Диафрагма для фотометрирования излучения от небесных тел и фона неба

 

Изобретение относится к фотометрии и может найти применение в фотометрах для регистрации световых потоков от объектов при наличии фонового излучения, в частности при регистрации световых потоков от космических объектов. С целью сокращения времени измерения от небесных тел и фона неба, за счет обеспечения возможности гидирования объекта без прекращения процесса измерения, в диафрагме прозрачные участки имеют элиптическую форму, при этом непрозрачная пластина и центральная часть одного из прозрачных участков имеют зеркально-отражащую поверхность. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (S1> 4 G 01 1/04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ,И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

Н А BT0PCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4154803/31-25 (22) 02.12.86 (46) 30 ° 09.89 Бюл. Ю 36 (71) Главная астрономическая обсерватория.АН УССР (72) С.И.Приходько (53) 535.242 (088.8) (56) Astronomical society of the Pacific, 1974, v. 8Ь, II ° 511, р ° 336.

Кудзинь А.П. Автоматический звездный электрофотометр астрофизической лаборатории. — Новая техника в астро" номии. И.: изд-во АН СССР, 1963, с. 138. .(54) ДИАФРАГМА ДЛЯ ФОТОИЕТРИРОВАНИЯ

ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ НЕБЕСНЫХ ТЕЛ И ФОНА НЕБА

Изобретение относится к фотометрии и может найти применение в фотометрах для регистрации световых потоков от объектов при наличии фонового излучения, в частности, при регистрации световых потоков от космических объектов ..

Целью изобретения является сокращение времени измерения от небесных тел и фона неба за счет обеспечения возможности гидирования объекта без прекращения процесса измерения.

На фиг.1 изоЬражена диафрагма для фотометрирования излучения от небесных тел и фона неба; на фиг.2 - оптическая схема фотометра.

Диафрагма состоит из непрозрачной зеркально-отражающей пластины 1 с двумя прозрачными участками 2 и 3 эллиптической формы, имеющими равную пло2 (57) ИзоЬретение относится к фотометрии и может найти применение в фотометрах для регистрации. световых потоков от объектов при наличии фонового излучения, в частости при регистрации световых потоков от космических объектов. С целью сокращения времени измерения от неЬесных тел и фона неба, за счет обеспечения возможности гидирования оЬъекта Ьез прекращения процесса измерения, в диафрагме прозрачные участки имеют элиптическую форму, при этом непрозрачная пластина и центральная часть одного из прозрачных участков имеют зеркальноотражающую поверхность. 2 ил. щадь, причем центральная часть 4 участка 3 имеет зеркально.-отражающую поверхность. Пластина 1 устанавливается так, что Ьольшая ось эллипса наклонена под острым углом оС к оптической оси телескопа 5, где устанавливается диафрагма, соединенная жесткой тягой с якорем электромагнита 6, причем якорь электромагнита имеет два 1 © фиксированных положения, соответствующих двум положениям диафрагмы.

Фотометр содержит также фильтры

7, линзу 3 поля и фотоприемник 9.

Окуляр 10 подсмотра позволяет гидировать оЬъект в плоскости диафрагмы фотометра. Переключение двух участков диафрагмы происходит с помощью якоря электромагнита.

При осуществлении измерений световых потоков изображение объекта прое1599

Таким образом, предлагаемая конструкция позволяет обеспечить гидирование объекта без прекращения процесса измерения, что приводит к сокращению времени, измерения фона неба.

Для обеспечения точности соответствия площадей прозрачных участков диафрагмы дифрагму можно изготовить путем напыления зеркального слоя на прозрачную подложку.

Составитель Н. Стукова

Техред М, Дидык Корректор С.Черни

Редактор К.Крупкина

Заказ 5892/44 Тираж 466 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035,, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул.Гагарина, 101

3 151 цируется в плоскость диафрагмы. Угол наклона диафрагмы выбирается в зависимости от конструктивных особенностей системы гидирования фотометра, причем при данном угле наклона экс- центриситет эллипса должен быть таким, чтобы в плоскости, перпендикулярной оптической оси, проекция эллипса была в риде окружности. Для измерения сигнала от объекта вместе с фоном на оптическую ось устанавливается участок 2, при этом в гидирующую систему можно видеть область пространства в окрестностях объекта, что гарантирует фиксацию положения объекта на оптическую ось устанавливается участок 3, причем центральная часть 4 закрывает измеряемый объект.

Изображение объекта в гидирующей системе видно в плоскости центральной части 4 диафрагмы.

Формула изобретения

Диафрагма для фотометрирования излучения от небесных тел и фона неба, представляющая собой непрозрачную. пластину с двумя прозрачными участ15 ками, площади которых одинаковы, причем в одном из участков центральная часть непрозрачна, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью сокращения времени измерения от небесных

20 тел и фона неба за счет обеспечения возможности гидирования объекта без прекращения процесса измерения, прозрачные участки и центральная, часть одного из них имеют эллиптическую форму, а непрозрачная пластина и центральная часть одного из прозрачных участков выполнены зеркальноотражающими.

Диафрагма для фотометрирования излучения от небесных тел и фона неба Диафрагма для фотометрирования излучения от небесных тел и фона неба 

 

Похожие патенты:

Фотометр // 1509616
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в измерениях, требующих высокой точности определения рассеивающих, отражательных и поглощающих свойств различных объектов в условиях нестабильности возбуждающего источника света

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для спектральной селекции светового излучения

Изобретение относится к приборостроению, а именно к фотометрическим устройствам сравнения

Изобретение относится к фотоэлектрическим устройствам, конкретнее к устройствам, предназначенным для фотометрических измерений освещенности , яркости

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для управления подвижными объектами в мелиорации, геодезии, строительстве

Изобретение относится к автоматическим устройствам управления землероймлми и планировочными машинами с помощью оптического луча и также может найти применение в системах контроля линейных величин, например в измерительной технике

Фотометр // 1435953

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к приборам, предназначенным для квазиодновременного исследования двух потоков излучения

Изобретение относится к оптическим методам контроля, в частности изменений объектов решетчатой структуры, например намотанной на решетку пряжи

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх