Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер
Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер, включающий регистрацию осколков деления одновременно двумя детекторами, один из которых - ионизационная камера, на катод которой нанесен слой спонтанно делящегося вещества, нанесение слоя исследуемого вещества поверх спонтанно делящегося и повторную регистрацию осколков деления обоими детекторами, отличающийся тем, что, с целью удешевления, упрощения и повышения производительности способа, в качестве второго детектора используют полупроводниковый детектор, рабочая поверхность которого является катодом ионизационной камеры, определяют отношение 
1 числа осколков, зарегистрированных одновременно обоими детекторами, к числу осколков, зарегистрированных только полупроводниковым детектором, определяют аналогичное отношение 2 после нанесения слоя исследуемого вещества, а поглощающую способность этого вещества по отношению к осколкам деления определяют по формуле 
