Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок

 

Изобретение относится к магнитометрии , в частности, к магнитооптическим измерениям. Цель - измерение углов отклонения оси легкого намагничивания (ОЛН) от плоскости пленки в диапазоне 0-35°. Устройство, реализующее способ, содержит лазер 1, поляризатор 2, ячейку 3 Фарадея, магнитооптический компенсатор 4 поворота плоскости поляризации, образец 5, магнитную систему 6, анализатор 7, фотоприемник 8, усилитель 9, синхронный детектор 10, усилитель 11 постоянного тока, блок 12 питания, генератор 13 звуковой частоты, образцовые резисторы 14, 15, графопостроитель 16. Способ заключается в том, что путем измерения угла наклона ОЛН к плоскости пленки в диапазоне от 0 до 35° измеряют величину угла фарадеевского вращения на границе двух участков различного наклона кривой намагничивания φ<SB POS="POST">0</SB> , измеряют угол максимального фарадеевского вращения φ<SB POS="POST">макс</SB> и определяют угол α наклона ОЛН по формуле Α = ARCSINφ<SB POS="POST">0</SB>/φ<SB POS="POST">MAKC</SB>. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ.

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) (5g 4 С 01 R 33/04

6ИИВЗИЯ

MTF3Th3- ИАН6%3ИИ

Б! БАЗЯ )-Е,, д

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ МОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ fNHT СССР (21) 4193492/24-21 (22) 11.02.87 (46) 15.09.89. Бюл. У 34 (71) Симферопольский государственный университет им, М.В.Фрунзе (72) Ю.А.Бурым и Н.В.Пронина (53) 621.317.44 (088.8) (56) Службин 10.А. и Темерти Г.Ф. Магнитооптическая установка для снятия петель гистерезиса эпитаксиальных пленок феррит-гранатов. ПТЭ; !983, Р 3, с. 156. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ФЕРРИТ-ГРАНАТОВЫХ ПЛЕНОК (57) Изобретение относится к магнитометрии, в частности к магнитооптическим измерениям. Цель — измерение углов отклонения оси легкого намагничивания (ОЛН) от плоскости йленки в

2 диапазоне 0-35 . Устройство, реализующее способ, содержит лазер 1, поляризатор 2, ячейку 3 Фарадея, магнитооптический компенсатор 4 поворо-. га плоскости поляризации, образец 5, магнитную систему 6, анализатор 7, фотоприемник 8, усилитель 9, синхронный детектор 10, усилитель 11 постоянного тока, блок 12 питания, генератор 13 звуковой частоты, образцовые резисторы 14, 15, графопостроитель

16. Способ заключается в том, что путем измерения угла наклона ОЛН к плоскости пленки в диапазоне от 0 до а

35 измеряют величину угла фарадеевского вращения на границе двух участ- Ф ков различного наклона кривой намаг-

9 ничивания (я0, измеряют угол макси- . мального фарадеевского вращения (макс и определяют угол 0 наклона ОЛН по формуле Ы = атсзь ..пц„/4„„„„ . 2 ил.. б пропускания анализатора и поляризатора сориентированы под углом 90 одна к другой, поэтому при отсутствии вращения плоскости поляризации образцом на фотоприемнике отсутствует сигнал частоты f. С помощью блока

12 питания tмагнитной системы к образцу прикладывается линейно-изменяющееся магнитное поле в заданном диапазоне. При перемагничивании образца происходит вращение плоскости поляризации света, которое приводит к появлению на фотоприемнике сигнала частоты f амплитуда и фаза которого пропорциональны величине и знаку соответственно фарадеевского вращения.

Сигнал частоты f проходит далее через селективный усилитель 9, синхронный детектор 10. Выход синхронного детектора соединен с входом усилителя 11 постоянного тока, нагрузкой которого является соленоид компенсатора 4.

Компенсатор 4 создает в системе вращение плоскости поляризации, обратное по знаку и равное по величине фарадеевскому вращению образца. Таким образом, измеряя ток компенсатора мы можем определить угол фарадеевского вращения с высокой точностью (до 1Ж).

Образцовые резисторы. 14 и .15 включены последовательно соответственно с компенсатором 4 и магнитной системой 6. Подавая на ось Y графопостроителя 16 напряжение с резистора 14, а на ось Х вЂ” с резистора 15, получаем зависимость угла фарадеевского вращения Ср от величины нормального к поверхности образца поля — магнитооптическую петлю гистерезиса.

Способ определения параметров феррит-гранатовых пленок, включающий пропускание перпендикулярно поверхности пленки линейно-поляризованно-го света, воздействие на нее линейно изменяющимся магнитным полем перпендикулярно поверхности пленки, регистрацию зависимости величинЫ угла фарадеевского вращения от величины магнитного поля, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа путем измерения угла наклона оси легкого намагничивания к плосо кости пленки в диапазоне от 0-35

3 1508179

Из о бр е т ение о тиос и тс я к ма гни тометрии, в частности к магнитооптическим измерениям, и может быть использовано для разработки магнитооптичес- g ких устройств, элементной базой которых являются магнитные феррит" гранаToBble пленки с произвольной ориентацией оси легкого намагничивания (ОЛН) . 10

Цель изобретения — измерение углов отклонения ОЛН от плоскости плено ки в диапазоне 0-35

На фиг.1 изображена форма петли гистерезиса, получаемой в случае от- 15 клонения ОЛН от плоскости образца; на фиг.2 — функциональная схема устройства для реализации способа.

Угол Ы отклонения ОЛН от плоскости пленки вычисляют по соотношению уча- 20 стков кривой перемагничивания по формуле о

g. = arcsin(— — "), маке где о — угол фарадеевского вращения 25 в точке излома кривой перемагничивания в полях, блиэ i ких к нулю; Matc — угол фарадеевского вращения при насыщении пленки в пер- 30 пендикулярном поле.

Устройство .представляет собой ав" томатический магнитополяриметр и состоит из лазера 1, поляризатора 2, ячейки 3 Фарадея, магнитооптического компенсатора 4 поворота плоскости поляризации (ячейки Фарадея), образца

5, магнитной системы 6, анализатора

7, фотоприемника 8, через усилитель

9 и синхронный детектор 10 соединен- 40 ного с усилителем 11 постоянного тока, блока 12 питания, генератора 13 звуковой частоты, образцовых резисторов 14, 15 и графопостроителя 16.

Устройство работает следующим об- 45 разом.

Луч лазера 1, проходя через поля4 ризатор 2, попадает на магнитооптический модулятор света (ячейку Фарадея) 3, который питается от генератора 13 звуковой частоты f. Азимут плоскости поляризации выходящего из модулятора света изменяется по синусоидальному закону. Далее свет проходит через магнитооптический компенсатор, поворота плоскости поляризации (ячейку Фарадея), образец 5, находящийся .в магнитной системе 6, анализатор 7 и фотоприемник 8..0си

Формула изобретения

Ф еров.

Со с тавит ель А. Романо в

Техред М. Ходаннч . Корректор M. Самборская

Редактор M. Келемеш

Тираж 714

Заказ 5538/49

Подписное

BI1HHIIH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101

5 15081 измеряют величину угла фарадеевского вращения на границе двух участков различного наклона кривой намагничивания ц,, измеряют угол максимально- 5

79 6

ro фарадеевского вращения (p „и определяют угол е, наклона оси легкого намагничивания по формуле î

Π. = arCSin — — =-.

Чмакс