для электронномикроскопических исследований, включающий отделение пленки от подложки путем обработки исходного объекта раствором щелочи и размещение пленки на предметной сетке, î T л и ч а ю шийся тем, что, с целью упроще" ния и снижения трудоемкости процесса приготовления, обработку исходного объекта осуществляют путем erо погружения в 30-50%-ный раствор щелочи и выдержки при 30-80 С до полного о отделения пленки. !

Способ приготовления образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки,для электронно- микроскопических исследований Способ приготовления образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки,для электронно- микроскопических исследований 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике препарирования образцов для электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях тонкой структуры металлов и сплавов

Изобретение относится к области физико-химического анализа состава поверхности твердых тел методами вторичной ионной и электронной эмиссии

Изобретение относится к электронной и ионной микроскопии

Изобретение относится к области электронной спектроскопии, а именно к способам исследования физических и химических свойств поверхности вещества при помощи вторично-электронных методов, и может быть использовано в электронной промышленности и научно-исследовательской практике

Изобретение относится к области исследования материалов с помощью радиационных методов и может быть использовано для получения изображения доменносодержащих материалов

Изобретение относится к испытаниям материалов и конструкций на прочность , а именно к анализу процессов разрушения объектрв, содержащих трещины

Изобретение относится к медицине, биологии и ветеринарии,точнее к морфологии, предназначенной для исследования в световом микроскопе замороженных срезов органов и тканей человека и животных

Изобретение относится к области локального рентгеноспектральногр анализа образцов в электронном микроскопе с микроанализатором

Изобретение относится к способам определения типа дислокаций в монокристаллах и может быть использовано для исследования кристаллов со структурой сфалерита

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для подготовки образцов при контроле качества сыпучих сред :в горно-обогатительной,строительной и других отраслях народного хозяйства

Изобретение относится к опробованию сьшучих материалов

Изобретение относится к устройствам , предназначенш 1м для отбора, подготовки и анализа жидких сред, и может быть использовано в автоматизированных системах контроля за качеством сточных и природник вод, Цель изобретения - снижение погрешности за счет повышения представительности отбираемьЬс проб путем исключения потерь нефтепродуктов в до заторе контролируемой среды в линиях доставки к экстрактору

Изобретение относится к пробоотборной технике и может быть использовано для отбора проб жидкости на

Изобретение относится к горному и строительному делу, в частности к средствам для отбора проб грунта ударным способом или спосбом задавливаний при инженерно-геологических изысканиях

Изобретение относится к способу выявления микроструктуры благородных металлов и их сплавов, используемых для различных видов металловедческих исследований

Изобретение относится к испытательной технике, предназначено для определения прочности сцепления покрытия с основой и позволяет повысить точность при испытании образцов с пленочными покрытиями путем обеспечения равномерного сдвига по толщине испытуемого покрытия

Изобретение относится к устройствам для автоматического отбора проб нефти, нефтепродуктов и смесей нефти , воды, газа из трубопроводов, находящихся под избыточным давлением

Изобретение относится к аналитической химии, в частности к устройству для подготовки образца для съемки электронных спектров металлоорганических соединений
Наверх