Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов

 

Изобретение относится к получению порошковых композиций на основе термопластичных полимеров и предназначено для оценки технологических параметров таких композиций. С целью повышения точности определения параметров пленкообразования порошковых термопластов (температуры пленкообразования при постоянной скорости нагрева и времени пленкообразования при постоянной температуре) регистрируют коэффициент зеркального отражения (блеск) слоя порошкового термопласта в процессе его нагревания и по перегибу на кривой зависимости блеска от температуры или времени нагревания судят о завершении процесса пленкообразования. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1476354 А1 (51) 4 G 01 )х) 21/47

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛЕНКООБРАЗОВАНИЯ ПОРОШКОВЫХ ТЕРМОПЛАСТОВ (57) Изобретение относится к получению порошковых композиций на основе термоплас-,ичных полимеров и предназначено для оценки технологических параметров таких композиций. С целью повышения точности определения параметров пленкообразования порошковых термопластов (температуры пленкообразования при постоянной скорости нагрева и времени пленкообразования при постоянной температуре) регистрируют коэффициент зеркального отражения (блеск) слоя порошкового термопласта в процессе его нагревания и по перегибу на кривой зависимости блеска от температуры или времени нагревания судят о завершении процесса пленкообразования.

1 табл.,3 ил.

Предлагаемый способ заключается в том, что исходный слой порошка полимера сильно рассеивает падающий свет и его блеск обычно составляет -1%. Переход слоя дисперсного порошка в монолитный слой покрытия (пленкообразование) сопровождается образованием гладкой поверхности раздела полимер †возд, при этом блеск слоя полимера резко возрастает и достигает

40 — 60% у готового покрытия. Момент достижения постоянного блеска, определяемый по перегибу на кривой зависимости блеска от температуры или времени нагревания, соответствует моменту завершения процессе пленкообразования.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (2I) 4259)83/3I-25 (22) 09.06.87 (46) 30.04.89. Бюл. № 16 (7I ) Ленинградский технологический институт им. Ленсовета (72) В. Л. Мусихин, А. И. Ремизов, Е. В. Давыдов и С. Г. Савватеев (53) 535.24 (088.8) (56) Яковлев А. Д., Здор В. Ф., Каплан В. И.

Порошковые полимерные материалы и покрытия на их основе. Л.: Химия, 1979, с. 69.

Там же, с. 68..)

Изобретение относится к химии высокомолекулярных соединений, в частности к контролю получения композиций на основе синтетических полимеров оптическими методами, и может быть использовано для оценки технологических параметров композиций синтетических полимеров.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

На фиг. 1 представлена схема устройства для определения параметров пленкообразования порошковых термопластов; на фиг. 2 — зависимость блеска и температуры слоя поливинилхлоридной краски

П-ХВ-716 в процессе нагревания для определения температуры пленкообразования при постоянной скорости нагрева; на фиг. 3— то же, для определения времени пленкообразования при постоянной температуре.

Устройство содержит нагревательный столик I, термопару 2, регистрирующий

2 прибор 3, регулировочный потенциометр 4, фотосопротивление 5, измерительную головку 6, осветитель 7, источник 8 питания, испытуемый образец 9, изолирующую фольгу

10 и программатор 11.

1476354

Материал

Параметры пленкообраэования, определенные по

Поливинилбутираль

ПВБ ЛА

Краска поливинилбутиральная П-ВЛ-212

Полиэтилен высокого давления (ПЭВД)

Краска поливинилхлоридная П вЂ” ХВ-716

185+6

188+5

140+5

190+4

195+2, 5

180+3

240+3

105+1,5

186+1

190+2

142+1,5

190+1

190+8

185+7

236+8

104+3,5

Формула изобретения

Способ реализуют следующим образом.

По трафарету наносят слой порошкового термопласта толщиной -1 мм на поверхность алюминиевой фольги 10 и помещают его на нагревательный столик 1, температура поверхности которого измеряется термопарой 2, регистрируется самопишущим прибором 3 и регулируется с помощью программатора 11 температуры. На поверхность слоя порошкового термопласта с помощью осветителя 7 направляют световой пучок (например, под углом 45 к поверхности слоя) и с помощью фотосопротивления 5 и потенциометра 4 регистрируют коэффициент зеркального отражения (блеск) поверхности слоя полимера. О завершении процесса пленкообразования судят по перегибу на кривой зависимости коэффициента зеркального отражения (блеска) слоя полимера от температуры или времени нагревания.

Пример 1. Определение температуры пленкообразования при постоянной скорости нагрева.

Под измерительную головку помещают эталон блеска — пластинку из увиолевого

25 стекла, блеск которой равен 65Я, и включают осветитель 7, луч которого падает на исследуемую поверхность под углом

45 и, зеркально отразившись, попадает на фотосопротивление 5. Потенциометром 4 устанавливают перо самопишущего прибора на 30 деление 65О. Затем на нагревательный столик помещают алюминиевую фольгу с нанесенным по трафарету толщиной 1 мм слоем

В таблице приведены данные по определению пленкообразования ряда порошковых термопластов.

