Импульсный электромагнитный дефектоскоп

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Целью изобретения является повышение производительности контроля. В блоке 3 аналоговой обработки определяются мгновенные значения выходного сигнала с преобразователя 2. Моменты времени, в которые осуществляется измерение величины сигнала, определяются с помощью блока 6 задержки, импульсы с выхода которого через коммутатор 10 подаются на управляющий вход блока 3. Управление коммутатором 10 осуществляется выходным сигналом с коммутатора 9, представляющим собой код, последовательно изменяющийся на единицу с каждым очередным запитывающим импульсом генератора 1. С выхода генератора через блок 7 задержки импульсы поступают на суммирующий счетчик 8, содержимое которого передается на вход коммутатора 9. Цикл измерений повторяется по команде дешифратора 14. Совокупность мгновенных значений выходных сигналов преобразователя обрабатывается в блоке 5 управления, в результате чего определяется положение узловых точек для контролируемого и мешающего параметров. В режиме измерения на вход дешифратора 11 команд поступает сигнал, который изменяет режим работы коммутатора 9 и обеспечивает запись в буфферный регистр 12 кодов, соответствующих положениях узловых точек. Эти коды через коммутатор 13 поочередно поступают на вход коммутатора 9, который формирует сигналы управления коммутатором 10, что обеспечивает измерение мгновенных значений импульсов только в моменты времени, соответствующие положениям узловых точек. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (51) 4 G 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСК0МУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

fl0 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

"ПРИ ГКНТ СССР

Г21) 431070 1/25-28 (22) 28. 09. 87 (46) 07.08.89. Бюл. Я - 29 (72) А.Г. Лещинский и А.Л, Забалуев (53) 620. 1 79. 14(088. 8) (56) Методы неразрушающих испытаний./Под ред. P,Øàðïà. — М.: Мир, 1972, с. 394.

Авторское свидетельство СССР

У 1033948,.кл. G 01 N 27/90, 1982 ° . (54) ИМПУЛЬСНЬПЗ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Целью изобретения является повышение производительности контроля. В блоке 3 аналоговой обработки определяются мгновенные значения выходного сигнала с преооразователя 2, Моменты времени, в которые осуществляется измевение ве.личины сигнала, определяются с помощью блока 6 задержки, импульсы с вы— хода которого через коммутатор 10 подаются на управляющий вход блока 3.

Управление коммутатором 10 осуществляется выходным сигналом с коммутатора 9, представляющим собой код, по, следовательно изменяющийся на единицу с каждым очередным запитывающим импульсом генератора 1. С выхода генератора через блок 7 задержки импульсы поступают на суммирующий счетчик 8, содержимое которого передается на вход коммутатора 9. Цикл изме— рений повторяется по команде дешифратора 14. Совокупность мгновенных значений выходных сигналов. преобразователя обрабатывается в блоке 5 управления, в результате чего определяется положение узловых точек для конт3 149 ролируемого и мешающего параметров, В режиме измерения на вход дешифратора 11 команд поступает сигнал, который изменяет режим работы коммутатора 9 и обеспечивает запись в буферный регистр 12 кодов, соответствующих положениям узловых точек. Эти коды через коммутатор 13 поочередно

9213 поступают на вход коммутатора 9, который формирует сигналы управления коммутатором 1О, что обеспечивает измерение мгновенных значений импульсов только в моменты времени, соответствующие положениям узловых точек.

1 ил.

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использо-, вано для контроля качества электропроводящих изделий.

Целью изобретения является повышение производительности за счет автоматизации процесса контроля, 20

На чертеже представлена структурная схема импульсного электромагнитного дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит последовательно соединенные генератор 1 импульсов возбуждения, вихретоковый преобразователь 2, блок 3 аналоговой обработки сигнала, аналого-цифровой преобразователь 4 (АЦП) и блок 5 управления, первый блок 6 задержки, 30 вход которого соединен с вторым выходом генератора 1 и вторыми входами

