Патент ссср 158218

 

Ым о /й +/ 6

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

1 ЕСПУБЛИК

Опис ник изовгкткния

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ № 158218

Класс 74Ь, 80Ч

МПК G 08с

Заявлено 5.111.1962 (Л 715018/26-10) ГОСЬДА РСТ ВЕН Н Ы И

КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ

ИЗОБРЕТЕНИИ И ОТКРЫТИИ

СССР

УДК

Опубликовано 18.Õ.1963. Бюллетень ¹ 20

ВХ1 ; И1 "-Ц 2

2 ПАТЕНТ, ::;.

ПХРК,*;,"

М. И. Голиков, Л. Н. Романов и К. А, Барано Р . ЛИ-, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ

ТОЛЩИНЫ КРИСТАЛЛОВ, ВЫРАЩИВАЕМЫХ В УСЛОВИЯХ

ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУР И ДАВЛЕНИЙ

Подписная гру/гпа № 255

Предмет изобретения

В известных устройствах для из,lepeIIIIn толщины кристаллов, выращивасмых в условиях высоких температур и давлений, скорость роста кристаллов определяют путем расчета по параметрам режима роста. Эти устройства не обеспечивают необходимой точности, так как процесс выращивания кристаллов недостаточно изучен, и возможность точного измерения параметров отсутствует.

Предлагаемое устройство позволяет контролировать фактический нарост материала и повысить точность измерений. Для этого один конец плунжера датчика соединен с ферромагнитным стержнем, перемещаемым электромагнитом. Второй конец соединен с системой рычагов, связанных со щупом, опирающимся на поверхность исследуемого кристалла.

На чертеже изображено предлагаемое устройство в разрезе.

При включении в обмотку электромагнита 1 постоянного тока магнитное поле, действуя через стенку штуцера 2 из немагнитной стали, втягивает ферромагнитный стержень,3.

Стержень 8 перемещает железньш плунжер 4 индукционного датчика, соединенный с ним вставкой 5 из немагнитного материала, а также тягу б, соединенную шарнирно с рычагом

7. Тяга, действуя на рычаг 7, поворачивает его и рычаг 8, закрепленные на оси 9, до упора рычага 8 в кристалл 10.

Положение рычага 8 в зависимости от толшины кристалла I(/ фиксирует положение плунжера 4 индукционного дифференциального датчика по отношени1о к индукционной катушке 11, что соответствует определенно I э.д.с. на выходе татчп»а. Э..с. замеряе гся прибором типа ЭИВ и ДСР со шкалой, отградуированной в миллиметрах.

После отключения электрического тока подвижная часть прибор» Ilo3 действием сооственного веса устанавливается в нерабочее положение. В случае зависания системы прп попадании в полость прибора механических частиц электромагнит 12 возвращает ее в исходное положение. Поочередное вк/иочение электромагнитов 1 и 12 спосооствует перемещению подвижной части в результате периодической очистки трущихся поверхностей от механических частиц, тормозящих переъ!ещен ие.

Устройство для днстанционногс измерения толщ1шы кристаллов, выращиваемых в условиях высоких температур и давлений, содержащее индукционный дифференциальньш дат1ик перемещений, отл пч а ю щеес я тем, что, с целью поьышения точности измерений, один конец плунжера датчика соединен с фер1«1е I

М 158218

Составитель Н. Г. Рудакова

Редактор Б. С. Нанкииа Тсхр д !. П. Курилко !(оррекзор Т. С. Дрожжииа

1!од и. к печ. 2! Х1 — 63 г. Формат бум. 60",90 !а Обьем 023 изд

3 а и. 2707!1 1 Тираж 750 Цена 4 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Сероза, д. 4

Типографии, пр. Сапунова, 2 ромагнитиым стержнем, перемещаемым электромагнитом, а второй — с системой рычагов, связанных со щупом, опирающимся на повер. :ность исследуемого кристалла.

Патент ссср 158218 Патент ссср 158218 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх