Устройство для измерения напряженности электростатического поля

 

Изобретение относится к электроизмерениям . Цель изобретения - упрощение устр-ва и повьшение точности измерения. Устр-во содержит электрооптическую ячейку 1, состоящую из прозрачных электродов 2, пространство между которыми заполнено слоем нематического жидкого кристалла 3 с отрицательной анизотропией диэлектрической проницаемости, толщина которого задается изолирующей прокладкой 4, а также проводящие пластины 5, светодиод 6, фотоприемник 7, переключатель 8, источник 9 питания и блок регистрации Ш. Помещая пластины 5, подключенные к электродам 2, в электрическое поле, можно изменять прозрачность ячейки 1 в зависимости от величины напряженности электромагнитного поля. Повышение точности измерений обеспечивается за счет практически полной развязки между пластинами 5 и входами блока регистрации 10 без применения сложных электронных : схем. 1 ил. i (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И1 (51) 4 G 01 R 29/ 12

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4252559/24-09 (22} 06.05.87 (46) 23.03.89. Бюл. У 11 (71) Научно-производственное объединение космических исследований (72) А.A. — Ê.Àááàñ, Б.Д,Сулиев и Э.С.Агаев (53) 621.317.328(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 1109677, кл. 6 01 R 29/12, 1979.

Авторское свидетельство СССР

9 930162, кл. G 01 К 29/12, 1980. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯ. ЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОГО ПОЛЯ (57) Изобретение относится к электроизмерениям. Цель изобретения — упрощение устр-ва и повьппение точности измерения. Устр-во содержит электрооптическую ячейку 1, состоящую из прозрачных электродов 2, пространство между которыми заполнено слоем нематического жидкого кристалла 3 с отрицательной анизотропией диэлектрической проницаемости, толщина которого задается изолирующей прокладкой

4, а также проводящие пластины 5, светодиод 6, фотоприемник 7, переключатель 8, источник 9 питания и блок регистрации 1О. Помещая пластины 5, подключенные к электродам 2, в электрическое поле, можно изменять про" зрачность ячейки 1 в зависимости от величины напряженности электромагнитного поля. Повьппение точности измерений обеспечивается за счет практичес- л ки полной развязки между пластинами

5 и входами блока регистрации 10 без

f применения сложных электронных; схем.

1 ил.

1467521

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения напряженности статического и квазистатического электрическоro поля.

Цель изобретения †. упрощение уст-. ройства и повышение точности.

На чертеже приведена структурная электрическаясхема устройства для. 10 измерения напряженности электростатического поля.

Устройство для измерения напряженности электростатического поля содержит электрооптическую ячейку 1, вклю- 15 чающую первый и второй прозрачные электроды 2, пространство между которыми заполнено слоем нематического жидкрго кристалла 3 с отрицательной анизотропией диэлектрической про- 20 ницаемости, толщина которого задается изолирующей прокладкой 4. К каждо му первому и второму прозрачному электроду 2 присоединена первая и

I вторая параллельные проводяпде пластины 5 соответственно, источник све-. та — светодиод 6, фотоприемник 7, переключатель 8, источник 9 питания, блок 10 регистрации.

Устройство работает следующим об- 30 разом.

Пластины 5, расположенные параллельно одна другой на заданном рас- . стоянии, помещают в электрическое поле перпендикулярно силовым линиям по- 35 ля. При наличии электростатического поля через пластины 5 на жидкокристаллической электрооптической ячейке

1 создается напряжение, достаточное для возбуждения нематического жидко- 40 го кристалла 3. При этом жидкокристал-. .лическая электрооптическая ячейка 1 из прозрачного состояния переходит в непрозрачное вследствие динамического рассеяния света. Поэтому интен- 45 сивность света, излучаемого светодиодом 6, проходя через жидкокристаллическую электрооптическую ячейку 1, уменьшается, что регистрируется с помощью фотоприемника 7 и блока 10 50 регистрации. Причем в зависимости от велйчииы напряженности электростатического поля изменяется пропускание жидкокристаллической электрооптической ячейки 1 и, соответственно, величина регистрируемого электростатического поля. При малых значениях напряженности поля рассеивание незначительно, при увеличении напряженности поля жидкокристаллическая электрооптическая ячейка 1 становится. рассеивающей и более непрозрачной для света, проходящего через жидкокристаллическую электрооптическую ячейку 1.

Таким образом, помещая пластины

5 в электрическое поле, можно изменять прозрачность жидкокристаллической электрооптической ячейки 1 в зависимости от величины напряженности электромагнитного поля.

Повышение точности измерений обеспечивается за счет практически полной развязки между пластинами 5 и входами блока 10 регистрации без применения сложных электронных схем.

Верхняя граничная частота измеряемого электрического поля 1 кГц, что обусловлено отсутствием динамического рассеяния при частотах выше I кГц. формула изобретения

Устройство для измерения напряжен" ности электростатического поля, содержащее датчик поля, выполненный в виде первой и второй параллельных проводящих пластин, блок регистрации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения устройства и повышения точности, введены электрооптическая ячейка, заполненная нематическим жидким кристаллом с отрицательной анизотропией диэлектрической проницаемости, к первому и второму прозрачным электродам которой присоединены первая и вторая параллельные проводящие пластины соответственно, светодиод и фотоприемник, расположенные по разные стороны от электрооптической ячейки на одной оси с ней, причем выход фотоприемника подсоединен к входу блока регистрации.

Устройство для измерения напряженности электростатического поля Устройство для измерения напряженности электростатического поля 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электроизмерениям

Изобретение относится к электроизмерениям , а именно к устр-вам для измерения вариаций напряженности з хектрического поля (ЭП)

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к технике измерений

Изобретение относится к электроизмерекиям

Изобретение относится к электроизмерениям

Изобретение относится к электроизмерениям

Изобретение относится к физике, в частности к измерению поляризационных свойств диэлектриков

Изобретение относится к приборам, измеряющим электрические и электромагнитные поля

Изобретение относится к физике, в частности к методам измерения электрического потенциала на поверхности диэлектрических образцов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, может быть использовано для контроля объемного заряда статического электричества в потоках движущихся диэлектрических жидкостей (светлых нефтепродуктов) или в потоках аэродисперсных сред

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для измерения напряженности статического и квазистатического электрического поля при проведении метеорологических, геофизических, биоэнергетических исследований, а также для оценки экологического состояния поверхности Земли и атмосферы

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения напряженности электрического поля в широком пространственном диапазоне с повышенной точностью

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженности электрического поля в широком пространственном диапазоне с повышенной точностью

Изобретение относится к электротехническим измерениям, предназначено для измерения поверхностной плотности реального (полного) заряда и его среднего положения, а также поверхностных плотностей эффективных зарядов плоских диэлектриков и может быть использовано при диагностике остаточного заряжения различных диэлектрических материалов (электретов)
Наверх