Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения

 

Изобретение относится к устройствам для градуировки фотометрических шкал оптических приборов. Целью изобретения является расширение диапазона градуировки фотометрических шкал спектрометрических приборов в интервале коэффициентов пропускания меньше 5%. Устройство для градуировки приборов содержит источник излучения 1, которое проходит через прибор 2 и круглую диафрагму 3, фокусируется в фокальной плоскости 4 прибора 2, в которой формуются основной и вторичные дифракционные максимумы с известной рассчитываемой относительной интенсивностью и попадает на приемник излучения 5, установленной с возможностью перемещения в фокальной плоскости 4 прибора 2 перпендикулярно его оптической оси 6. При перемещении приемника 5 сигнал регистрируется системой 7, а шкала между отсчетами разбивается линейно. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А (19) (И) (51) 4 0 02 В 27/32

СПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСМОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPblTHRM

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4179120/24-10 (22) 12.01,87 (46) 23.12.89, Бюл. h" 47 (72) Т. С. Саамова, С. Л. Стрежнев и Л.M.Ìàíñóðoâà (53) 543. 27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1109601, кл. Г 01 N 21/61, 23 ° 08.84.

Борн M., Вольф Э. Основы оптики,M.. 1970, с. 432-433, 471, 477. (54) УСТРОЙСТВО PflSI ГРРЛУИРОВКИ

СПЕКТРОфОТОМЕТРИЧЕСКИХ ПРИБОРОВ

ПРЕИМУЕ,ЕCTBЕHHO С ПРИЕМНИЮМ ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к устройствам для градуировки фотометрических шкал оптических приборов, Целью изобретения является расширение диа2 пазона градуировки фотбметрических ,шкал спектрометрических приборов в интервале коэффициентов пропускания меньше 5Ф. Устройство для градуировки приборов содержит источник излучения 1, которое проходит через прибор 2 и круглую диафрагму 3, фокусируется в фокальной плоскости 4 прибора 2, в которой формуются основной и вторичные дифракционные максимумы с известной рассчитываемой относительной интенсивностью, и попадает на приемник излучения 5, установленный с возможностью перемещения в фокальной плоскости 4 прибора 2 перпендикулярно его оптической оси 6. При перемещении приемника 5 сигнал регистрируется системой 7, а шкала между отсчетами разбивается линейно. 2 ил.

1531О61

И;г бр ение относится к устройствам для rрадуировки фотометрических шкал опти ческих приборов, например спектрофотометров, спектрометров и т.п. (!ег ь изобретения - расширение диапазона градуировки фотометрических шкал спектрометрических приборов в интерваг1е коэффициентов пропускания меньше 51.

На фиг.1 показана принципиальная схема устройства для градуировки шкал приборов, на фиг.2 - взаимосвязь между фотометрической шкалой прибора и регистрируемой интенсивностью дифракционных максимумов.

Устройство (<:èã.1) содержит источник 1 излучения, спектрометрический прибор 2, круглую диафрагму 3, устанавливаемую перед фокальной плоскостью 4 прибора 2, причем диаметр d диафрагмы много меньше фокусного f расстояния прибора (d c(f), приемник

5 излучения, установленный с возможностью перемещения в фокальной плоскости 4 прибора 2 перпендикулярно его оптической оси 6, и регистрирующую систему 7.

Фотометрическая шкала 8 (фиг,2) содержит основной дифракционный мак"

30 симум 9 и вторичные дифракционные максимумы 10, Устройство работает следуюцим образом.

Излучение от источника 1 иэлуче- З5 ния с длиной волны, проходит через прибор ?, круглую диафрагму 3 и фокусируется в фокальной плоскости i прибора. При этом в фокальной плоскости

4 наблюдается дифракционная картина, состоящая из ocHQBHîãо дифракционного максимума 9 с интенсивностью I и вторичных дифракционных максимумов 10 с интенсивностью 1„, где n— номер вторичного дифракционного максимума ° Приемником 5 излучения и регистрирующей системой 7 регистрируют интенсивность основного максимума 9 и устанавливают на градуируемой фотометрической шкале 8 отсчет 100"ь. 3атем, перемещая приемник 5 излучения в фокальной плоскости 4 прибора перпендикулярно его оптической оси 6, последовательно регистрируют вторичные дифракционные максимумы 10, устанавливая на градуируемой фотометрической шкале 8 отсчеты, соответствующие относительной интенсивности I„/I регистрируемого вторичного максимума 10. Относительная интенсивность

It,/I определяется лишь дифракцией на круглой диафрагме 3, не зависит от длины волны, рассчитывается теоретически с высокой точностью и используется в качестве эталонов пропускания. Шкала между отсчетами разбивается линейно.

Формула и 3 о б р е т ения

Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения, содержащее источник излучения, и регистрирующую систему, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения диапазона градуировки, дополнительно введена круглая диафрагма, установленная перед фокальной плоскостью прибора с диаметром d Cc f, где f - фокусное расстояние прибора, при этом приемник излучения установлен с возможностью перемещения в Фокальной плоскости прибора.

1531В61

4öà Я

Составитель В. Сячинов

Техред М.Ходанич Корректор Т.Малец

Редактор Н,Тупица

Заказ 1953/48 Тираж 513 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113В35, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат нПатент", г. Ужгород, ул. Гагарина,101

Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области метрологии и может быть использовано для аттестации штриховых мер линейных и радиальных дифракционных решеток

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано в технике и медицинской практике для точного наведения пучка рентгеновских лучей при помощи оптической системы на определенную точку исследуемого объекта

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для огнестрельного оружия

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для охотничьих ружей
Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано для изготовления круговых оптических шкал. Согласно способу заготовку обезжиривают, чистят, производят первую термообработку и наносят позитивный фоторезист на основе диазсоединений. Производят вторую термообработку, экспонирование и проявление с последующей промывкой вращающейся заготовки водой. На заготовку наносят в вакууме хромовое маскирующее покрытие и удаляют защитный фоторезистивный слой органическим растворителем. При экспонировании производят изменение амплитуды второй гармоники зависимости угловой погрешности расположения осей штрихов путем изменения угла наклона плиты установки экспонирования относительно оси падающего актиничного излучения. При синтезе используемого фотошаблона осуществляют изменение ее же фазы таким образом, чтобы вторая гармоника зависимости угловой погрешности расположения диаметров осей штрихов, обусловленная фотошаблоном, находилась в противофазе второй гармоники зависимости угловой погрешности расположения диаметров осей штрихов, вносимой операцией экспонирования. Технический результат - Уменьшение накопленной погрешности расположения диаметров осей штрихов.
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается способа изготовления многофункциональных оптических прицельных сеток. Способ включает в себя чистку подложки, нанесение на подложку элементов топологии оптической шкалы в световой зоне сетки методом лазерной абляции с использованием инфракрасного фемтосекундного импульсного лазера, запуск, поправку, чистку органическим растворителем, нанесение металлического покрытия из алюминия или серебра. Вне световой зоны сетки с помощью лазера выполняют реперные метки. Затем по реперным меткам выставляют положение точки фокусировки излучения лазера и на металлическом покрытии методом лазерной абляции наносят элементы топологии коллиматорной шкалы сетки на глубину металлического слоя. Технический результат заключается в обеспечении возможности изготовления сеток произвольной топологии, повышении коэффициента отражения сетки и упрощении способа изготовления.
Наверх