Стабилизация условий испытания и автоматизация процесса регистрации блеска и температуры слоя термопласта обеспечивают лучшую воспроизводимость результатов (см. таблицу), при этом также снижается трудоемкость определения, так как испытуемого порошкового термопласта, устанавливают на образец измерительную головку и, включив нагрев со скоростью 4 /мин, на диаграммной ленте регистрирующего прибора записывают кривую зависимости изменения коэффициента зеркального отражения (блеска) образца от времени. Одновременно на той же диаграмме с помощью термопары 2 записывают температуру поверхности нагревательного столика. Полученные кривые имеют вид, представленный на фиг. 2. Для определения температуры пленкообразования проводят касательные к кривой зависимости блеска от времени (на участке наиболее быстрого увеличения величины отраженного от образца светового потока и к следующему за ним участку стабилизации величины этого потока) и из точки их пересечения проводят прямую, перпендикулярную оси времени до пересечения с линией температуры. Температуру принимают за температуру пленкообразования.

Пример 2. Определение времени пленкообразования при постоянной температуре.

С помощью программатора температуры устаналивают постоянную заданную температуру нагревательного столика. После ее достижения на столик помещают образец и измерительную головку, как указано выше, и записывают зависимость изменения блеска от времени (фиг. 3). Время пленкообразования т.. определяют по точке пересечения касательных к кривой зависимости блеска от времени нагревания, построенных по примеру 1, исключается непосредственное участие оператора в процессе записи результатов. Все это приводит к повышению точности (— 1Я) измерений.

Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов, 1476354

4Ъг.1

<50

О.

ЧО

10

200 210 280

Темпера адра, С заключающийся в том, что наносят исследуемый термопласт на поверхность, направляют на полученный образец световой поток, нагревают образец и по измеренной величине отраженного светового потока судят о параметрах пленкообразования, отличающий ся тем, что, с целью повышения точности измерений, световой поток направляют на образец под углом, регистрируют величину отраженного от образца под тем же углом светового потока, измеряют зависимость величины отраженного от образца светового потока от времени или температуры, строят касательные к участку наиболее быстрого увеЛичения величины отраженного от образца светового потока и к следующему за ним участку стабилизации величины этого потока и по точке. пересечения касательных определяют параметры пленкообразования.

)476354

Редактор М. Петрова

Заказ 2 I! 8/44

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, 7К вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат <сПатент», r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

° 120

По

g0

80 120 160 200 210 280

Фиг 3 Темпера/77ура,C

Составитель В. Калечиц

Техред И. Верес Корректор Л. Пилипенко

Тираж 790 Подписное

Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов Способ определения параметров пленкообразования порошковых термопластов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптических устройствах для измерений характеристик светорассеяния атмосферных аэрозолей

Изобретение относится к исследованиям оптических характеристик водной среды дистанционными методами

Изобретение относится к атмосферной оптике и дистанционному анализу состояния атмосферы оптическими методами Целью изобретения является повьппение точности измерений оптического сигнала

Изобретение относится к области зондирования атмосферы, а более конкретно , - к устройствам, осуществляющим дистанционный анализ хи -1ического состава аэрозоля, и может быть использовано .при исследовании состава атмбсферы

Изобретение относится к оптике дисперсных сред и может быть использовано для исследования молекулярного состояния вещества в технологии производства дисперсных сред и веществ, в прикладной оптике для контроля атмо сферного аэрозоля, туманов и дымки

Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для измерения характеристик турбулентных неоднородиостей, для метеообслуживания полетов летательilbix аппаратов, а также п метеорологии для статистических измерений профилей параметров турбулентности

Изобретение относится к области метеорологического приборостроения и измерения прозрачности атмосферы

Изобретение относится к оптическим устройствам для изучения свойств частиц

Изобретение относится к приборам для оптических исследований, в частности для изучения оптических характеристик частиц, находящихся в голове и у поверхности-ядра кометы

Изобретение относится к области физики, к оптике, к приборостроению и может найти применение в биологии и медицине при исследовании взвесей эритроцитов, клеток, органелл

Изобретение относится к области оптических приборов, в частности к фотометрическим устройствам для измерений концентраций веществ с помощью химически чувствительных элементов

Изобретение относится к медицине и используется при исследовании взвесей эритроцитов, лейкоцитов и тромбоцитов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к способам определения малоугловой индикатрисы рассеяния, и может быть использовано при гранулометрическом анализе аэрозолей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам измерения оптических характеристик мутных сред в условиях фонового излучения, и может использоваться в устройствах, предназначенных для излучения и контроля окружающих воздушной, водной и других мутных сред

Изобретение относится к области технической физики, в частности, к способам измерения интенсивности рассеяния оптического излучения веществом, позволяющим получать локальные, а также усредненные по поверхности исследуемого объекта характеристики рассеяния

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при дистанционном лазерном зондировании элементного состава атмосферных газов

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при решении задач непрерывного контроля содержания нефти или масла в воде, экологического мониторинга, измерения концентрации эмульсий
Наверх