Магнитный дефектоскоп

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано при визуализации качества структуры изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение надежности работы за счет снижения размеров, потребляемой мощности и улучшения технических характеристик. После намагничивания контролируемого изделия результирующее магнитное поле регистрирует магниточувствительный узел 3. После усиления и селекции от помех строка информации фиксируется в регистре 6, а затем отображается в соответствующем месте матрицы жидкокристаллического индикатора 8. При последовательном переключении счетчика 11 осуществляются коммутация элементов обеих матриц и отображение структуры контролируемого объекта на экране. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 5 G 01 N 27/90

) «1 (1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЬПИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР,1 (21) 4407235/25-28 (22) 08.04.88 (46) 07.01.90. Бюл. К- 1 (71) Обнинский институт атомной энергетики (72) А.А.Абакумов, В.Н.Ияздриков и Е,Г,Типикин (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11« 907483, кл. G 01 R 33/12, 1982.

Авторское свидетельство СССР

11« 1270669, кл. С Ol N 27/82, 1986, (54) МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП .(57) Изобретение относится к области . неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано при визуализации качества структуры

„„SU„„1534480 . А1

2 изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение надежности работы за счет снижения размеров, потребляемой мощности и улучшение технических характеристик.

После намагничивания контролируемого изделия результирующее магнитное поле регистрирует магниточувствительный узел 3. После усиления и селекции от помех строка информации фиксируется в регистре 6, а затеи отображается в соответствующем месте матрицы жидкокристаллического индикатора 8 ° Прн последовательном переключении счетчика 11 осуществляются коммутация эле- ментов обеих матриц и отображение структуры контролируемого объекта на экране. 1ил, 1534480

Фор мула и з об р е т ения

Составитель Ю. Глазков

Редактор Н.Тупица Техред М.Ходанич

КорректорВ.Кабаций

Заказ 43 Тираж 503 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r Ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано при визуализации качества структуры изде5 лий из ферромагнитных материалов..

Цель изобретения — повышение надежности работы за счет снижения размеров, потребляемой мощности и улучшения технических характеристик. 10

На чертеже приведена структурная схема дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит блок 1 намагничивания, последовательно соединенные блок 2 ключей, магниточувстви- 15 тельный узел 3, блок 4 видеоусилителей, блок 5 пороговых элементов, регистр 6, формирователь 7 напряжений, матрицу 8 жидкокристаллических индикаторов и формирователь 9 напряжений, 20 подключенный к второму входу матрицы 8 жидкокристаллических индикаторов.

Кроме того, устройство содержит последовательно соединенные генератор

10 импульсов, выход которого соединен 25 с вторым входом регистра 6, счетчик

11, второй выход которого подкпючен к входам формирователей 7 и

9 напряжения, и дешифратор 12, второй вход которого подключен к генератору 10 импульсов, а выход соединен с входом блока 2 ключей.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Блок 1 намагничивания создает маг"

Нитное поле в исследуемом объекте (не показан), на поверхности которого установлен магниточувствительный узел 3.

В соответствии с состояниями счетчика 11 дешифратор 12 по сигналу от генератора 10 импульсов коммутирует в блоке 2 ключей адресные столбцы магниточувствительного узла 3. Полученные информационные сигналы считываются блоком 4 видеоусилителей, усиливаются и после фильтрации блоком

5 пороговых элементов поступают в регистр 6. Состояние регистра 6 и счетчика 11 определяет состояние формирователей 7 и 9 напряжения, а следовательно, и индикацию матрицы 8 жидкокристаллических индикаторов.

Магнитный дефектоскоп, содержащий блок намагничивания и последовательно соединенные блок ключей, магниточувствительный узел, блок видеоусилителей и блок пороговых элементов, отличающийся тем, что, с целью повьш ения надежности работы, он снабжен последовательно соединенными генератором импульсов, регистром, к второму входу которого подключен блок пороговых элементов, первым формирователем напряжений и матрицей жидкокристаллических индикаторов, последовательно соединенными счетчиком, вход которого подключен к генератрру импульсов, и дешифратором, второй вход которого подключен к генератору импульсов, а выход соединен с входом блока ключей и вторым формирователем напряжений, выход которого подключен к матрице жидкокристаллических индикаторов, а вход объединен с входом первого формирователя напряжения и подключен к выходу счетчика.

Магнитный дефектоскоп Магнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроении при определении качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано для визуализации структуры электропроводящих материалов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано в промышленности для выявления несплошностей в металле

Изобретение относится к неразрушающему контролю методами вихревых токов и может быть использовано в промышленности для контроля электропроводных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий методом регистрации магнитных шумов и может быть использовано в промышленности при анализе качества ферромагнитных изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю качества изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в промышленности для обнаружения и распознавания объектов, отличающихся по своим электрическим свойствам, например для обнаружения внутренних неоднородностей в диэлектриках

Изобретение относится к неразрушающему контролю

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к неразрушающему контролю качества изделий, подвергаемых поверхностному термоупрочнению, и может быть применено в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх