Патент ссср 156251

 

Qo 1 о!12о j

Класс б 03b; 21g, 20„СССР

ОПИСАНИ ИЗОБР1ТЕНИД

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

11одписная грггнгга Л3 97

5. H. Васичев

СПОСОБ СТАБИЛИЗАЦИИ ИЗМЕРЕНИЙ ПРИ РЕНТГЕНОВСКОМ

МИКРОАНАЛИЗЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Заявлено !7 августа !962 г аа Хв 791:175 96-!0 в Комитет по делам изобретении и открытий при Совете . 1инисгров СССР

Опубликовано в «Б!ог!летене ивооретений и товарных знаков . X" 15 аа l96f 3

Известны способы стабилизации электронного луча при рентгеиoBcK0II XIII! .РоВН3 1H3c с fIo31olfJbIo cTBoliли3а1..ии источников !ТНТВ!!НН. 0.1нако стабилизация электронного луча этит! спосооом I!ezocTBT09IIB для точного определения малых количеств вещества в исследуемом объекте.

Предложенные способ и устройство для стабилизациf1 электрон!!!го луча при рентгеновском микроаиализе позволяют точно учесть 113f".IBkIcIIkfP тока луча и получить более точные данные анализа.

3То достигается изменением времени измерения импульсов peiITI"новского излучения на выходе микроа. ализатора B завис!!мости oт Тока электронного луча, по которому проводится анализ. Лля этогo i! устройстве иа пути электронного луча введена диафрагма. Ее завял пропорционален току луча и определяет время счета импульсов па выходе анализатора.

На чертеже показана с. ема устройства для осуществления пре1лагаемого способа.

В колонну микроа11ализатора 1 вводят изолированную от корпуса

JHB(I)P3cмУ 2, IioToP 351 X,ла в, li!BBPT 1 BcTb 3,1е1 тР0.-10B л ча. Ее пропорционален току луча, падающего: а исследуемыи ооразец. Вел,1чина тока преобраз i CTCII B k строгlстве 8 B H. f1 Ilk lbCbI, I!OCTA IIBIOIkkli электронный счетчик времени 4. Импульсы от счетчика рентгеновск:.1х фотонов 5 через усилитель 6 и амплитудныш дискриминатор 7 поступают на счетчик импульсов 8. Счетчик импульсов включается, Ifê:.

ТОЛЬКО СЧЕТЧИК ВРЕМЕHII 1lаIОCPЕТ 33 j311110Е г1!IС,!О II МПУ, !Ь ОВ. С(;ОТBС Г твуюшее току электронного луча. № 156251

Предмет изобретения

1. Способ стабилизации измерений при рентгеновском микроанализе, отл и ч а ю щи и с я тем, что, с целью получения более точных данных анализа, время измерения импульсов рентгеновского излучения на выходе микроанализатора изменяют в зависимости от тока электронного луча, возбуждающего характеристическое рентгеновское излучение, по которому проводится анализ.

2. Устройство для осуществления способа по п. 1, о т л и ч и ю щ е ес я тем, что в колонну микроанализатора на пути электронного луча введена диафрагма, заряд которой, пропорциональный току луча, определяет время счета импульсов на выходе микроанализатора.

l_#_ tIi

Составитель Е. П. Остапченко

Редактор П. Ф. Старцева Техред А. А. Камышникова Корректор О. Б. Тюрина

Поди. к иеи. 2о/VII — 63 r. Формат бум. 70 108 /гв Обье:t 0,18 ивд. л.

Зак. 19!7717 Тираж 1225 Цека 4 кои.

ЦНИИПИ Государственного комитета по дела;r изобретений и открытий СССо

Москва, Центр, вр. Серова, д. 4.

Типография, ир. Сапунова. 2.

Патент ссср 156251 Патент ссср 156251 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгенографии, а именно к устройствам определения экспозиции при производстве рентгенографических снимков

Изобретение относится к рентгенотехнике и используется для измерения времени рентгеногра(|мческой выдержки

Изобретение относится к устройству защиты в трубке цветного дисплея (ТЦД), а более конкретно к устройству для предотвращения образования рентгеновского излучения и перенапряжения, в котором повышенное напряжение или напряжение подогревателя, вызванное аномальной работой монитора и подаваемое на ТЦД, или повышенное напряжение, подаваемое от источника питания к периферийной схеме, обнаруживается и отключается для предотвращения образования рентгеновского излучения и повышенного напряжения

Изобретение относится к рентгенотехнике и может использоваться при неразрушающем контроле материалов и изделий
Наверх