АЦП 4 и блока 5 управления, последовательно соединенные второй блок 7 задержки, вход которого подключен к второму. выходу генератора 1, двоичный.счетчик 8, первый коммутатор 9 и второй коммутатор 10 выход которого соединен с вторым входом блока 3 аналоговой обработки, а информацион- 40 ные выходы подключены к выходам первого блока 6 задержки, последовательно соединенные дешифратор 1l команд, вход которого подключен н первому выходу блока 5 управления, буферный ре- 45 гистр 12 вход которого подключен к второму выходу блока 5 управления, и третий коммутатор 13, второй вход которого соединен с вторым выходом регистра 12, третий вход -, с вторым выходом счетчика 8, а выход — с вторым входом первого коммутатора 9, а также второй дешифратор 14, вход которого подключен к первому выходу двоичного счетчика а выход — к третьему входу блока 5 управления, Второй выход первого дешифратора 11 команд соединен с третьим входом первого коммутатора 9.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Импульсами с первого выхода генератора 1 запитывается вихретоковый преобразователь 2, с помощью которого в контролируемом изделии возбуждаются импульсные вихревые токи, Выходной сигнал преобразователя 2, обусловленный этими токами, поступает на вход блока 3 аналоговой обработки, в котором осуществляются усиление этого сигнала и выборка его амплитуды в заданные моменты времени относительно начала запитывающего импульса, определяемые временем поступления на его управляющий вход сигналов с выхода второго коммутатора 10 на входы которого поступают сигналы с выходов блока 6 задержки. Амплитуда сигнала, поступающего с выхода блока 3 на аналоговый вход АЦП 4, соответствующая моментам выборки выходного сигнала вихретокового преобразо1 вателя 2, преобразуется в АЦП 4 в цифровой код по сигналам, поступающим на его управляющий вход с второго выхода генератора 1. Этот код передается с выхода АЦП 4 на информационный вход блока 5 управления и регистрируется в последнем по тем же сигналам, поступающим на его первый управляющий вход со второго выхода генератора 1, Для получения временного сдвига сигналов, управляющих выборкой амплитуды в блоке 3, на адресный вход коммутатора 10 поступает код с выхода коммутатора 9, последовательно изменяющийся на единицу с каждым очередным запитывающим импульсом генератора 1, Этим кодом на адресном входе коммутатора 10 определяются прохождение сигнала с соответствующего информационного входа коммутатора 10 на его выход и, следовательно, время задержки этого сигнала относительно на!

4992 чала залитывающего импульса генератора 1. Очередное изменение кода па адресном входе коммутатора 10 осуществляется после окончания залитывающего

5 импульса генератора 1 путем поступления импульса с второго выхода этого генератора через второй блок 7 задержки на суммирующий вход счетчика 8.

Параллельный код, соответствующий числу поступивших на суммирующий вход этого счетчика импульсов, с выхода счетчика 8 поступает на первый инфор— мационный вход коммутатора 9. По заполнению разрядов счетчика 9 он возвращается в исходное состояние и процесс временного сдвига сигнала, управляющего выборкой амплитуды в блоке 3, повторяется, Синхронизация начала регистрации в блоке 5 управления кодов, поступающих по его информационному входу, осуществляется при обнулении счетчика 8 путем дешифрации кода нуля, поступающего с выхода счетчика 8 на вход дешифратора 14, и появлении 25 в результате на выходе последнего сигнала, поступающего на второй управляющий вход блока 5 управления.

Выбор режимов измерений производится при эталонном воздействии на д0 преобразователь 2 минимизируемого параметра изделия в данном канале ре. гистрации, При этом в блок 5 управления с АЦП 4 поступают коды, соответствующие мгновенным значениям выходного сигнала преобразователя 2, стробируемого в различных точках, определяемых временными задержками управляющих сигналов, поступающих с разных отводов линии задержки, через комму- 4р татор 10 на управляющий вход блока 3.

Алгоритм обработки заключается в сравнении изменений мгновенных значений сигнала, соответствующих разным стробам, и выборе строба с наименьшим из- 45 менением мгновенного значения при воздействии параметра контроля, от .которого осуществляется отстройка, С помощью найденных таким образом двух величин временных сдвигов для 5О двух параметров изделия образуются два канала регистрации, в каждом из которых подавляется один из этих параметров и регистрируется другой.

Дпя этого по сигналу с блока 5 уп- 55 равления, поступающего на вход дешифратора 11 команд, на втором его выходе появляется сигнал, при поступлении которого на управляющий вход буферноl3

6 го регистра l2 в последний записываются коды, поступающие на е го ин<Ьор— мационный вход с блока 5 управления и соответствующие найденным временным сдвигам. Далее эти коды, каждый ло одному из двух выходов регистра 12, поступают на соответствую<цие два информационные входа коммутатора 13.

