Патент ссср 156625

 

№ 156625

Класс G 21; 21g, 18»

G 02d; 42h, 1502

ССCD

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Г1 одп и сная группа Л 97

Н. В. Королев

СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ СЛЕДОВ ЯДЕРНЪ|Х ЧАСТИЦ

В ТОЛСТОСЛОЙНЫХ ЭМУЛЬСИЯХ

Заявлено 4 июля 1962 г. за № 785278/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий нри Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений и товарных знаков» № 16 за 1963 г.

Известные способы изучения следов ядерных частиц в толстослойных эмульсиях не дают во".ìîæíîñòè повысить скорость просмотра по площади и вдоль следа, поскольку необходимо осуществлять два перемещения: перемещение фотопластинки в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива микроскопа, и скачкообразное перемещение по направлению оптической оси объектива.

Предлагаемый способ позволяет повысить скорость просмотра.

Это досгигается тем, что фотопластинку с эмульсией устанавливают под углом к оптической оси объекгива микроскопа и непрерывно перемещают ее, просматривая весь слой эмульсий по толщине. Кроме того, в предлагаемом способе обеспечивается комбинированное наблюдение следов ядерных частиц в проходящем и отраженном свете. Для этого пластинку с эмульсией освещают при помощи двух осветителей, оси которых равно наклонены к плоскости пластинки, причем углы наклона осветителей равны углу между оптической осью объектива микроскопа и плоскостью пластинки.

На чертеже показана схема оптической системы, с помощью которой просматривают эмульсию, нанесенную на наклонно расположенную пластинку.

Наблюдение ведут при помощи микроскопа 1, оптическая ocb мпкрообъектива 2 которого расположена, например, под углом 45 к плоскости пластинки 3 с эмульсией 4. Фронтальная линза (полусферический сегмент) 5 соприкасается со слоем б масла, нанесенного на эмуль№ 156625 сию, причем центры кривизны поверхности линзы 5, а также аналогичной линзы ", через которую освещается пластинка 8, должны совпадать с серединой слоя эмульсии.

Осветительная система состоит из осветителей 8 и 9 с зеркальнолинзовыми микрообъективами 10 и 11, оси которых также наклонены к пластинке под углом 45 . Линза 7 контактирует со слоем 12 масла, нанесенным на нижнюю поверхность пластинки 3.

Наклонное расположение пластины дает возможность рассматривать в. эмульсии площадку, расположенную под некоторым углом к ее поверхности, и наблюдать на этой площади весь слой эмульсии по толщине. Боковое освещение позволяет видеть светлые частицы серебра на темном фоне, что невозможно только при светопольном освещении.

В осветителях 8,и 9 могут быть установлены разные светофильтры.

Если, например, в осветителе 8 установить красный светофильтр 18, а в осветителе 9 — зеленый светофильтр 14, то частицы серебра в эмульсии будут видны красными на зеленом фоне.

Предмет изобретения

1. Способ изучения следов ядерных частиц в толстослойных эмульсиях с использованием микроскопа с зеркально-линзовыми микрообъективами, отличающийся тем, что, с целью повышения скорости просмотра по площади и вдоль следа, фотопластинку с. эмульсией устанавливают под углом к оптической оси объектива микроскопа и непрерывно перемещают, просматривая весь слой эмульсии по толщине.

2. Способ по п. 1, отлич а ющи йс я тем, что, с целью комбинированного наблюдения в проходящем и отраженном свете, пластинку с эмульсией освещают при помощи двух осветителей, оси которых равно наклонены к плоскости пластинкч, причем углы наклона осветителей равны углу между оптической осью микроскопа и плоскостью пластинки.

¹ 156625

Составитель Ю. М. Ферштман

Техред Т. П. Курилко Корректор М. И. Эльмус

Редактор Богатырева

Типография, пр. Сапунова, 2.

Поди. к печ. 20/VIII — 63 r. Формат бум. 70 >< 108>/ 6 Объем 0,18 изд. л.

Зак. 21 I I/5 Тираж 1250 UeHà 4 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4.