Оба эти кода поочередно, по сигналам, поступа«ицим с выхода младшего разряда счетчика 8 на адресный вход коммутатора, поступают с выхода коммутатора !3 на второй информационный вход коммутатора 9.

Переключение дефектоскопа из режима настройки в режим измерений контролируемого изделия с учетом найденных величин временных сдвигов сигнала, управляющего выборкой в блоке 3, осуществляется с помощью дешифратора 11 команд, который по сигналу от блока 5 подключает своим сигналом, поступающим с первого выхода дешифратора 11 на адресный вход коммутатора 9, второй его информационный вход к выходу этого коммутатора, разрешая прохождение кодов с выходов регистра 12 через коммутаторы 13 и 9 на адресный вход коммутатора 10, Следовательно, в режиме настройки (определения необходимых временных сдвигов сигнала, управляющего выборкой амплитуды в блоке 3) управление коммутатором 10 осуществляется кодами с выхода счетчика 8, а в режиме измерений — Ko кодами с выхода буферного регистра 12, Назначение блока 7 задержки сводится к тому, чтобы несколько сместить во времени переключение счетчика 8 относительно заднего фронта, по которому это переключение производится, Тем самым обеспечивается надежное прохождение через коммутатор 10 последнего во времени управляющего импульса, снимаемого с последнего отвода линии задержки, соответствующего максимальной задержке строба, на управляющий вход блока 3.

Таким образом, процесс настройки дефектоскопа с использованием эталонных воздействий на вихретоковый преобразователь 2, имитирующих контролируемые параметры изделия, раздельно регистрируемые в процессе измерений, осуществляется автоматически и заключается в определении и установке соответствующих моментов времени

8! 499213 измерения выходного сигнала преобразователя 2.

Формула изобретения

Составитель 13. Крапивин

Техред М.Дидык Корректор M. Максиюпиинец

Редактор И. Горная

Заказ 4683/41 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãoðoä, ул. Гагарина, 101

Импульсный электромагнитный дефек- . тоскоп, содержащий последовательно соединенные генератор импульсов возбуждения, вихретоковый преобразователь, блок аналоговой обработки сигнала, аналого-цифровой преобразователь и блок управления, и первый блок задержки, вход которого соединен с вторым выходом генератора импульсов возбуждения и вторыми входами анало- 15 го-цифрового преобразователя и блока управления, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения производительности контроля, он снабжен последовательно соединенными вторым блоком задержки, вход которого подключен к второму выходу генератора импульсов возбуждения, двоичным счетчиком, первым коммутатором и вторым коммутатором, выход которого соединен с вторым входом блока аналоговой обработки сигнала, а информационные входы подключены к выходам первого блока задержки, последовательно соединенными дешифратором команд, вход которого подключен к первому выходу блока управления, буферным регистром, вход которого подключен к второму выходу блока управления, и третьим коммутатором, второй вход которого соединен с вторым выходом буферного регистра, третий вход - с вторым выходом двоичного счетчика, а выход— с вторым входом первого коммутатора, и дешифратором вход. которого подключен к первому выходу двоичного счетчика, его выход - к третЬему входу блока управления, а второй выход первого дешифратора команд соединен с третьим входом первого кбммутатора.

Импульсный электромагнитный дефектоскоп Импульсный электромагнитный дефектоскоп Импульсный электромагнитный дефектоскоп Импульсный электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий методами регистрации магнитных шумов и может быть использовано в промышленности при сортировке ферромагнитных изделий по их физико-механическим свойствам

Изобретение относится к неразрушающему контролю электропроводящих изделий и может быть использовано для контроля качества электропроводящего покрытия в отверстиях печатных плат

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано при разработке изделий на устранимый и неустранимый брак

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля качества материалов и изделий вихретоковым методом

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано при регистрации структуры ферромагнитных изделий

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле немагнитных электропроводящих изделий на наличие поверхностных и подповерхностных дефектов

Изобретение относится к вихретоковому неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроении для контроля металлических частиц в смазке машин и механизмов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх